As propriedades dos materiais são frequentemente determinadas pela sua composição de fases, e o XRD é amplamente utilizado como um dos principais meios de análise de fases.

O grau de grafitização refere-se ao quão próxima a estrutura cristalina do material de grafite se assemelha ao grafite perfeito após reorganizar a estrutura amorfa do carbono.

Uma equipe de pesquisa do Instituto Hefei de Ciências Físicas da Academia Chinesa de Ciências conduziu recentemente um estudo propondo um novo método para melhorar a detecção de raios X, incorporando cristais peritéticos CsPb2Br5 fora de fase em materiais de bloco CsPbBr3.

A difração de raios X é uma técnica básica para o estudo da estrutura sólida, que pode fornecer informações espectrais únicas para a composição química e arranjo estrutural das amostras.

XRD é o sistema de difratômetro de raios X mais avançado do mundo atualmente, com design preciso e funções completas, e pode se adaptar de forma flexível a diversas determinações de microestruturas, como pó.

Fundada em 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é uma empresa nacional de alta tecnologia com instrumentos de análise de raios X e instrumentos de teste não destrutivos de raios X como seus principais produtos

Recentemente, o Ministério da Ciência e Tecnologia anunciou a lista do segundo lote de projetos-chave no âmbito do Plano Nacional de Pesquisa e Desenvolvimento de 2023 "Condições básicas de pesquisa científica e pesquisa e desenvolvimento de principais instrumentos e equipamentos científicos".

Diferentes formas cristalinas do mesmo medicamento podem diferir significativamente em aparência, solubilidade, ponto de fusão, etc., afetando a estabilidade, produção, biodisponibilidade e segurança do medicamento.

XRD é um método de pesquisa para obter informações como a composição do material, moléculas dentro do material por difração de raios X e análise de seu padrão de difração. ​

A difração de raios X é um método para estudar a fase e a estrutura cristalina de uma substância usando o fenômeno de difração dos raios X em um cristal.

Cientistas liderados pela NTU Cingapura desenvolveram e simularam um novo método de economia de energia que pode produzir raios X altamente focados e controlados com precisão, mil vezes mais fortes que os métodos convencionais.

A técnica de difração de raios X é frequentemente usada para detectar a qualidade do cristal de wafers e wafers epitaxiais.