O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 oferece desempenho analítico excepcional graças à tecnologia inovadora do detector e aos modos de varredura dupla. Com aquisição de dados rápida, operação intuitiva e segurança aprimorada, ele permite análises precisas de materiais em aplicações de pesquisa e industriais, estabelecendo novos padrões para instrumentos científicos chineses.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700, com todas as vantagens do difratômetro de raios X TD-3500, é equipado com um detector de matriz de alto desempenho. Comparado a detectores de cintilação ou detectores proporcionais, a intensidade do cálculo de difração pode ser aumentada em várias dezenas de vezes, e padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem podem ser obtidos em um período de amostragem mais curto. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta tanto métodos convencionais de varredura de dados de difração quanto métodos de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem sinais de difração fortes e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra.

É um fabricante profissional de instrumentos de análise de raios X e instrumentos de teste não destrutivos, e obteve uma série de certificações, como empresas nacionais de alta tecnologia, empresas de certificação de sistema de qualidade ISO, e possui uma patente de invenção e uma patente de modelo de utilidade.