A Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. lança seu difratômetro de raios X de alta resolução, o TD-3700, que apresenta varredura em modo duplo e detecção de alta velocidade, proporcionando uma eficiência dezenas de vezes maior. Ele oferece soluções rápidas e precisas para análise de materiais nas áreas química, de petróleo, energia e eletrônica, com maior segurança e operação intuitiva.

O difratômetro de raios X de cristal único TD-5000, da Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd., oferece precisão excepcional (0,0001°), eficiência e segurança. Equipado com um goniômetro kappa de quatro círculos e detector PILATUS, ele permite análises precisas da estrutura cristalina 3D para ciência dos materiais, indústria farmacêutica e geologia, demonstrando a inovação de ponta da China em instrumentos de medição.

O difratômetro de raios X TD-3500 oferece precisão excepcional com repetibilidade de 0,0001° e controle PLC avançado. Este instrumento versátil realiza análises abrangentes de materiais em pós, filmes e amostras a granel, garantindo máxima segurança por meio de mecanismos de dupla proteção. Adotado por laboratórios internacionais, ele estabelece novos padrões em desempenho analítico e confiabilidade para aplicações de pesquisa em todo o mundo.

A Dandong Tongda lança o TD-Mini, um analisador de tensão por raios X portátil. Ele integra uma fonte de microfoco e um detector de área para fornecer precisão de nível laboratorial para testes em campo. Ideal para os setores de manufatura industrial, aeroespacial e de energia, oferece medições rápidas e confiáveis.

A Dandong Tongda lança seu novo Analisador de Tensões Residuais TD-RSD. Este instrumento avançado de raios X garante medições de alta precisão e eficiência, além de conformidade global, para maior segurança e qualidade nos processos de fabricação em todo o mundo.

O analisador de cristais por raios X da série TDF da Dandong Tongda representa um avanço significativo da China em instrumentos analíticos de alta tecnologia, desenvolvidos internamente. Ele oferece análises de estrutura cristalina precisas, seguras e confiáveis ​​para pesquisa e desenvolvimento em ciência de materiais e produtos farmacêuticos em todo o mundo.

Os orientadores de cristal por raios X da Dandong Tongda (precisão de ±30 segundos de arco, capacidade de carga de 30 kg) proporcionam orientação precisa para cristais piezoelétricos, ópticos, laser e semicondutores. Com modelos e plataformas de amostra especializados, esses sistemas dão suporte à pesquisa e fabricação de cristais em todo o mundo, consolidando o reconhecimento internacional dos instrumentos de precisão chineses.

Os orientadores de cristal por raios X da Dandong Tongda (precisão de ±30 segundos de arco, capacidade de carga de 30 kg) proporcionam orientação precisa para cristais piezoelétricos, ópticos, laser e semicondutores. Com modelos e plataformas de amostra especializados, esses sistemas dão suporte à pesquisa e fabricação de cristais em todo o mundo, consolidando o reconhecimento internacional dos instrumentos de precisão chineses.

O difratômetro de raios X TD-3500 da Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. oferece análises precisas de materiais para diversos setores industriais. Seu goniômetro de alta precisão e o controle PLC patenteado garantem resultados confiáveis ​​e operação intuitiva, oferecendo uma solução versátil para clientes em todo o mundo.

A Dandong Tongda, fabricante chinesa líder, produz orientadores de cristal de raios X avançados. Utilizando difração de raios X, esses instrumentos permitem a medição precisa do ângulo de corte e o corte direcional de diversos cristais. Modelos importantes como o TYX-200 e o TYX-2H8 oferecem alta precisão (±30″), grande capacidade de amostra, operação intuitiva e detecção eficiente. Amplamente utilizados nas áreas de semicondutores, óptica e pesquisa, esses instrumentos de classe mundial são certificados, patenteados e exportados globalmente.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. É usado principalmente para orientação de cristais simples, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristais simples.