Em meio aos avanços e inovações tecnológicas em andamento na ciência global de materiais, a indústria de fabricação de instrumentos científicos da China vem ganhando destaque de forma constante. O Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF, desenvolvido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd., representa um exemplo líder de instrumentação analítica de ponta produzida internamente. Ele vem ganhando força nos setores de pesquisa científica e industrial globais, justamente devido ao seu desempenho excepcional e precisão confiável. O Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF é um importante instrumento analítico projetado para investigar a microestrutura interna de substâncias. Suas principais aplicações abrangem orientação de cristais, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede e medição de tensão residual. Seja analisando a estrutura de placas e barras, ou decifrando a estrutura de materiais desconhecidos e discordâncias de monocristais, este equipamento fornece suporte de dados preciso e confiável. Em campos modernos como ciência dos materiais, fabricação de semicondutores, desenvolvimento de novas energias e indústria farmacêutica, uma compreensão profunda da microestrutura dos materiais tornou-se a pedra angular do progresso tecnológico. A Série TDF foi projetada para esse propósito – capacitando cientistas e engenheiros em todo o mundo a desvendar os segredos das propriedades dos materiais. Carcaça de tubo vertical e design de quatro portas O Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF incorpora um design exclusivo de alojamento tubular vertical com quatro portas utilizáveis ​​simultaneamente. Este design inovador aumenta significativamente a eficiência operacional, permitindo aos usuários alternar rapidamente entre múltiplos canais experimentais e economizar tempo valioso de pesquisa. Controle de precisão com tecnologia PLC Equipado com um sistema de controle PLC importado, o Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF demonstra excelente desempenho em precisão de controle e capacidade antiparasitária. Este sistema não só permite o controle preciso de operações de comutação e elevação de alta tensão, como também possui uma função automática de treinamento do tubo de raios X, prolongando efetivamente a vida útil do tubo de raios X e de todo o instrumento. Para cenários experimentais que exigem operação contínua e de longo prazo, essa confiabilidade reduz substancialmente o risco de falha do equipamento e potencial perda de dados. Sistema de geração de alta tensão potente e estável O gerador de alta tensão da série TDF tem um desempenho excepcionalmente bom, oferecendo uma tensão de tubo ajustável de 10 a 60 kV e uma faixa de corrente de tubo de 2 a 80 mA, com uma potência de saída nominal de até 5 kW. A estabilidade da tensão e da corrente do tubo atinge 0,3‰, garantindo dados experimentais altamente reprodutíveis. O sistema também é equipado com múltiplas funções de proteção (por exemplo, sem tensão, sem sobretensão, sem mA, sobrecarga de energia, sem água, superaquecimento do tubo de raios X), proporcionando garantia de segurança abrangente. Configurações versáteis de tubos de raios X Para acomodar diversas necessidades analíticas, a Série TDF oferece uma escolha de vários materiais alvo, incluindo Cu, Co, Fe, Cr, Mo e W. Com uma potência nominal de 2,4 kW e opções de ponto focal de foco pontual (1×1) e foco de linha (1×10), os usuários podem selecionar a configuração mais adequada com base nas características da amostra e nos objetivos analíticos. Projeto de proteção de segurança abrangente O desempenho em segurança é outro recurso de destaque do Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF. Utilizando vidro de chumbo de alta densidade e alta transparência como blindagem de proteção contra raios X, o vazamento de radiação externa é mantido em ≤ 0,1 μSv/h – um nível bem abaixo dos padrões internacionais de segurança – garantindo proteção confiável para os operadores. Configurações para diversos cenários de aplicação O Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF é compatível com diversas câmeras de raios X, incluindo câmeras Laue (pós grandes/pequenos), câmeras de tela plana, estágios de amostra 3D e câmeras multifios (fabricadas nos EUA). Este esquema de configuração flexível permite que o instrumento se adapte a uma ampla gama de requisitos, desde pesquisa fundamental até análise de materiais de ponta. Para aplicações que exigem posicionamento de alta precisão, o Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF oferece uma velocidade máxima de posicionamento de até 1500°/min, garantindo aquisição de dados rápida e precisa. Seja para analisar materiais desconhecidos em pesquisas científicas ou para monitoramento de qualidade na produção industrial, a Série TDF oferece uma solução confiável. À medida que campos de ponta como novos materiais, novas energias e semicondutores continuam a se desenvolver rapidamente, a demanda por análise de microestrutura de materiais cresce e a precisão necessária aumenta constantemente. O Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF continuará a evoluir e se atualizar para atender às mais recentes necessidades das comunidades científica e industrial globais. A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. mantém seu compromisso com sua filosofia de inovação tecnológica e qualidade em primeiro lugar. Continuaremos a fornecer produtos e serviços de qualidade superior aos usuários globais, trabalhando em conjunto com cientistas e engenheiros do mundo todo para, em conjunto, avançar na ciência dos materiais e aprimorar os padrões de qualidade industrial. Convidamos parceiros e usuários globais a consultar e discutir oportunidades de colaboração. Descubra mais sobre os detalhes técnicos e os casos de aplicação do Analisador de Cristais de Raios X da Série TDF. Vamos nos unir para explorar os mistérios do mundo microscópico dos materiais e, juntos, impulsionar a inovação tecnológica e o progresso industrial!

O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda adota tecnologia avançada de difração de raios X, permitindo a detecção não destrutiva de informações microestruturais em diversos materiais. Seja para orientação de cristais individuais, inspeção de defeitos, medição de parâmetros de rede ou análise de tensão residual, este instrumento fornece dados de teste precisos e confiáveis, oferecendo suporte sólido para pesquisa de materiais e controle de qualidade. O instrumento é equipado com um gerador de raios X altamente estável que proporciona um desempenho excepcional. A tensão do tubo pode ser ajustada com precisão na faixa de 10 a 60 kV, e a corrente do tubo pode ser regulada de 2 a 60 mA, com estabilidade de no máximo ± 0,005%. Isso garante resultados de teste altamente repetíveis e precisos, proporcionando aos pesquisadores garantia de dados confiáveis. O Analisador de Cristais de Raios-X da Dandong Tongda integra controle inteligente e proteção de segurança abrangente. Ele possui um sistema de controle automático PLC importado, permitindo medições automáticas temporizadas sem supervisão. O sistema de proteção de segurança multinível inclui proteções contra ausência de pressão, ausência de corrente, sobretensão, sobrecorrente, sobrecarga de energia, ausência de água e superaquecimento do tubo de raios-X, garantindo a segurança dos operadores. O analisador de cristais de raios-X da série TDF adota um invólucro de tubo vertical com quatro janelas que podem ser usadas simultaneamente. Ele utiliza tecnologia de controle PLC importada, que oferece alta precisão e fortes capacidades antiparasitárias, garantindo a operação confiável do sistema. O PLC controla a comutação e o ajuste de alta tensão e inclui uma função de treinamento automático para o tubo de raios-X, estendendo efetivamente a vida útil do tubo de raios-X e do instrumento. O invólucro de proteção contra radiação do instrumento é construído com vidro de chumbo de alta densidade e alta transparência, com vazamento de radiação externa muito abaixo dos padrões nacionais de segurança, permitindo que os pesquisadores conduzam estudos experimentais em um ambiente seguro. Como uma empresa nacional de alta tecnologia, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. possui um sistema abrangente de gestão da qualidade e uma equipe técnica de P&D. Seus produtos não apenas atendem às demandas do mercado interno, mas também são exportados para diversos países e regiões, demonstrando a força e a capacidade da fabricação de instrumentos científicos da China. O Analisador de Cristais de Raios X da Dandong Tongda, com seu excelente desempenho e qualidade confiável, tornou-se um poderoso auxiliar na área de análise de materiais. Ele auxilia pesquisadores e engenheiros a desvendar as camadas do mundo material e explorar possibilidades ainda mais desconhecidas.

O analisador de cristais por raios X opera com base na lei de Bragg, medindo padrões de difração para determinar a estrutura cristalina. Os principais componentes incluem tubo de raios X (2,4 kW, múltiplos alvos), cristal espectroscópico, detector e goniômetro. A série TDF apresenta operação com 4 janelas, controle PLC e alinhamento automático do tubo. É amplamente utilizada em ciência dos materiais, química, biologia e geologia para análise estrutural.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala e instrumento de raios X usado para estudar a microestrutura interna de materiais. É usado principalmente para orientação de cristal único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensão residual, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristal único.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. É usado principalmente para orientação de cristais simples, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristais simples.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de raios X em larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. Ele é usado principalmente para orientação de cristais únicos, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e discordâncias de cristais únicos. O analisador de cristais de raios X da série TDF adota uma luva de tubo vertical e quatro janelas podem ser usadas simultaneamente. O analisador de cristal de raios X da série TDF adota tecnologia de controle PLC importada, com alta precisão de controle e bom desempenho anti-interferência, o que pode atingir uma operação confiável do sistema. O PLC controla o interruptor de alta tensão, elevação e tem a função de treinar automaticamente o tubo de raios X, estendendo efetivamente a vida útil do tubo de raios X e do instrumento de raios X.

O analisador de cristal de raios X da série TDF é um instrumento de raios X de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. Ele utiliza o princípio de interação entre raios X e cristal para determinar o arranjo atômico dentro do cristal analisando o padrão de difração de raios X. Usado principalmente para orientação de cristal único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensão residual, estudo da estrutura de placa e haste, investigação da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristal único. O analisador de cristal de raio X, como um instrumento de raio X, fornece informações valiosas para pesquisa em ciência de materiais e outros campos relacionados. Com o avanço contínuo da tecnologia e a expansão de aplicações, o analisador de cristal de raio X continuará a desempenhar um papel importante na pesquisa científica e na produção industrial.

O acessório de bateria in situ é um componente dos acessórios do difratômetro de raios X. Os acessórios de bateria in situ são amplamente utilizados em sistemas eletroquímicos que contêm materiais compostos, como carbono, oxigênio, nitrogênio, enxofre e inserções metálicas. Faixa de teste: 0,5-160 graus Celsius Resistência à temperatura: 400 ℃ Tamanho da janela de berílio (filme de poliéster): diâmetro 15 mm (personalizável); espessura 0,1 mm (personalizável) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é um fabricante profissional de difratômetros de raios X、Atacadista de analisadores direcional de raios X、Atacadista de analisadores de cristal de raios X série X。

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é um fabricante profissional de produtos de raios X, com duas séries principais de produtos: instrumentos de análise de raios X e instrumentos de teste não destrutivos de raios X. E em 2013, tornou-se a unidade de empreendimento do principal instrumento científico nacional e desenvolvimento de equipamentos, projeto especial de difratômetro de cristal único de raios X do Ministério da Ciência e Tecnologia da China. Nossa empresa adere aos princípios de cliente em primeiro lugar, produto em primeiro lugar e serviço em primeiro lugar, insiste em pessoas orientadas e tem uma forte equipe científica e tecnológica. Estamos comprometidos em fornecer aos usuários produtos de alta tecnologia da mais alta qualidade com tecnologia avançada e fornecer forte suporte e serviços com consultoria técnica eficiente e instituições de serviço pós-venda.

A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. realiza um evento de formação de equipe todo verão para focar na sobrevivência e desenvolvimento dos funcionários, implementar cuidados humanísticos que cuidem, valorizem e respeitem as pessoas e estimulem a coesão, entusiasmo e vitalidade dos funcionários. A Tongda Technology Company é uma fabricante profissional de instrumentos de análise de raios X. A empresa atualmente possui difratômetros de raios X da série TD, difratômetros de cristal único de raios X, difratômetros de mesa de raios X, analisadores de cristais de raios X e outros produtos. O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de estresse macroscópico ou microscópico, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme.