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O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 é um novo membro da série TD, equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. Ele integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta não apenas o método convencional de varredura de dados de difração, mas também o método de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem fortes sinais de difração e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra. O detector de matriz utiliza totalmente a tecnologia de contagem de fótons mistos, sem ruído, aquisição rápida de dados e mais de dez vezes a velocidade dos detectores de cintilação. Ele tem excelente resolução de energia e pode remover efetivamente os efeitos de fluorescência. Os detectores multicanal têm tempos de leitura mais rápidos e alcançam melhores relações sinal-ruído. Um sistema de controle de detector com gating eletrônico e disparo externo conclui efetivamente a sincronização do sistema. O princípio de funcionamento do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Ao utilizar a flutuação dos raios X, quando eles são irradiados em um cristal, átomos ou íons no cristal agem como centros de espalhamento, espalhando raios X em todas as direções. Devido à regularidade do arranjo atômico em cristais, essas ondas espalhadas interferem umas nas outras e reforçam umas às outras em certas direções, formando difração. Ao medir o ângulo de difração e a intensidade da difração, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. As principais características do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 são: (1) Fácil de operar, sistema de coleta de um clique; (2) Design modular, acessórios de instrumento plug and play, sem necessidade de calibração; (3) Monitoramento on-line em tempo real usando tela sensível ao toque para exibir o status do instrumento; (4) Dispositivo de intertravamento eletrônico de porta de chumbo, proteção dupla, garantindo a segurança do usuário; (5) Gerador de raios X de alta frequência e alta tensão, com desempenho estável e confiável; (6) Unidade de controle de gravação avançada com forte capacidade anti-interferência. A alta precisão do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 permite uma análise de alta precisão da estrutura cristalina dos materiais, como a determinação precisa de constantes de rede, parâmetros de célula, etc. A precisão da medição do ângulo pode atingir ±0,0001°. A alta resolução do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 pode distinguir claramente picos de difração adjacentes, analisar com precisão informações de difração de diferentes planos de cristal para estruturas cristalinas complexas e revelar as características da microestrutura dos materiais. A natureza não destrutiva do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: ele não causará danos à amostra durante o processo de teste, e a amostra pode ser mantida em seu estado original para vários testes, o que é particularmente importante para amostras preciosas ou difíceis de obter. Análise rápida do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Os difratômetros de raios X modernos de alta resolução têm recursos de detecção rápida e podem concluir o teste de amostra em um curto período de tempo, melhorando a eficiência do trabalho. 3. Áreas de aplicação do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Materiais semicondutores: usados para detectar a qualidade do cristal de materiais semicondutores de cristal único e filmes finos epitaxiais, analisar incompatibilidade de rede, defeitos e outras informações, o que ajuda a otimizar o desempenho de dispositivos semicondutores. Materiais supercondutores: Estude a estrutura cristalina e o processo de transição de fase de materiais supercondutores para fornecer uma base para otimizar as propriedades supercondutoras. Nanomateriais: Analisar o tamanho do grão, a estrutura cristalina, a deformação microscópica, etc. dos nanomateriais ajuda os pesquisadores a entender melhor suas propriedades e aplicações. Outros campos: Também é amplamente utilizado em pesquisa e controle de qualidade de materiais metálicos, materiais cerâmicos, materiais poliméricos, biomateriais e outros campos. O difratômetro de raios X de alta resolução é um instrumento analítico rápido, não destrutivo, de alta precisão e alta resolução, com importante valor de aplicação em muitos campos.
O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700, com todas as vantagens do difratômetro de raios X TD-3500, é equipado com um detector de matriz de alto desempenho. Comparado a detectores de cintilação ou detectores proporcionais, a intensidade do cálculo de difração pode ser aumentada em várias dezenas de vezes, e padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem podem ser obtidos em um período de amostragem mais curto. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta tanto métodos convencionais de varredura de dados de difração quanto métodos de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem sinais de difração fortes e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra.