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O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia. Principais vantagens do XAFS: Produto de maior fluxo luminoso: Fluxo de fótons superior a 1.000.000 fótons/segundo/eV, com eficiência espectral várias vezes maior que outros produtos; Obtenha qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron Excelente estabilidade: A estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1%, e o desvio de energia durante a coleta repetida é menor que 50 meV Limite de detecção de 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。