Nas áreas de ciência dos materiais e testes industriais, cada pequena mudança na estrutura cristalina pode determinar as propriedades finais de um material. Hoje, um instrumento de precisão que incorpora a essência da P&D da Dandong Tongda Science and Technology — o Difratômetro de Raios X TD-3500 — está abrindo uma nova janela para o mundo microscópico para pesquisadores e inspetores industriais com seu desempenho excepcional e design inteligente. Evolução através do artesanato e da tecnologia Os difratômetros da série TD incorporam anos de acumulação tecnológica da Tongda Science and Technology, evoluindo continuamente com o tempo. Como o "padrão ouro" para análise de materiais, a tecnologia de difração de raios X permite análises estruturais abrangentes de amostras em pó, a granel ou em película fina: desde análises de fase qualitativas e quantitativas, análise da estrutura cristalina e análise da estrutura do material, até análises de orientação, medição de tensões macro/micro, granulometria e determinação da cristalinidade — o TD-3500 faz tudo isso. Núcleo Inteligente, Estável e Confiável A principal vantagem do Difratômetro de Raios X TD-3500 reside na utilização de um sistema de controle PLC importado da Siemens. Este design inovador confere ao instrumento características excepcionais, como alta precisão, alta exatidão, excelente estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, operação intuitiva e funcionalidade inteligente, permitindo que se adapte com flexibilidade às necessidades de teste e pesquisa de diversos setores. O gerador de raios X oferece duas opções: geradores de estado sólido de alta frequência e alta tensão ou geradores de linha de frequência (工频), com alta automação, taxas de falhas extremamente baixas, forte capacidade antiparasitária e excelente estabilidade do sistema. O sistema controla automaticamente o interruptor do obturador, ajusta a tensão e a corrente do tubo e inclui uma função de treinamento automático do tubo de raios X. O monitoramento em tempo real por meio de uma tela sensível ao toque reduz significativamente a complexidade operacional. Controle inovador, operação revolucionária Em comparação com os circuitos tradicionais de microcomputadores de chip único, a tecnologia de controle PLC usada no TD-3500 oferece vários avanços: Controle de circuito simples para fácil depuração e instalação O design modular permite que os usuários realizem a manutenção e a depuração por conta própria, reduzindo significativamente os custos Forte capacidade de expansão para fácil adição de vários acessórios funcionais sem modificações de hardware Tela sensível ao toque em cores reais para interação homem-máquina, operação amigável e exibição intuitiva de informações sobre falhas Medição de precisão, segurança garantida O goniômetro da série TD utiliza transmissão de rolamento importada de alta precisão e é equipado com um servo sistema de acionamento vetorial de malha fechada completa de alta precisão. O acionamento inteligente inclui um microprocessador RISC de 32 bits e um codificador magnético de alta resolução, capaz de corrigir automaticamente erros de posição de movimento por minuto, garantindo alta precisão e exatidão dos resultados de medição, com reprodutibilidade angular de até 0,0001 grau. Para maior segurança, o TD-3500 adota uma estrutura de eixo oco com trava eletrônica de porta de chumbo, proporcionando dupla proteção. A janela do obturador é conectada à porta de chumbo — quando a porta de chumbo abre, o obturador fecha automaticamente, garantindo total segurança ao operador. Configuração flexível, compatibilidade abrangente O instrumento oferece duas opções de detectores — contador proporcional (PC) ou contador de cintilação (SC) — e diversas opções de tubos de raios X, incluindo tubos de vidro, cerâmica corrugada e metalocerâmica, atendendo a diferentes cenários de aplicação e requisitos de orçamento. O Difratômetro de Raios X TD-3500 não é apenas um instrumento analítico de alto desempenho, mas também um reflexo da busca incansável da Tongda Science and Technology pela qualidade. Ele desempenha discretamente um papel vital em laboratórios de todo o país, apoiando a inovação científica e o controle de qualidade, tornando-se o parceiro analítico mais confiável para cientistas e engenheiros. Quer você esteja envolvido no desenvolvimento de novos materiais, análise de recursos minerais, controle de qualidade farmacêutica ou testes de materiais metálicos, o TD-3500 pode fornecer suporte de dados preciso e confiável, ajudando você a descobrir mais possibilidades no mundo microscópico. Explore o desconhecido com o TD-3500 — Deixe a Tongda Science and Technology trabalhar com você para descobrir os mistérios da ciência dos materiais.

Nas áreas de ciência dos materiais e inspeção industrial, a análise de difração de raios X altamente eficiente e precisa sempre foi um suporte fundamental para avanços científicos e controle de qualidade. O difratômetro de raios X da série TD-3700 redefine os limites de desempenho dos equipamentos de difração com diversas tecnologias inovadoras, fornecendo uma solução eficiente sem precedentes para pesquisas acadêmicas, P&D corporativo e aplicações de controle de qualidade. A sinergia multidetectora inaugura uma nova era de análise de alta velocidade A série TD-3700 supera as limitações dos detectores tradicionais, oferecendo uma variedade de opções, incluindo detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais e detectores SDD. Comparado aos detectores convencionais de cintilação ou proporcionais, ele aumenta a intensidade do sinal de difração em dezenas de vezes, capturando padrões de difração de alta sensibilidade e alta resolução em ciclos de amostragem extremamente curtos e melhorando significativamente a eficiência da saída de dados. Combinados com a tecnologia híbrida de contagem de fótons, os detectores operam sem ruído, suprimem eficazmente o fundo de fluorescência e demonstram excelente resolução de energia e desempenho de relação sinal-ruído, tornando-os particularmente adequados para a análise de amostras complexas e espécimes vestigiais. Modos de difração/transmissão dupla expandem os limites da aplicação O instrumento não apenas suporta varredura de difração convencional, como também introduz, de forma inovadora, um modo de transmissão. Este modo oferece resolução significativamente maior do que o modo de difração, tornando-o especialmente adequado para aplicações de ponta, como análise de estrutura cristalina e pesquisa de nanomateriais. Já o modo de difração, com sua estabilidade de sinal ultra-alta, é ideal para identificação de fases de rotina. Outra grande vantagem do modo de transmissão é o suporte para testes de amostras vestigiais, aliviando significativamente os desafios da preparação de amostras e a disponibilidade limitada de amostras. Isso abre novas possibilidades para o desenvolvimento farmacêutico, análise geológica, identificação de patrimônio cultural e outras áreas. Design modular e inteligente para uma plataforma experimental confiável e fácil de usar O TD-3700 adota um design de hardware modular, onde todos os componentes são plug-and-play sem necessidade de calibração, reduzindo significativamente os custos de manutenção e as taxas de falhas. Seu sistema de aquisição de dados com um clique e software personalizado aumentam significativamente a conveniência operacional, permitindo que até mesmo usuários não especializados comecem a trabalhar rapidamente. Uma interface touchscreen permite o monitoramento em tempo real do status do instrumento, tornando o progresso experimental claro à primeira vista. A segurança também é inquestionável: um dispositivo eletrônico de intertravamento de porta com chumbo oferece dupla proteção, enquanto um gerador de raios X de alta frequência e alta tensão garante um desempenho estável e confiável. Combinado com uma unidade de controle antiparasitário, ele mantém a confiabilidade operacional a longo prazo, garantindo a segurança do usuário. Nascido para a Era: Uma Referência Orientada para o Futuro em Tecnologia de Difração O difratômetro de raios X da série TD-3700 integra análise rápida, operação inteligente e segurança abrangente. Ele não apenas herda a estabilidade da série TD-3500, como também alcança avanços em tecnologia de detectores, flexibilidade de aplicação e integração de sistemas. Seu surgimento atende amplamente às necessidades de laboratórios modernos para análises de amostras de alto rendimento, alta precisão e diversidade, tornando-o uma ferramenta indispensável para caracterização de materiais, análises químicas, farmacêuticas e pesquisa acadêmica.

O Difratômetro de Raios X TDM-20 (XRD de Bancada) é utilizado principalmente para análise de fases de pós, sólidos e substâncias pastosas. Baseado no princípio da difração de raios X, ele permite análises qualitativas e quantitativas, bem como a análise da estrutura cristalina, de materiais policristalinos, como amostras em pó e metálicas. É amplamente utilizado em indústrias como a indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, mineralogia, segurança alimentar, petróleo e educação/pesquisa. Princípio Fundamental: Difração de Raios X, a Chave para o Mundo Microscópico O Difratômetro de Raios X TDM-20 opera com base no princípio da difração de raios X. Quando os raios X iluminam uma amostra, eles interagem com os átomos presentes na amostra e difratam. Diferentes estruturas cristalinas produzem padrões de difração únicos, semelhantes a impressões digitais individuais. Ao analisar esses padrões, o instrumento revela com precisão informações importantes sobre a estrutura cristalina da amostra, a composição de fases e muito mais, revelando os segredos ocultos no nível microscópico. Avanço de desempenho O Difratômetro de Raios X TDM-20 (XRD de Bancada) supera o padrão internacional anterior de 600 W, passando por uma atualização completa para 1600 W. O instrumento apresenta operação simples, desempenho estável e baixo consumo de energia. Pode ser equipado com um detector proporcional ou um novo detector de matriz de alta velocidade, resultando em um salto significativo no desempenho geral. Recursos do dispositivo Tamanho compacto e design leve Projeto de fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão para menor consumo geral de energia Suporta calibração e teste rápido de amostras Controle de circuito simplificado para fácil depuração e instalação A precisão linear do ângulo de difração de espectro total atinge ±0,01° Acessórios Ricos Compatível com vários acessórios, incluindo um detector de matriz 1D, detector proporcional, trocador automático de amostras de 6 posições e estágio de amostra rotativo. Conclusão O Difratômetro de Raios X TDM-20, com seu desempenho excepcional, operação intuitiva e ampla gama de aplicações, tornou-se uma ferramenta indispensável em diversos setores e áreas de pesquisa. Ele atua como um "detetive" do mundo microscópico, ajudando-nos a desvendar os mistérios da estrutura dos materiais e impulsionando o progresso em diversos domínios. Se você também busca se aprofundar nos segredos microscópicos da matéria, considere o TDM-20 para embarcar em uma jornada de pesquisa e produção precisa e eficiente.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-10 é um dispositivo de análise de fase compacto e de alta precisão. A seguir, uma introdução detalhada ao produto: 1. Principais funções e aplicações do difratômetro de raios X de mesa TDM-10 (1) Análise de fase Adequado para análise qualitativa e quantitativa de materiais em pó, sólidos, pastosos e amostras de película fina, ele pode identificar a estrutura cristalina, a composição de fase e a cristalinidade nas amostras. (2) Análise da estrutura cristalina Ele pode medir tamanho de grão, orientação de cristal, estresse macroscópico/microscópico e propriedades estruturais de materiais. (3) Aplicações Industriais e de Pesquisa Amplamente utilizado em áreas como geologia, ciência dos materiais, química, biologia, medicina e indústria nuclear, adequado para testes rápidos de laboratório e demonstrações de ensino. 2. Características técnicas do difratômetro de raios X de mesa TDM-10 (1) Design compacto e desempenho eficiente Tamanho pequeno, leve, baixo consumo de energia, fácil de operar e adequado para ambientes de mesa. Equipado com fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão, a potência pode chegar a 1600 W (consulte o modelo TDM-20), garantindo a estabilidade dos raios X. (2) Medição de alta precisão A precisão da medição da posição do pico de difração atinge 0,001°, com excelente repetibilidade angular, atendendo aos requisitos de análises de alta precisão. Utilizando os princípios da geometria de Debye-Scherr e da Lei de Bragg, o sinal de reflexão do cristal é registrado por difração de superfície cônica, alcançando uma identificação precisa da fase. (3) Controle Inteligente e Processamento de Dados Aquisição de dados controlada por computador, suportando aquisição e processamento de dados em tempo real no sistema Windows, com uma interface operacional intuitiva. Pode ser emparelhado com detectores de matriz (referindo-se à tecnologia de detector de alto desempenho do TDM-20) para melhorar a eficiência e a sensibilidade da detecção. 3. Cenários aplicáveis ​​do difratômetro de raios X de mesa TDM-10 (1) Campo de pesquisa Universidades e institutos de pesquisa são usados ​​para pesquisa e desenvolvimento de materiais, análise de estrutura cristalina e caracterização de nanomateriais. (2) Aplicações industriais Identificação de minerais, análise de composição de medicamentos, testes de segurança alimentar (como triagem de impurezas de cristais), etc. (3) Demonstração de ensino Dispositivo de mesa fácil de operar, adequado para ensino experimental de alunos, abrangendo a teoria básica e a operação prática da análise de fase. 4. Parâmetros técnicos do difratômetro de raios X de mesa TDM-10 (1) Precisão de medição: precisão da posição do pico de difração de 0,001 ° (2) Método de controle: controle de computador (sistema Windows) (3) Fonte de alimentação: design de baixa potência, fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão (4) Detector: Suporta detectores de matriz ou detectores proporcionais (consulte os acessórios do TDM-20) (5) Suporte de amostra: pode ser emparelhado com um suporte de amostra giratório ou um trocador automático de amostra (acessório opcional) 5. Vantagens do produto do difratômetro de raios X de mesa TDM-10 (1) Alta relação custo-benefício: os equipamentos nacionais têm excelente desempenho e são muito mais baratos do que os importados, tornando-os adequados para laboratórios com orçamentos limitados. (2) Detecção rápida: otimize o processo de calibração, reduza o tempo de teste e melhore a eficiência experimental. (3) Escalabilidade: Suporta vários acessórios (como sistemas de resfriamento de baixa temperatura, acessórios de bateria in-situ, etc.), que podem ser estendidos para análises de cenários especiais. 6. Séries relacionadas e comparação do difratômetro de raios X de mesa TDM-10 Modelo TDM-20: O TDM-20 é uma versão atualizada do TDM-10, com maior potência (1600 W), novos detectores de matriz de alto desempenho, suporte para trocadores automáticos de amostras e outros acessórios, adequado para necessidades de pesquisa científica e industrial mais complexas. Outros modelos: A série Dandong Tongda TD também inclui instrumentos de difração de alta resolução, como TD-3500 e TD-3700, bem como analisadores de cristal da série TDF, cobrindo necessidades de análise multidimensional. O difratômetro de raios X de mesa TDM-10 tornou-se o equipamento preferido para análise de fases em laboratório devido ao seu design compacto, medição de alta precisão e operação inteligente. Possui uma ampla gama de cenários de aplicação, sendo especialmente adequado para pesquisas científicas e ambientes industriais que exigem detecção rápida e precisa. Caso seja necessária uma configuração superior, o TDM-20 ou outros modelos da mesma série podem ser considerados.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é um dispositivo de mesa compacto usado principalmente para análise de fase de materiais e pesquisa de estrutura cristalina. 1. As principais funções do difratômetro de raios X de mesa TDM-20 Análise de fase do TDM-20: O TDM-20 pode realizar análises qualitativas/quantitativas em amostras policristalinas, como pós, sólidos e materiais pastosos. Análise da estrutura cristalina do TDM-20: Com base no princípio da difração de raios X, o TDM-20 suporta a análise de estruturas cristalinas de amostras metálicas, minerais, compostos, etc. 2. Características técnicas do difratômetro de raios X de mesa TDM-20 Alta potência e desempenho do TDM-20: utilizando fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão, a potência é aumentada para 1600 W. Equipado com novos detectores de matriz de alta velocidade ou detectores proporcionais para melhorar a eficiência e a precisão da aquisição de dados. Operação conveniente do TDM-20: O dispositivo é pequeno em tamanho e leve, adequado para espaços compactos de laboratório; Suporta calibração e testes rápidos, com controle de circuito simples e fácil instalação e depuração. A precisão e estabilidade do TDM-20: a repetibilidade do ângulo é de até 0,0001 °, e a linearidade do ângulo de difração do espectro total é de ± 0,01 °. Escalabilidade do TDM-20: O TDM-20 pode ser equipado com um trocador de amostra automático de 6 dígitos, um estágio de amostra rotativo, um sistema de resfriamento de baixa temperatura e acessórios de alta/média baixa temperatura in-situ para atender a diversas necessidades de teste. 3. Cenários de aplicação do difratômetro de raios X de mesa TDM-20 Os campos de pesquisa do TDM-20 incluem caracterização da estrutura cristalina e análise de transição de fase em ciência dos materiais, geologia e pesquisa farmacêutica. Aplicações industriais do TDM-20: avaliação de consistência de medicamentos na indústria farmacêutica, identificação de minerais, análise de catalisadores petroquímicos, testes de segurança alimentar (como determinação da composição de cristais). Educação e Defesa Nacional do TDM-20: Identificação Rápida de Fase em Experimentos de Ensino Universitário e Desenvolvimento de Material de Defesa Nacional. 4. Fabricantes e acessórios do TDM-20 Fabricante: Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Acessórios opcionais: detector de matriz unidimensional, detector proporcional, trocador automático de amostras de 6 dígitos, estágio de amostra rotativo, monocromador de cristal curvo de grafite, etc. No geral, o TDM-20, com sua alta potência, alta precisão e design compacto, tornou-se uma ferramenta eficiente para análise de fase de laboratório e é amplamente utilizado em pesquisas científicas, indústria e campos de ensino.

O difratômetro de raios X TD-3500 (TD-3500XRD) é um instrumento analítico de alto desempenho produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Ele é usado principalmente para análise de estrutura cristalina, composição de fase e propriedades de materiais. 1. Parâmetros técnicos principais do difratômetro de raios X TD-3500 Fonte de raios X do difratômetro TD-3500: Permite a seleção do material alvo Cu K α ou Mo K α, com faixa de tensão de tubo ajustável de 10 a 60 kV e faixa de corrente de tubo de 2 a 80 mA, suportando geradores de estado sólido de alta frequência e alta tensão ou geradores de frequência de potência. Equipado com um sistema de controle PLC Siemens importado, realiza comutação automatizada de porta de luz, regulação de pressão/fluxo de tubo e funções de treinamento de tubo de raios X com alta estabilidade. Sistema de medição de ângulo do difratômetro de raios X TD-3500: Adotando uma estrutura vertical θ -2 θ com um raio de círculo de difração de 185 mm (ajustável para 285 mm), ele suporta testes de amostras líquidas, solúveis, em pó e em bloco. A resolução angular atinge 0,0001 grau, a precisão do passo é de 0,0001 grau e a faixa de medição de ângulo é de -5° a 165° (2 θ), adequada para análises de cristais de alta precisão. Detector do difratômetro de raios X TD-3500: Detector proporcional (PC) ou detector de cintilação (SC) opcional, com faixa linear de contagem ≥ 700.000 cps e ruído de fundo ≤ 1 cps. Equipado com tecnologia de monocromador de cristal duplo, que suprime eficazmente o componente K α 2 e melhora a monocromaticidade da radiação. Controle e software do difratômetro de raios X TD-3500: Um sistema de interação homem-máquina baseado em CLP importado e tela sensível ao toque em cores reais, suportando configuração de parâmetros, monitoramento em tempo real e diagnóstico de falhas. O software tem funções como correspondência de diagrama de fase, análise de tensão e cálculo de tamanho de grão, e pode gerar relatórios padronizados. 2. Características técnicas e vantagens do difratômetro de raios X TD-3500 Alta precisão e estabilidade do difratômetro de raios X TD-3500: O instrumento de medição de ângulo utiliza rolamentos importados de alta precisão e um sistema de servoacionamento de malha totalmente fechada, com correção automática de erros de movimento e repetibilidade superior a 0,0006°. O design modular do CLP possui forte capacidade antiparasitária, suporta operação sem falhas a longo prazo e pode expandir diversos acessórios funcionais. Segurança e proteção do difratômetro de raios X TD-3500: O dispositivo eletrônico de intertravamento da porta de chumbo proporciona dupla proteção, com a comporta de luz e a porta de chumbo intertravadas para garantir uma operação segura. Equipado com um sistema de resfriamento por água circulante (dividido ou integrado), ele controla automaticamente a temperatura da água e monitora a temperatura do tubo de raios X para evitar bloqueios. Operação inteligente do difratômetro de raios X TD-3500: A tela sensível ao toque exibe o status do instrumento em tempo real, suporta configurações de parâmetros (como faixa de varredura, tamanho do passo, tempo de amostragem) e diagnóstico remoto de falhas. Modos de varredura predefinidos (θ -2 θ, difração de cristal único, análise de filme fino) para atender a diferentes requisitos de amostra. 3. As principais áreas de aplicação do difratômetro de raios X TD-3500 Análise de materiais do difratômetro de raios X TD-3500: Análise qualitativa/quantitativa de fases, identificação da estrutura cristalina, determinação do tamanho de grão e cristalinidade. Composição de fases e análise de tensões de materiais como semicondutores, cerâmicas, metais, polímeros, etc. Experimento de pesquisa do difratômetro de raios X TD-3500: Análise de orientação de filme, pesquisa de transição de fase de materiais de catalisadores/baterias e caracterização de estruturas de nanomateriais. Cristais biológicos, medição de estresse macroscópico/microscópico e análise da evolução da temperatura do material (exigindo o uso de um analisador térmico). Caso de uso típico do difratômetro de raios X TD-3500: Universidade de Tecnologia de Wuhan (Pesquisa de Nova Estrutura de Materiais), Instituto de Tecnologia de Pequim (Pesquisa de Transformação de Fase de Semicondutores de Óxido), Universidade de Tongji (Análise de Estrutura de Liga de Titânio), etc. 4. Pontos-chave para operação e manutenção do difratômetro de raios X TD-3500 Processo de operação do difratômetro de raios X TD-3500: Inicialização e pré-aquecimento por 10 a 15 minutos → Preparação e fixação da amostra → Definição dos parâmetros de varredura (como faixa de 2 θ, largura do passo, pressão/fluxo do tubo) → Início da varredura → Análise de dados. Suporta a combinação de SEM e EDS para obter a caracterização abrangente de micro/nanoestruturas e componentes. Amplamente utilizado em ciência dos materiais, química, física e outras áreas, é a ferramenta preferida para análise de estrutura cristalina e de fases.

O difratômetro de raios X TD-3700 é um dispositivo de análise de raios X de alto desempenho e alta resolução, caracterizado por análise rápida, operação conveniente e alta segurança. 1. Características técnicas do difratômetro de raios X TD-3700 (1) Configuração central do difratômetro de raios X Equipado com um detector de matriz unidimensional de alta velocidade ou detector SDD, utilizando tecnologia de contagem mista de fótons, não há interferência de ruído e a velocidade de aquisição de dados excede em muito a dos detectores de cintilação tradicionais (com um aumento de velocidade de mais de cem vezes), além de possuir alta faixa dinâmica (24 bits) e excelente resolução de energia (687 ± 5 eV). Equipado com um controlador lógico programável (CLP) importado, ele alcança controle automatizado, baixa taxa de falhas, forte capacidade antiparasitária e garante operação estável da fonte de alimentação de alta tensão para tubos de raios X. (2) Sistema de medição de ângulo do difratômetro de raios X Adotando uma estrutura de instrumento de medição de ângulo vertical θ/θ, a amostra é posicionada horizontalmente e suporta testes de diversos tipos de amostras, como líquido, sol, pó e bloco, para evitar que as amostras caiam no mancal e causem corrosão. A faixa de varredura do ângulo θ 2 é de -110° a 161°, com um passo mínimo de 0,0001°, uma repetibilidade de ± 0,0001° e uma linearidade angular de ± 0,01°, adequada para análises estruturais de alta precisão. Suporta tanto o modo de reflexão convencional quanto o modo de transmissão, sendo este último de maior resolução e adequado para amostras de traços (como pós com baixo rendimento) e análises estruturais. (3) O sistema de geração de raios X do difratômetro de raios X A potência nominal pode ser selecionada entre 3 kW ou 5 kW, com uma faixa de tensão do tubo de 10 a 60 kV, uma corrente do tubo de 2 a 80 mA e uma estabilidade de ≤ 0,005%. Material alvo padrão Cr/Co/Cu, adequado para diferentes requisitos de análise de materiais. 2. Software e controle do instrumento de difração de raios X TD-3700 (1) Software de controle para difratômetro de raios X Interface totalmente em chinês, compatível com o sistema Windows XP, regula automaticamente a pressão do tubo, o fluxo do tubo e o interruptor de luz, além de função de treinamento de envelhecimento do tubo de raios X. O software aplicativo oferece funções de processamento como busca de pico, subtração de fundo, stripping de K α 2 , cálculo de integração, comparação de espectro, etc. Suporta inserção de anotações de texto e diversas operações de escala. (2) Segurança operacional do difratômetro de raios X Sistema de proteção dupla (conexão de porta de luz e porta de chumbo), taxa de vazamento de raios X ≤ 0,1 μ Sv/h, em conformidade com os padrões nacionais. Equipado com sistema de refrigeração circulante (split ou integrado), controle automático de temperatura e monitoramento da vazão de água, pressão do refrigerante, etc., para evitar bloqueio do tubo de raios X. 3. Cenários de aplicação do difratômetro de raios X TD-3700 (1) A função principal do difratômetro de raios X Análise qualitativa/quantitativa de fases, análise da estrutura cristalina, determinação do tamanho de grão e cristalinidade. Detecção de tensões macroscópicas/microscópicas, análise da orientação de materiais (como filmes finos, amostras a granel). (2) Campos aplicáveis do difratômetro de raios X Ciência dos Materiais: Cerâmicas, Metais, Polímeros, Materiais Supercondutores, etc. Meio ambiente e geologia: solo, rochas, análise de minerais e registro de petróleo. Química e Farmacêutica: Identificação de Ingredientes Farmacêuticos, Teste de Cristalinidade de Produtos Químicos. Outros: inspeção de alimentos, materiais eletrônicos, materiais magnéticos, etc. 4. Vantagens do produto do difratômetro de raios X TD-3700 (1) Design modular: O sistema de hardware é modular e suporta vários acessórios (como acessórios ópticos e software de função especial) que são plug and play, sem a necessidade de ajustar manualmente o caminho óptico. (2) Equilíbrio eficiente e seguro: a operação com um clique simplifica o processo, ao mesmo tempo que reduz o risco de falha por meio do controle PLC, sistema de proteção e funções de alarme automático (como proteção contra sobrecorrente e aviso de superaquecimento). (3) Avanço na localização: a série TD é o único equipamento XRD na China que usa tecnologia de controlador programável, com desempenho comparável aos modelos importados (como o D8 ADVANCE) e taxas de falhas significativamente reduzidas. O difratômetro de raios X TD-3700 é um difratômetro de raios X potente e amplamente utilizado. Seu detector de alto desempenho, sistema preciso de medição de ângulos, funções de software potentes e ampla gama de campos de aplicação o tornam uma ferramenta importante na pesquisa científica e na produção industrial.

O difratômetro de raios X de alta potência TDM-20 (XRD de bancada) é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O XRD de bancada é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. 1、Principais características do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): O carregamento do novo detector de matriz de alto desempenho melhorou muito o desempenho geral do dispositivo, com um tamanho pequeno e peso leve; A máquina inteira é integrada ao tamanho da área de trabalho (geralmente ≤ 1m³), economizando espaço e adequada para pequenos laboratórios ou ambientes de ensino; A potência de trabalho da fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão pode chegar a 1600 W; Análise rápida, capaz de calibrar e testar amostras rapidamente; Ao usar detectores de alto desempenho (como detectores bidimensionais) e otimizar o caminho óptico, a varredura da amostra pode ser concluída em poucos minutos; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A repetibilidade do ângulo pode chegar a 0,0001; Baixo consumo de energia e segurança, usando tubos de raios X de baixa potência (como ≤ 50 W), equipados com proteção contra radiação múltipla, sem necessidade de salas de blindagem especiais; Fácil de usar, equipado com software de automação, suportando operação com um clique, visualização de dados em tempo real e comparação de banco de dados padrão (como ICDD PDF). 2. Cenários típicos de aplicação do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): identificação rápida da estrutura cristalina e composição de fases (como metais, cerâmicas, polímeros). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Testes em locais industriais da pureza de cristais de matérias-primas ou produtos acabados (como produtos farmacêuticos e materiais de bateria). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Ensino experimental de graduação, demonstrando visualmente o princípio de difração de Bragg. Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Análise da composição mineral de relíquias culturais ou triagem preliminar de amostras de campo. 3. Parâmetros técnicos do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Projeto: intervalo de parâmetros Fonte de raios X: alvo Cu (λ = 1,54 Å), alvo Mo opcional Tensão/corrente: 10-50 kV/0,1-2 mA Faixa do instrumento de medição de ângulo: 0-90 ° 2θ (alguns modelos podem ser estendidos) Resolução de ângulo: ≤ 0,01 ° Tipo de detector: detector de superfície linear unidimensional ou bidimensional Tamanho da amostra: Pó (miligramas), filme ou bloco 4. Vantagens e limitações do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Vantagens: Baixo custo (cerca de 1/3-1/2 de XRD grande), fácil manutenção. Suporte para análises não destrutivas e preparação simples de amostras (como colocação direta de pó). limitações: A resolução e a sensibilidade são ligeiramente inferiores às de dispositivos de última geração e podem não ser adequadas para análises estruturais ultrafinas. Testes em condições extremas (como experimentos in situ de alta temperatura/alta pressão) geralmente não são viáveis.

O difratômetro de raios X TD-3500 é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. O difratômetro de raios X TD-3500 produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta precisão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar de forma flexível a análises de teste e pesquisa em vários setores!   O difratômetro de raios X TD-3500 adota um gerador de raios X (gerador de estado sólido de alta frequência e alta tensão, gerador de frequência de energia opcional), que tem um alto grau de automação, taxa de falha extremamente baixa, forte capacidade anti-interferência, boa estabilidade do sistema e pode estender a vida útil de toda a máquina. O PLC e a interface do computador controlam automaticamente a abertura e o fechamento do portão de luz, controlam automaticamente a subida e a queda da pressão do tubo e do fluxo do tubo e têm a função de treinar automaticamente os tubos de raios X. Monitoramento on-line em tempo real usando uma tela sensível ao toque para exibir o status do instrumento. O difratômetro de raios X TD-3500 adota unidade de controle de gravação avançada, circuito de controle PLC, tecnologia avançada de controle PLC e tela de toque true color para obter interação humano-computador. O hardware do sistema adota conceito de design modular, aumentando muito a capacidade anti-interferência do sistema e tornando-o mais estável. Devido ao uso de circuitos de controle PLC Siemens importados com alta precisão e automação, o sistema pode operar de forma estável por um longo tempo sem nenhuma falha. O sistema de difratômetro de raios X TD-3500 tem as seguintes vantagens sobre os circuitos de microcontroladores usados ​​por outras empresas: Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; Devido ao seu design modular, a manutenção do sistema é muito simples, e os usuários podem repará-lo e depurá-lo sozinhos, sem a necessidade da presença de técnicos do fabricante; Adotando tela sensível ao toque avançada em cores verdadeiras para obter interação homem-computador, com funções de proteção completas e operação muito conveniente, o design de animação altamente tridimensional é mais humanizado, intuitivo e conveniente para os operadores usarem e julgarem informações de falhas, etc.; Melhorando muito a estabilidade de contagem do sistema, aumentando assim a estabilidade geral de toda a máquina; Devido à forte capacidade de expansão do CLP, ele pode expandir facilmente vários acessórios funcionais sem a necessidade de adicionar circuitos de hardware adicionais. Detector do difratômetro de raios X TD-3500 Detector proporcional (PC) ou detector de cintilação (SC). Instrumento de medição de ângulo de alta precisão para difratômetro de raios X TD-3500 O instrumento de medição de ângulo da série TD adota transmissão de rolamento importada de alta precisão, e o controle de movimento é completado por um servo sistema de acionamento vetorial de malha totalmente fechada de alta precisão. O acionamento inteligente inclui um microprocessador RISC de 32 bits e um codificador magnético de alta resolução, que pode corrigir automaticamente erros de posição de movimento extremamente pequenos, garantindo alta precisão e exatidão dos resultados de medição. A reprodutibilidade do ângulo pode atingir 0,0001 graus, e ângulos de passo menores podem atingir 0,0001 graus. Áreas de aplicação do difratômetro de raios X TD-3500: Ciência dos Materiais: Usada para estudar informações importantes, como estrutura cristalina, comportamento de transição de fase e textura dos materiais. Análise química: pode ser usada para análise qualitativa ou quantitativa de compostos orgânicos, inorgânicos, poliméricos e outras substâncias. Geologia: ajuda as pessoas a entender a formação de depósitos minerais, a evolução da Terra e muito mais. Biofármacos: Determinar a estrutura cristalina de medicamentos, otimizar formulações de medicamentos e melhorar a eficácia dos medicamentos. O difratômetro de raios X é uma ferramenta analítica poderosa amplamente usada em vários campos. Ao medir com precisão o ângulo de difração e a intensidade, ele pode fornecer informações detalhadas sobre a estrutura cristalina e a composição dos materiais.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 é um novo membro da série TD, equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. Ele integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta não apenas o método convencional de varredura de dados de difração, mas também o método de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem fortes sinais de difração e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra. O detector de matriz utiliza totalmente a tecnologia de contagem de fótons mistos, sem ruído, aquisição rápida de dados e mais de dez vezes a velocidade dos detectores de cintilação. Ele tem excelente resolução de energia e pode remover efetivamente os efeitos de fluorescência. Os detectores multicanal têm tempos de leitura mais rápidos e alcançam melhores relações sinal-ruído. Um sistema de controle de detector com gating eletrônico e disparo externo conclui efetivamente a sincronização do sistema. O princípio de funcionamento do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Ao utilizar a flutuação dos raios X, quando eles são irradiados em um cristal, átomos ou íons no cristal agem como centros de espalhamento, espalhando raios X em todas as direções. Devido à regularidade do arranjo atômico em cristais, essas ondas espalhadas interferem umas nas outras e reforçam umas às outras em certas direções, formando difração. Ao medir o ângulo de difração e a intensidade da difração, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. As principais características do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 são: (1) Fácil de operar, sistema de coleta de um clique; (2) Design modular, acessórios de instrumento plug and play, sem necessidade de calibração; (3) Monitoramento on-line em tempo real usando tela sensível ao toque para exibir o status do instrumento; (4) Dispositivo de intertravamento eletrônico de porta de chumbo, proteção dupla, garantindo a segurança do usuário; (5) Gerador de raios X de alta frequência e alta tensão, com desempenho estável e confiável; (6) Unidade de controle de gravação avançada com forte capacidade anti-interferência. A alta precisão do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 permite uma análise de alta precisão da estrutura cristalina dos materiais, como a determinação precisa de constantes de rede, parâmetros de célula, etc. A precisão da medição do ângulo pode atingir ±0,0001°. A alta resolução do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 pode distinguir claramente picos de difração adjacentes, analisar com precisão informações de difração de diferentes planos de cristal para estruturas cristalinas complexas e revelar as características da microestrutura dos materiais. A natureza não destrutiva do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: ele não causará danos à amostra durante o processo de teste, e a amostra pode ser mantida em seu estado original para vários testes, o que é particularmente importante para amostras preciosas ou difíceis de obter. Análise rápida do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Os difratômetros de raios X modernos de alta resolução têm recursos de detecção rápida e podem concluir o teste de amostra em um curto período de tempo, melhorando a eficiência do trabalho. 3. Áreas de aplicação do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Materiais semicondutores: usados ​​para detectar a qualidade do cristal de materiais semicondutores de cristal único e filmes finos epitaxiais, analisar incompatibilidade de rede, defeitos e outras informações, o que ajuda a otimizar o desempenho de dispositivos semicondutores. Materiais supercondutores: Estude a estrutura cristalina e o processo de transição de fase de materiais supercondutores para fornecer uma base para otimizar as propriedades supercondutoras. Nanomateriais: Analisar o tamanho do grão, a estrutura cristalina, a deformação microscópica, etc. dos nanomateriais ajuda os pesquisadores a entender melhor suas propriedades e aplicações. Outros campos: Também é amplamente utilizado em pesquisa e controle de qualidade de materiais metálicos, materiais cerâmicos, materiais poliméricos, biomateriais e outros campos. O difratômetro de raios X de alta resolução é um instrumento analítico rápido, não destrutivo, de alta precisão e alta resolução, com importante valor de aplicação em muitos campos.

O suporte de amostra rotativo em um difratômetro de raios X é um componente-chave usado para ajuste preciso e fixação da posição da amostra, a amostra pode girar dentro de seu próprio plano, o que é benéfico para erros causados ​​por grãos grossos. Para amostras com textura e cristalografia, o suporte de amostra rotativo garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração e elimina a orientação preferencial. Princípio de funcionamento do suporte de amostra rotativo: Quando o difratômetro de raios X está funcionando, raios X de alta energia gerados pela fonte de raios X são irradiados na amostra fixada no estágio de amostra rotativo. Devido à estrutura cristalina específica e aos parâmetros de rede da amostra, os raios X sofrerão fenômenos de espalhamento, absorção e difração ao interagir com a amostra, onde os fenômenos de difração ocorrem de acordo com os requisitos da equação de Bragg. O suporte de amostra rotativo pode girar em ângulos menores de acordo com a configuração, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em ângulos diferentes, obtendo assim padrões de difração em ângulos diferentes. Dessa forma, o detector pode medir a intensidade de raios X após a difração da amostra e convertê-la em um sinal elétrico a ser transmitido ao computador para processamento de dados. A principal função do suporte rotativo de amostras é: Método de rotação: eixo β (plano de amostra) Velocidade de rotação: 1~60RPM Largura do passo pequeno: 0,1 º Modo de operação: rotação de velocidade constante para varredura de amostra (etapa, contínua) Vantagens do suporte rotativo de amostras: O suporte de amostra giratório pode melhorar a precisão dos dados de difração: Para amostras com pó irregular ou formas de partículas, a característica de orientação preferencial é propensa a ocorrer durante a preparação convencional de amostra de pó, resultando em desvios na distribuição da intensidade de difração e afetando a precisão da análise do resultado de difração. Girar o estágio da amostra pode mover a amostra em uma certa forma em um espaço apropriado, eliminando a influência da orientação preferencial até certo ponto, melhorando assim a precisão dos dados de difração. O suporte de amostra rotativo pode se adaptar a várias necessidades de teste: capaz de se adaptar a diferentes tipos de instrumentos de medição de ângulo de difração de raios X, como instrumentos de medição de ângulo vertical, equipamento de difração de pó compacto de baixa potência, etc., proporcionando conveniência para diferentes necessidades de teste. E o suporte de amostra rotativo pode atender aos requisitos de várias amostras e condições de teste ajustando parâmetros como velocidade e direção. O suporte de amostra rotativo pode expandir as capacidades analíticas do instrumento: Novos tipos de estágios de amostra rotativos estão sendo constantemente desenvolvidos e aplicados, como alguns estágios de amostra para análise de difração de raios X eletroquímica in situ, que podem monitorar e analisar as mudanças de materiais em diferentes ambientes ou condições em tempo real, expandindo as capacidades de análise do equipamento de difração de raios X. Em resumo, o suporte giratório de amostras no difratômetro de raios X é crucial para obter com precisão informações sobre a estrutura cristalina de substâncias. O suporte giratório de amostras pode não apenas melhorar a precisão dos dados de difração, mas também se adaptar a várias necessidades de testes e expandir as capacidades analíticas do instrumento.

No difratômetro de raios X, os acessórios de medição integrados multifuncionais são componentes cruciais que aumentam muito a funcionalidade e a flexibilidade do instrumento. Usado para análise de filmes em placas, blocos e substratos, e pode executar testes como detecção de fase de cristal, orientação, textura, estresse e estrutura no plano de filmes finos. Visão geral básica de acessórios de medição integrados multifuncionais: Definição: É um termo geral para uma série de dispositivos ou módulos adicionais usados ​​no difratômetro de raios X para expandir as funções do instrumento, melhorar a precisão e a eficiência da medição. Objetivo: Esses acessórios visam permitir que o difratômetro de raios X atenda a uma gama mais ampla de necessidades experimentais e forneça informações mais abrangentes e precisas sobre a estrutura do material. As características funcionais dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Realizar testes de diagrama polar usando métodos de transmissão ou reflexão; O teste de estresse pode ser conduzido usando o método de inclinação paralela ou o mesmo método de inclinação; Teste de película fina (rotação da amostra no plano). Características técnicas dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Alta precisão: eles normalmente usam tecnologia de detecção avançada e sistemas de controle para garantir alta precisão e repetibilidade das medições. Automação: Muitos acessórios oferecem suporte a operações automatizadas e podem ser perfeitamente integrados ao host do difratômetro de raios X para obter medições com um clique. Design modular: facilita aos usuários a seleção e a combinação de diferentes módulos de acessórios de acordo com suas necessidades reais. Áreas de aplicação de acessórios de medição integrados multifuncionais: Amplamente utilizado em áreas como ciência dos materiais, física, química, biologia e geologia; Avaliação de estruturas metálicas de montagem, como chapas laminadas; Avaliação da orientação cerâmica; Avaliação da orientação de prioridade de cristais em amostras de filmes finos; Ensaios de tensão residual de vários materiais metálicos e cerâmicos (avaliação da resistência ao desgaste, resistência ao corte, etc.); Testes de estresse residual de filmes multicamadas (avaliação de descascamento de filme, etc.); Análise de oxidação de superfície e filmes de nitreto em materiais supercondutores de alta temperatura, como filmes finos e placas metálicas; Vidro Si、Análise de filmes multicamadas em substratos metálicos (filmes finos magnéticos, filmes de endurecimento de superfícies metálicas, etc.); Análise de materiais de galvanoplastia, como materiais macromoleculares, papel e lentes. Os acessórios de medição integrados multifuncionais no difratômetro de raios X são a chave para melhorar o desempenho do instrumento. Eles não apenas melhoram a funcionalidade do instrumento, mas também melhoram a precisão e a eficiência da medição, fornecendo aos pesquisadores métodos de análise de materiais mais abrangentes e aprofundados. Com o avanço contínuo da tecnologia, esses acessórios continuarão a desempenhar um papel importante na promoção da pesquisa científica em campos relacionados para alcançar mais avanços.