No campo da tecnologia moderna, muitos produtos de alta tecnologia — de substratos para telas de smartphones a componentes essenciais de geradores de laser — dependem de um material fundamental: monocristais sintéticos. A precisão do ângulo de corte desses cristais determina diretamente o desempenho e o rendimento dos produtos finais. O Analisador de Orientação de Raios X é um instrumento indispensável na fabricação de precisão de dispositivos de cristal. Utilizando o princípio da difração de raios X, ele mede com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos, incluindo cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser e cristais semicondutores. A Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. oferece uma variedade de analisadores de orientação de raios X confiáveis, adaptados às necessidades de pesquisa, processamento e fabricação da indústria de materiais cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necessidades de orientação de cristais Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda incluem principalmente modelos como o TYX-200 e o TYX-2H8. O modelo TYX-200 apresenta uma precisão de medição de ± 30″, com visor digital e leitura mínima de 10″. O modelo TYX-2H8 é uma versão aprimorada do TYX-200, apresentando melhorias na estrutura do goniômetro, na pista de suporte, na luva do tubo de raios X, no corpo de suporte e na plataforma de amostra elevada. Essas melhorias permitem que o TYX-2H8 manipule amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Ele mantém um visor digital de ângulo e uma precisão de medição de ± 30″. 02 Recursos técnicos avançados para operação amigável Os Analisadores de Orientação de Raios X da Dandong Tongda são projetados com praticidade e confiabilidade em mente. Sua operação intuitiva não requer conhecimento especializado ou habilidades avançadas do operador. O instrumento possui um visor digital de ângulo, garantindo medições intuitivas e fáceis de ler, minimizando o risco de erros de leitura. O visor pode ser zerado em qualquer posição, permitindo a leitura direta do desvio do ângulo do wafer. Alguns modelos são equipados com goniômetros duplos para operação simultânea, melhorando significativamente a eficiência da detecção. Um integrador especial com amplificação de pico aumenta a precisão da medição. O tubo de raios X e o cabo de alta tensão adotam um design integrado, melhorando a confiabilidade da alta tensão. O sistema de detecção de alta tensão utiliza um módulo CC de alta tensão, e o estágio de sucção a vácuo da amostra melhora ainda mais a precisão e a velocidade da medição. 03 Projetos de estágios de amostra dedicados para diversas necessidades de teste Para atender aos requisitos de medição de amostras com diferentes formatos e tamanhos, a Dandong Tongda oferece uma variedade de estágios de amostra especializados: Plataforma de Amostragem TA: Projetada para cristais em formato de bastão, possui uma pista de suporte de carga e pode testar bastões de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 5 a 15 cm (expansível para 20 cm). Esta plataforma pode medir superfícies de referência de cristais em formato de bastão, bem como superfícies de cristais em formato de wafer. Plataforma de Amostragem TB: Também projetada para cristais em formato de bastão, inclui uma pista de suporte e trilhos de suporte em forma de V. Pode testar bastões de cristal pesando de 1 a 30 kg, com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e comprimentos de até 500 mm. Mede faces finais de cristais em formato de bastão e superfícies de cristais em formato de wafer. Platina de Amostra TC: Utilizada principalmente para detectar as superfícies de referência externas de wafers monocristais, como silício e safira. Sua placa de sucção de design aberto evita obstruções por raios X e imprecisões de posicionamento. A bomba de sucção da platina segura com segurança wafers de 5 a 20 cm, garantindo uma detecção precisa. ​ Plataforma de Amostragem TD: Projetada para medições multipontos de wafers, como silício e safira. Os wafers podem ser girados manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender às necessidades específicas de medição do cliente. 04 Modelo de alto desempenho para desafios de grandes amostras Para detecção de amostras grandes e desafiadoras, os Analisadores de Orientação de Raios X da Dandong Tongda demonstram desempenho excepcional. O modelo TYX-2H8, por exemplo, é particularmente adequado para orientar lingotes e bastões de cristal de safira. Este instrumento permite medições de orientações de cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável de 0 a 45° por meio de automação elétrica. Suas especificações técnicas são impressionantes: Tubo de raios X com alvo de cobre, ânodo aterrado e resfriamento por ar forçado. Corrente do tubo ajustável: 0–4 mA; tensão do tubo: 30 kV. Operação via computador ou controle por tela sensível ao toque. Movimento sincronizado do tubo de raios X e do detector; mesa rotativa acionada eletricamente. Consumo total de energia: ≤2 kW. Mais notavelmente, sua capacidade de manuseio de amostras inclui lingotes de cristal pesando até 30–180 kg, com dimensões máximas de 350 mm de diâmetro e 480 mm de comprimento. Essas capacidades o tornam adequado para a detecção de grandes amostras na maioria dos cenários industriais. 05 Aplicações Amplas que Oferecem Suporte a Múltiplos Setores Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda são amplamente utilizados em vários setores envolvidos na pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos. Na indústria de semicondutores, eles permitem o corte de orientação precisa de wafers de silício. No campo da optoeletrônica, eles são usados ​​para processamento de precisão de substratos de safira, cristais ópticos e cristais de laser. No setor de materiais piezoelétricos, eles garantem medições precisas do ângulo de corte para um desempenho estável do produto final. Os instrumentos são particularmente adequados para materiais de safira, muito procurados devido à sua dureza, alta transmitância de luz e excelente estabilidade físico-química. A safira é amplamente utilizada em substratos de LED, telas de eletrônicos de consumo e janelas ópticas. Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda se tornaram ferramentas essenciais nos campos de pesquisa e fabricação de materiais cristalinos da China, graças ao seu desempenho confiável, configurações diversas e forte adaptabilidade. Seu design modular e a variedade de opções de estágios de amostra permitem que os usuários selecionem configurações que atendam a necessidades específicas, garantindo alta precisão de detecção e melhorando a eficiência do trabalho. Seja para instituições de pesquisa ou para controle de qualidade de fabricação e otimização de processos, esses instrumentos fornecem suporte técnico robusto, capacitando os usuários a alcançar avanços na fabricação de precisão.

O instrumento de orientação automática de raios X é um dispositivo que usa o princípio de difração de raios X para determinar a estrutura cristalina, orientação e parâmetros de rede. Ele tem uma ampla gama de aplicações em ciência de materiais, geologia, física e química, especialmente no estudo da microestrutura e propriedades de monocristal, materiais policristalinos e materiais de filme fino. O seguinte fornecerá uma introdução detalhada ao princípio de funcionamento, aplicação e precauções operacionais do orientador de cristal de raios X. Com o avanço da tecnologia, os dispositivos de instrumentos de orientação de raios X automáticos continuam a melhorar, com maior resolução e operação mais fácil. Ao mesmo tempo, a combinação com outras técnicas analíticas, como microscopia eletrônica e análise espectroscópica, torna a análise da estrutura cristalina mais abrangente e aprofundada. Além disso, dispositivos analisadores de orientação de raios X de monitoramento portátil e online se desenvolveram gradualmente, fornecendo possibilidades para análise no local e monitoramento em tempo real. Em resumo, o analisador de orientação de raios X é uma ferramenta analítica poderosa que é crucial para entender e controlar a microestrutura de materiais. Com o desenvolvimento contínuo da tecnologia, sua aplicação em vários campos se tornará mais extensa e aprofundada.

O analisador de orientação de raios X é um dispositivo que usa o princípio da difração de raios X para determinar a orientação do cristal. É amplamente usado em campos como ciência de materiais, geologia, física, etc., para estudar estrutura de cristal, parâmetros de rede, defeitos de cristal, etc. O princípio de funcionamento de um analisador de orientação de raios X é irradiar um feixe de raios X monocromático no cristal em teste. Quando o raio X interage com átomos no cristal, ocorre espalhamento. De acordo com a lei de Bragg, quando o comprimento de onda dos raios X é um múltiplo inteiro do espaçamento atômico em um cristal, a luz espalhada interferirá e formará uma série de listras brilhantes e escuras alternadas, conhecidas como reflexão de Bragg. Ao medir os ângulos e intensidades dessas reflexões de Bragg, informações como orientação do cristal e parâmetros de rede podem ser calculadas. O analisador de orientação de raios X geralmente inclui as seguintes partes principais: 1. Fonte de raios X: um dispositivo que produz raios X monocromáticos, normalmente usando um tubo de raios X ou uma fonte de radiação síncrotron. 2. Plataforma de amostra: uma plataforma usada para colocar o cristal a ser testado, que pode ajustar a posição e o ângulo do cristal. 3.Detector: usado para receber raios X dispersos e convertê-los em sinais elétricos. Detectores comuns incluem contadores de cintilação, contadores proporcionais, etc. 4.Sistema de aquisição e processamento de dados: usado para coletar sinais emitidos por detectores e executar processamento e análise de dados. Geralmente inclui analisadores multicanal, computadores e outros equipamentos. 5. Sistema de controle: usado para controlar o movimento da fonte de raios X, do estágio da amostra e do detector para obter medições de cristais em diferentes direções. Ao usar um analisador de orientação de raios X, os pesquisadores podem determinar com precisão a orientação e os parâmetros de rede dos cristais, obtendo assim uma compreensão mais profunda de sua estrutura e propriedades. Isso é de grande importância para o desenvolvimento de novos materiais, exploração geológica, crescimento de cristais e outros campos.

Usando o método de difração de raios X (transmissão) para testar a estrutura cristalina única das fibras. Teste a orientação da amostra com base em dados como textura de fibra e largura de meio pico.

A tecnologia XRD desempenha um papel importante na pesquisa e desenvolvimento de materiais cerâmicos. Ele fornece uma base científica confiável para a síntese, otimização do processo de preparação, melhoria de desempenho e popularização de aplicações de materiais cerâmicos.

O instrumento automático de orientação de raios X é um instrumento indispensável para processamento de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. É amplamente utilizado na pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos.

A tecnologia Micro-ct apresenta vantagens significativas na caracterização de cerâmicas, podendo revelar a estrutura compósita dentro do material sem danos, e restaurar a tecnologia chave na produção de cerâmica.

Aglutinante é um composto polimérico usado na fabricação de eletrodos para aderir a substância ativa ao fluido coletor. A principal função é unir e manter substâncias ativas.

Usando o princípio da difração de raios X, o ângulo de corte de monocristais naturais e artificiais é determinado com precisão e rapidez, e a máquina de corte é equipada para corte direcional dos referidos cristais.