Instrumento de difração de tecnologia Tongda

O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, análise de orientação cristalina, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc.

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