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Explorando o Analisador de Orientação de Raios X Dandong Tongda

No campo da tecnologia moderna, muitos produtos de alta tecnologia — de substratos para telas de smartphones a componentes essenciais de geradores de laser — dependem de um material fundamental: monocristais sintéticos. A precisão do ângulo de corte desses cristais determina diretamente o desempenho e o rendimento dos produtos finais. O Analisador de Orientação de Raios X é um instrumento indispensável na fabricação de precisão de dispositivos de cristal. Utilizando o princípio da difração de raios X, ele mede com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos, incluindo cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser e cristais semicondutores. A Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. oferece uma gama de analisadores de orientação de raios X confiáveis, adaptados às necessidades de pesquisa, processamento e fabricação da indústria de materiais cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necessidades de orientação de cristais Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda incluem principalmente modelos como o TYX-200 e o TYX-2H8. O modelo TYX-200 apresenta uma precisão de medição de ± 30″, com um visor digital e uma leitura mínima de 10″. O modelo TYX-2H8 é uma versão aprimorada do TYX-200, apresentando melhorias na estrutura do goniômetro, na pista de suporte de carga, na luva do tubo de raios X, no corpo de suporte e na plataforma de amostra elevada. Essas melhorias permitem que o TYX-2H8 manipule amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Ele mantém um visor digital de ângulo e uma precisão de medição de ± 30″. 02 Recursos técnicos avançados para operação amigável Os Analisadores de Orientação de Raios X da Dandong Tongda são projetados com praticidade e confiabilidade em mente. Sua operação intuitiva não requer conhecimento especializado ou habilidades avançadas do operador. O instrumento possui um visor digital de ângulo, garantindo medições intuitivas e fáceis de ler, minimizando o risco de erros de leitura. O visor pode ser zerado em qualquer posição, permitindo a leitura direta do desvio do ângulo do wafer. Alguns modelos são equipados com goniômetros duplos para operação simultânea, melhorando significativamente a eficiência da detecção. Um integrador especial com amplificação de pico aumenta a precisão da medição. O tubo de raios X e o cabo de alta tensão adotam um design integrado, melhorando a confiabilidade da alta tensão. O sistema de detecção de alta tensão utiliza um módulo CC de alta tensão, e o estágio de sucção a vácuo da amostra aumenta ainda mais a precisão e a velocidade da medição. 03 Projetos de estágios de amostra dedicados para diversas necessidades de teste Para atender aos requisitos de medição de amostras com diferentes formatos e tamanhos, a Dandong Tongda oferece uma variedade de estágios de amostra especializados: Plataforma de Amostragem TA: Projetada para cristais em formato de bastão, possui uma pista de suporte de carga e pode testar bastões de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 5 a 15 cm (expansível para 20 cm). Esta plataforma pode medir superfícies de referência de cristais em formato de bastão, bem como superfícies de cristais em formato de wafer. Plataforma de Amostragem TB: Também projetada para cristais em formato de bastão, inclui uma pista de suporte e trilhos de suporte em forma de V. Pode testar bastões de cristal pesando de 1 a 30 kg, com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e comprimentos de até 500 mm. Mede faces finais de cristais em formato de bastão e superfícies de cristais em formato de wafer. Platina de Amostragem TC: Utilizada principalmente para detectar as superfícies de referência externas de wafers monocristalinos, como silício e safira. Sua placa de sucção de design aberto evita obstruções por raios X e imprecisões de posicionamento. A bomba de sucção da platina segura com segurança wafers de 5 a 20 cm, garantindo uma detecção precisa. ​ Plataforma de Amostragem TD: Projetada para medições multipontos de wafers, como silício e safira. Os wafers podem ser girados manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender às necessidades específicas de medição do cliente. 04 Modelo de alto desempenho para desafios de grandes amostras Para detecção de amostras grandes e desafiadoras, os Analisadores de Orientação de Raios X da Dandong Tongda demonstram desempenho excepcional. O modelo TYX-2H8, por exemplo, é particularmente adequado para orientar lingotes e bastões de cristal de safira. Este instrumento permite medições de orientações de cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável de 0 a 45° por meio de automação elétrica. Suas especificações técnicas são impressionantes: Tubo de raios X com alvo de cobre, ânodo aterrado e resfriamento forçado por ar. Corrente do tubo ajustável: 0–4 mA; tensão do tubo: 30 kV. Operação via computador ou controle por tela sensível ao toque. Movimento sincronizado do tubo de raios X e do detector; mesa rotativa acionada eletricamente. Consumo total de energia: ≤2 kW. Mais notavelmente, sua capacidade de manuseio de amostras inclui lingotes de cristal pesando até 30–180 kg, com dimensões máximas de 350 mm de diâmetro e 480 mm de comprimento. Essas capacidades o tornam adequado para a detecção de grandes amostras na maioria dos cenários industriais. 05 Aplicações Amplas que Oferecem Suporte a Múltiplos Setores Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda são amplamente utilizados em vários setores envolvidos na pesquisa, processamento e fabricação de materiais cristalinos. Na indústria de semicondutores, eles permitem o corte de orientação precisa de wafers de silício. No campo da optoeletrônica, eles são usados ​​para processamento de precisão de substratos de safira, cristais ópticos e cristais de laser. No setor de materiais piezoelétricos, eles garantem medições precisas do ângulo de corte para um desempenho estável do produto final. Os instrumentos são particularmente adequados para materiais de safira, muito procurados devido à sua dureza, alta transmitância de luz e excelente estabilidade físico-química. A safira é amplamente utilizada em substratos de LED, telas de eletrônicos de consumo e janelas ópticas. Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda se tornaram ferramentas essenciais nos campos de pesquisa e fabricação de materiais de cristal da China, graças ao seu desempenho confiável, configurações diversas e forte adaptabilidade. Seu design modular e a variedade de opções de estágio de amostra permitem que os usuários selecionem configurações que atendam a necessidades específicas, garantindo alta precisão de detecção e melhorando a eficiência do trabalho. Seja para instituições de pesquisa ou para controle de qualidade de fabricação e otimização de processos, esses instrumentos fornecem suporte técnico robusto, capacitando os usuários a alcançar avanços na fabricação de precisão.

2025/08/26
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Confiável mundialmente: o analisador de orientação de raios X da Dandong Tongda recebe certificações multinacionais

Confiável mundialmente: o analisador de orientação de raios X da Dandong Tongda recebe certificações multinacionais No atual cenário global em rápida evolução de semicondutores, dispositivos ópticos e ciência dos materiais, a medição precisa da orientação de cristais tornou-se crucial para aprimorar a qualidade do produto e a eficiência da produção. Como desenvolvedora e fabricante especializada na área de instrumentos de análise de raios X, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. anuncia o lançamento de seu Analisador de Orientação de Raios X de alto desempenho. Este instrumento integra tecnologia avançada de difração de raios X com algoritmos inteligentes, fornecendo soluções de medição de orientação rápidas e precisas para indústrias relacionadas a cristais em todo o mundo. Princípio técnico: a integração perfeita da difração de raios X e da medição de precisão O Analisador de Orientação de Raios X opera com base na lei de difração de Bragg. Quando os raios X incidem na superfície do cristal, os planos atômicos regularmente dispostos dentro do cristal geram fenômenos de difração em ângulos específicos. Ao capturar esses sinais de difração com detectores de precisão e calcular os ângulos de difração, o instrumento pode determinar com precisão a orientação do cristal, fornecendo dados confiáveis ​​para corte e processamento subsequentes. Comparada aos métodos tradicionais de orientação, a tecnologia de orientação de cristais por raios X oferece vantagens significativas por ser não destrutiva, de alta precisão e altamente eficiente, garantindo resultados de medição confiáveis ​​sem danificar a amostra. O instrumento atinge uma precisão de medição de ± 30 segundos de arco (± 30″), com uma leitura mínima de 10 segundos de arco, atendendo aos requisitos de orientação da grande maioria dos materiais cristalinos. Série de produtos: Soluções abrangentes para diversas necessidades de aplicação Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incluem principalmente dois modelos básicos: o TYX-200 e o TYX-2H8. O modelo TYX-200, como versão base, apresenta um display digital com leitura mínima de 10″ e precisão de medição de ±30″, tornando-o adequado para necessidades rotineiras de orientação de materiais cristalinos. O modelo TYX-2H8 é uma atualização abrangente do TYX-200, apresentando uma estrutura de goniômetro aprimorada, trilhos de suporte de carga aprimorados e um estágio de amostra elevado. O TYX-2H8 pode medir amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Certas configurações podem até ser estendidas para lidar com amostras pesando de 30 a 180 kg, com diâmetros de até 350 mm e comprimentos de até 480 mm. Para requisitos de pesquisa mais complexos, a empresa também oferece os Analisadores de Orientação de Raios X da série TDF, que utilizam tecnologia de controle PLC importada, oferecem uma faixa de tensão de tubo de 10 a 60 kV e permitem funcionalidades mais amplas, incluindo orientação de cristal único, detecção de defeitos e determinação de parâmetros de rede. Aplicações funcionais: uma ferramenta essencial para o processamento de cristais em vários setores O Analisador de Orientação de Raios X pode determinar com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos e, em coordenação com máquinas de corte, realizar o corte orientado. É um instrumento indispensável para a usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. Na indústria de semicondutores, o instrumento é amplamente utilizado para inspecionar lingotes, wafers e chips, controlando processos como corte, retificação e polimento para garantir o desempenho consistente de dispositivos semicondutores. Para processamento de cristais ópticos e cristais a laser, o instrumento pode determinar com precisão a orientação dos cristais, garantindo que o desempenho óptico dos dispositivos ópticos atenda aos requisitos de projeto e melhorando o rendimento do produto. Particularmente na área de processamento de cristais de safira, o instrumento pode atender simultaneamente aos requisitos de medição para as orientações dos cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável eletricamente de 0 a 45°, adaptando-se a necessidades complexas de processamento. Na indústria de joias e pedras preciosas, o instrumento auxilia na orientação precisa de pedras preciosas, aumentando a precisão do corte e o valor dos produtos acabados, ajudando os fabricantes a maximizar os efeitos ópticos e o valor comercial das pedras preciosas. Características do produto: Design inovador que aprimora a experiência do usuário Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incorporam vários recursos inovadores que melhoram significativamente a praticidade e a confiabilidade do instrumento. Fácil operação: o instrumento pode ser operado sem conhecimento profissional ou habilidade extensa, diminuindo a barreira de uso e reduzindo o tempo de treinamento de pessoal. Visor digital: o visor digital de ângulo proporciona observação intuitiva, reduz erros de leitura e pode ser zerado em qualquer posição, facilitando a exibição direta do desvio do ângulo do wafer. Design eficiente: alguns modelos são equipados com goniômetros duplos que podem operar simultaneamente, melhorando muito a eficiência da inspeção. Precisão aprimorada: um integrador especial com amplificação de pico melhora a precisão da detecção, e uma placa de amostra de sucção a vácuo garante um posicionamento estável da amostra. Confiabilidade e durabilidade: O design integrado do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão utiliza um módulo de alta tensão CC, garantindo uma operação estável a longo prazo. Proteção de Segurança: O instrumento utiliza vidro de chumbo de alta densidade e alta transmitância como escudo protetor contra raios X. A dose de radiação externa não excede 0,1 µSv/h, atendendo aos padrões internacionais de segurança. Configuração de palco de amostra: adaptação flexível a diversas necessidades de medição Para atender aos requisitos de medição de amostras de diferentes formatos e tamanhos, a Dandong Tongda Technology oferece várias configurações de estágio de amostra: Plataforma de Amostragem Tipo TA: Projetada especificamente para hastes de cristal cilíndricas, equipada com trilhos de suporte de carga. Pode medir hastes de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e pode medir a superfície de referência de cristais em forma de haste ou a superfície de wafers de cristal em forma de folha. Platina de amostra tipo TB: Também projetada para hastes de cristal cilíndricas, ela incorpora trilhos de suporte em forma de V e pode medir hastes de cristal de até 500 mm de comprimento, tornando-a particularmente adequada para medir as faces finais de cristais em forma de haste. Platina de Amostragem Tipo TC: Utilizada principalmente para detectar a superfície de referência da circunferência externa de wafers de cristal único, como silício e safira. Seu design aberto supera problemas de obstrução de raios X e imprecisões de posicionamento causadas por placas de sucção. Plataforma de Amostragem Tipo TD: Projetada especificamente para medições multipontos de wafers como silício e safira. A lâmina pode ser girada manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender aos requisitos específicos de medição do cliente. Mercado global: capacitando clientes internacionais a alcançar avanços tecnológicos Os produtos da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. entraram com sucesso no mercado internacional, exportando para diversos países e regiões, incluindo Estados Unidos, Coreia do Sul, Irã, Azerbaijão, Iraque e Jordânia. Seguindo os princípios de "Cliente em Primeiro Lugar, Produto em Primeiro Lugar, Serviço em Primeiro Lugar", a empresa oferece aos usuários globais produtos de alta tecnologia e alta qualidade, além de suporte técnico abrangente. Para clientes no exterior, a empresa oferece consultoria técnica completa e serviço pós-venda, incluindo treinamento operacional, suporte de manutenção e fornecimento de peças de reposição, garantindo que os usuários não tenham preocupações. Atendendo às necessidades de clientes em diferentes regiões, a empresa também pode fornecer soluções personalizadas, incluindo projeto especial de estágio de amostra e ajustes de software de medição, garantindo que o instrumento se adapte perfeitamente a cenários de aplicação específicos. Interfaces de operação multilíngues e documentação técnica detalhada em inglês reduzem ainda mais a barreira de uso para clientes no exterior e aprimoram a experiência do usuário internacional. O Analisador de Orientação de Raios X da Dandong Tongda Technology não é apenas uma ferramenta de medição, mas um parceiro estratégico para aumentar a competitividade corporativa. Ele pode reduzir significativamente o ciclo de P&D de materiais cristalinos, otimizar os processos de produção, garantir a qualidade do produto e criar valor tangível para a indústria global de fabricação de cristais. Seja na fabricação de chips semicondutores, no processamento de componentes ópticos ou na pesquisa de novos materiais, escolher a Dandong Tongda Technology significa optar por uma solução de orientação de cristais confiável, eficiente e precisa.

2025/10/23
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A luz da tecnologia ilumina o futuro da pesquisa de cristais

O instrumento de orientação automática de raios X é um dispositivo que usa o princípio de difração de raios X para determinar a estrutura cristalina, orientação e parâmetros de rede. Ele tem uma ampla gama de aplicações em ciência de materiais, geologia, física e química, especialmente no estudo da microestrutura e propriedades de monocristal, materiais policristalinos e materiais de filme fino. O seguinte fornecerá uma introdução detalhada ao princípio de funcionamento, aplicação e precauções operacionais do orientador de cristal de raios X. Com o avanço da tecnologia, os dispositivos de instrumentos de orientação de raios X automáticos continuam a melhorar, com maior resolução e operação mais fácil. Ao mesmo tempo, a combinação com outras técnicas analíticas, como microscopia eletrônica e análise espectroscópica, torna a análise da estrutura cristalina mais abrangente e aprofundada. Além disso, dispositivos analisadores de orientação de raios X de monitoramento portátil e online se desenvolveram gradualmente, fornecendo possibilidades para análise no local e monitoramento em tempo real. Em resumo, o analisador de orientação de raios X é uma ferramenta analítica poderosa que é crucial para entender e controlar a microestrutura de materiais. Com o desenvolvimento contínuo da tecnologia, sua aplicação em vários campos se tornará mais extensa e aprofundada.

2024/11/27
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Desvende os segredos do mundo microscópico dos cristais

O analisador de orientação de raios X é um dispositivo que usa o princípio da difração de raios X para determinar a orientação do cristal. É amplamente usado em campos como ciência de materiais, geologia, física, etc., para estudar estrutura de cristal, parâmetros de rede, defeitos de cristal, etc. O princípio de funcionamento de um analisador de orientação de raios X é irradiar um feixe de raios X monocromático no cristal em teste. Quando o raio X interage com átomos no cristal, ocorre espalhamento. De acordo com a lei de Bragg, quando o comprimento de onda dos raios X é um múltiplo inteiro do espaçamento atômico em um cristal, a luz espalhada interferirá e formará uma série de listras brilhantes e escuras alternadas, conhecidas como reflexão de Bragg. Ao medir os ângulos e intensidades dessas reflexões de Bragg, informações como orientação do cristal e parâmetros de rede podem ser calculadas. O analisador de orientação de raios X geralmente inclui as seguintes partes principais: 1. Fonte de raios X: um dispositivo que produz raios X monocromáticos, normalmente usando um tubo de raios X ou uma fonte de radiação síncrotron. 2. Plataforma de amostra: uma plataforma usada para colocar o cristal a ser testado, que pode ajustar a posição e o ângulo do cristal. 3.Detector: usado para receber raios X dispersos e convertê-los em sinais elétricos. Detectores comuns incluem contadores de cintilação, contadores proporcionais, etc. 4.Sistema de aquisição e processamento de dados: usado para coletar sinais emitidos por detectores e executar processamento e análise de dados. Geralmente inclui analisadores multicanal, computadores e outros equipamentos. 5. Sistema de controle: usado para controlar o movimento da fonte de raios X, do estágio da amostra e do detector para obter medições de cristais em diferentes direções. Ao usar um analisador de orientação de raios X, os pesquisadores podem determinar com precisão a orientação e os parâmetros de rede dos cristais, obtendo assim uma compreensão mais profunda de sua estrutura e propriedades. Isso é de grande importância para o desenvolvimento de novos materiais, exploração geológica, crescimento de cristais e outros campos.

2024/11/04
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