O acessório de bateria in situ é um componente dos acessórios do difratômetro de raios X. Os acessórios de bateria in situ são amplamente utilizados em sistemas eletroquímicos que contêm materiais compostos, como carbono, oxigênio, nitrogênio, enxofre e inserções metálicas. Faixa de teste: 0,5-160 graus Celsius Resistência à temperatura: 400 ℃ Tamanho da janela de berílio (filme de poliéster): diâmetro 15 mm (personalizável); espessura 0,1 mm (personalizável) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é um fabricante profissional de difratômetros de raios X、Atacadista de analisadores direcional de raios X、Atacadista de analisadores de cristal de raios X série X。

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é um fabricante profissional de produtos de raios X, com duas séries principais de produtos: instrumentos de análise de raios X e instrumentos de teste não destrutivos de raios X. E em 2013, tornou-se a unidade de empreendimento do principal instrumento científico nacional e desenvolvimento de equipamentos, projeto especial de difratômetro de cristal único de raios X do Ministério da Ciência e Tecnologia da China. Nossa empresa adere aos princípios de cliente em primeiro lugar, produto em primeiro lugar e serviço em primeiro lugar, insiste em pessoas orientadas e tem uma forte equipe científica e tecnológica. Estamos comprometidos em fornecer aos usuários produtos de alta tecnologia da mais alta qualidade com tecnologia avançada e fornecer forte suporte e serviços com consultoria técnica eficiente e instituições de serviço pós-venda.

A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. realiza um evento de formação de equipe todo verão para focar na sobrevivência e desenvolvimento dos funcionários, implementar cuidados humanísticos que cuidem, valorizem e respeitem as pessoas e estimulem a coesão, entusiasmo e vitalidade dos funcionários. A Tongda Technology Company é uma fabricante profissional de instrumentos de análise de raios X. A empresa atualmente possui difratômetros de raios X da série TD, difratômetros de cristal único de raios X, difratômetros de mesa de raios X, analisadores de cristais de raios X e outros produtos. O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de estresse macroscópico ou microscópico, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme.