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O analisador de cristais por raios X da série TDF oferece desempenho excepcional em análises de microestrutura, suportando orientação de monocristais, detecção de defeitos e medição de tensões. Com um design de tubo vertical, operação em múltiplas janelas e controle PLC importado, garante alta precisão e conformidade com as normas de segurança (radiação).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide
A espectroscopia de difração de raios X analisa principalmente o estado cristalino e a microestrutura dos materiais, e existem dois métodos de medição de difração de raios X para análise de cristal.