Como uma empresa renomada na área de instrumentos de precisão domésticos, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. lançou uma série de porta-amostras multifuncionais. Com alta precisão, design modular e amplos cenários de aplicação, esses produtos se tornaram um dos principais equipamentos em análise de materiais, difração de raios X (XRD) e outras áreas. Funções Principais: Atender Diversas Necessidades Analíticas Análise da Estrutura do Material: Usado para detecção de fase cristalina, análise de grau de orientação (textura) e testes de estresse residual, dando suporte à análise de materiais como metais, cerâmicas e filmes finos. A rotação no plano (eixo β) elimina a orientação preferencial, garantindo a reprodutibilidade dos dados de intensidade de difração. Função de simulação ambiental: Módulos opcionais de atmosfera de alta temperatura, baixa temperatura ou vácuo (por exemplo, dispositivos de controle de temperatura de nitrogênio líquido) suportam testes de temperatura variável de -196 °C a 1000 °C, atendendo a requisitos especiais para materiais supercondutores de alta temperatura, tratamento de superfície metálica e muito mais. Automação e Inteligência: O software de suporte permite digitalização automática, medição multiponto e análise de vinculação de dados, melhorando a eficiência da detecção. Campos de aplicação: da pesquisa científica aos testes industriais O suporte para amostras Dandong Tongda é amplamente utilizado nos seguintes campos: Ciência dos Materiais: Avaliação de textura de chapas metálicas laminadas, análise de orientação de cerâmicas e testes de estresse residual de filmes finos. Indústria de semicondutores: Análise de filmes multicamadas em substratos de silício (por exemplo, filmes magnéticos, revestimentos endurecidos). Energia e proteção ambiental: Pesquisa microestrutural em filmes supercondutores de alta temperatura, materiais de baterias e catalisadores. Ensino Superior e Pesquisa Científica: Ensino experimental e projetos de pesquisa em cristalografia, análise quantitativa de fases e muito mais. Conclusão: Uma ferramenta indispensável para microanálise de materiais O Suporte de Amostras Multifuncional Dandong Tongda, com seu controle de movimento de alta precisão, flexibilidade modular e ampla adaptabilidade a ambientes, tornou-se uma ferramenta indispensável para microanálise de materiais. Suas vantagens técnicas estão profundamente enraizadas nos anos de experiência acumulada pela empresa em tecnologia de difração de raios X, combinando precisão de nível de pesquisa com confiabilidade de nível industrial para ajudar os usuários a desvendar os segredos das propriedades dos materiais em escala microscópica. O estágio multifuncional de amostra serve como as "mãos e os pés" da observação e medição de precisão modernas, apresentando amostras com precisão dentro do "campo de visão" dos instrumentos analíticos. Sua seleção determina diretamente a viabilidade, eficiência e confiabilidade dos experimentos. Compreender seus princípios básicos, classificações funcionais e especificações técnicas é fundamental para selecionar e utilizar este equipamento de forma eficaz.

O suporte rotativo para amostras é um dispositivo experimental utilizado para o controle preciso da orientação da amostra, amplamente utilizado em áreas como difração de raios X (XRD), análise espectroscópica e testes de materiais. Ao girar a amostra, a orientação preferencial pode ser eliminada, melhorando a precisão e a repetibilidade da medição. 1. A função principal do suporte de amostra rotativo (1) Eliminação da orientação preferencial: Ao girar o plano da amostra (eixo β), os erros de difração causados ​​por grãos grossos ou textura são reduzidos, garantindo a reprodutibilidade da intensidade da difração. (2) Medição de múltiplas posições: realize medições de múltiplos ângulos em amostras irregulares (como grãos), calcule a média dos dados em diferentes posições e melhore a precisão e a repetibilidade dos resultados. (3) Operação automatizada: alguns dispositivos suportam rotação automática e troca de amostra para melhorar a eficiência do teste (como o suporte de amostra rotativo totalmente automático XRD). 2. Características técnicas do porta-amostras rotativo (1) Projeto estrutural: Modo de acionamento: a rotação precisa é obtida por meio de mecanismos como motores, eixos, engrenagens e cremalheiras, e alguns equipamentos são equipados com servomotores e codificadores para corrigir a velocidade. Dispositivo de fixação: A amostra é fixada por um grampo de compressão, slot para cartão ou bloco de fixação, e o lado interno é parcialmente fixado com uma camada de borracha para se adaptar a diferentes materiais. Parâmetros de rotação: A velocidade de rotação pode atingir 1-60 RPM, com uma largura mínima de passo de 0,1 º e suporta modos contínuos ou escalonados. (2) Adaptabilidade: Pode ser instalado em instrumentos XRD, sistemas de testes ópticos/elétricos, etc., suportando múltiplos suportes de amostra (como sondas reflexivas, acessórios de bateria in-situ, etc.). Alguns dispositivos suportam rotação de 360° e são compatíveis com vários requisitos de medição, como óptica e eletrônica. 3. Cenários de aplicação do suporte rotativo de amostras (1) Difração de raios X (XRD): Usado para analisar amostras com textura ou cristalografia (como materiais metálicos, filmes finos), para eliminar a influência da orientação preferencial nos resultados de difração. O modelo totalmente automático pode melhorar a eficiência dos testes de múltiplas amostras, reduzir o número de vezes que as portas são abertas e fechadas e prolongar a vida útil do equipamento. (2) Análise espectral e testes de materiais: Utilizado para medir amostras irregulares (como grãos) com sondas reflexivas, girando e calculando a média de dados espectrais em diferentes posições. Adapta-se a ambientes in situ de altas e baixas temperaturas e suporta condições experimentais complexas. (3) Experimento multifuncional: Combinando sondas e suportes de amostras elétricos ou ópticos, é possível obter testes abrangentes de características elétricas, morfologia de superfície e outras características. O suporte rotativo para amostras resolve o problema de erro de medição causado pela orientação preferencial dos estágios fixos tradicionais de amostras, controlando com precisão a orientação da amostra. Ao mesmo tempo, sua automação e adaptabilidade a múltiplas cenas o tornam uma ferramenta essencial em áreas como XRD e análise espectral. A seleção específica precisa ser compatível com o modelo correspondente, com base em requisitos experimentais, como precisão de rotação, tipo de amostra e nível de automação.

O suporte de amostra rotativo em um difratômetro de raios X é um componente-chave usado para ajuste preciso e fixação da posição da amostra, a amostra pode girar dentro de seu próprio plano, o que é benéfico para erros causados ​​por grãos grossos. Para amostras com textura e cristalografia, o suporte de amostra rotativo garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração e elimina a orientação preferencial. Princípio de funcionamento do suporte de amostra rotativo: Quando o difratômetro de raios X está funcionando, raios X de alta energia gerados pela fonte de raios X são irradiados na amostra fixada no estágio de amostra rotativo. Devido à estrutura cristalina específica e aos parâmetros de rede da amostra, os raios X sofrerão fenômenos de espalhamento, absorção e difração ao interagir com a amostra, onde os fenômenos de difração ocorrem de acordo com os requisitos da equação de Bragg. O suporte de amostra rotativo pode girar em ângulos menores de acordo com a configuração, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em ângulos diferentes, obtendo assim padrões de difração em ângulos diferentes. Dessa forma, o detector pode medir a intensidade de raios X após a difração da amostra e convertê-la em um sinal elétrico a ser transmitido ao computador para processamento de dados. A principal função do suporte rotativo de amostras é: Método de rotação: eixo β (plano de amostra) Velocidade de rotação: 1~60RPM Largura do passo pequeno: 0,1 º Modo de operação: rotação de velocidade constante para varredura de amostra (etapa, contínua) Vantagens do suporte rotativo de amostras: O suporte de amostra giratório pode melhorar a precisão dos dados de difração: Para amostras com pó irregular ou formas de partículas, a característica de orientação preferencial é propensa a ocorrer durante a preparação convencional de amostra de pó, resultando em desvios na distribuição da intensidade de difração e afetando a precisão da análise do resultado de difração. Girar o estágio da amostra pode mover a amostra em uma certa forma em um espaço apropriado, eliminando a influência da orientação preferencial até certo ponto, melhorando assim a precisão dos dados de difração. O suporte de amostra rotativo pode se adaptar a várias necessidades de teste: capaz de se adaptar a diferentes tipos de instrumentos de medição de ângulo de difração de raios X, como instrumentos de medição de ângulo vertical, equipamento de difração de pó compacto de baixa potência, etc., proporcionando conveniência para diferentes necessidades de teste. E o suporte de amostra rotativo pode atender aos requisitos de várias amostras e condições de teste ajustando parâmetros como velocidade e direção. O suporte de amostra rotativo pode expandir as capacidades analíticas do instrumento: Novos tipos de estágios de amostra rotativos estão sendo constantemente desenvolvidos e aplicados, como alguns estágios de amostra para análise de difração de raios X eletroquímica in situ, que podem monitorar e analisar as mudanças de materiais em diferentes ambientes ou condições em tempo real, expandindo as capacidades de análise do equipamento de difração de raios X. Em resumo, o suporte giratório de amostras no difratômetro de raios X é crucial para obter com precisão informações sobre a estrutura cristalina de substâncias. O suporte giratório de amostras pode não apenas melhorar a precisão dos dados de difração, mas também se adaptar a várias necessidades de testes e expandir as capacidades analíticas do instrumento.

O suporte de amostra multifuncional em um difratômetro de raios X é um dispositivo usado para colocar e fixar amostras, com múltiplas funções e recursos. Ele pode testar quantidades vestigiais de amostras de pó, bem como amostras que são em forma de folha, de tamanho grande, irregulares, não podem ser cortadas ou moídas em pó. Suporte e fixação de amostra multifuncional: O suporte de amostra pode fixar firmemente a amostra, garantindo que ela permaneça estável durante a difração de raios X e evitando que a precisão e a confiabilidade dos dados de difração sejam afetadas pelo movimento da amostra. Ajuste de altura e ângulo do suporte de amostra multifuncional: Ele tem a função de ajustar altura e ângulo, e pode ajustar de forma flexível a distância e o ângulo relativo entre a amostra e o tubo de raios X e o detector de acordo com o tamanho, formato e requisitos de detecção de diferentes amostras, a fim de obter o melhor efeito de difração. Função de rotação do suporte de amostra multifuncional: Algumas mesas de amostra podem girar, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em diferentes ângulos, obtendo assim mais informações de difração de diferentes ângulos, o que ajuda a analisar de forma abrangente a estrutura cristalina e a orientação da amostra. Adaptação do suporte de amostra multifuncional: ele pode se adaptar a diferentes tipos de amostras, como sólidas, líquidas, em pó, etc. Ao substituir diferentes acessórios ou dispositivos de amostra, ele pode atender aos requisitos de teste de várias amostras. Controle ambiental do suporte de amostra multifuncional: Alguns suportes de amostra avançados também são equipados com sistemas de controle ambiental que podem testar amostras sob temperatura, umidade, atmosfera e outras condições específicas para simular os efeitos de diferentes ambientes nas amostras, expandindo ainda mais a faixa de aplicação dos difratômetros de raios X. O suporte de amostra multifuncional no difratômetro de raios X é um equipamento auxiliar poderoso, flexível e versátil, de grande importância para melhorar a precisão e a eficiência dos experimentos de difração de raios X.

O suporte de amostra multifuncional pode testar pequenas quantidades de amostras de pó, bem como amostras em forma de folhas, grandes ou irregulares, que não podem ser cortadas ou moídas em pó. É um equipamento experimental usado em pesquisas científicas e campos industriais para transportar, aquecer, girar e padronizar amostras, e é um acessório de difratômetros de raios X.

O suporte de amostra multifuncional é um dispositivo usado para fornecer flexibilidade e alta eficiência em várias pesquisas científicas e aplicações industriais. É comumente usado em análise de difração de raios X (XRD) e microscopia eletrônica, e é um acessório de difratômetros de raios X (acessório XRD). Como um acessório de difratômetros de raios X (acessório XRD) geralmente equipado com bancadas ajustáveis ​​para acomodar amostras de diferentes tamanhos e formas. O suporte de amostra multifuncional é uma das ferramentas indispensáveis ​​em laboratórios modernos e instituições de pesquisa. Ele promove muito o desenvolvimento de pesquisas científicas e aplicações industriais, fornecendo uma plataforma de processamento e análise de amostras flexível, eficiente e precisa. Seja nos campos da ciência dos materiais, biomedicina ou indústria eletrônica, o suporte de amostra multifuncional desempenha um papel importante em ajudar pesquisadores e engenheiros a entender melhor e melhorar seus assuntos de pesquisa.

O Suporte de Amostra Multifuncional pertence ao acessório de difratômetro de raios X (acessório XRD), que adota tecnologia de design avançada e ideias de design modular, e alcança funções como rotação, diferencial de elevação e resistência à oxidação em alta temperatura por meio da combinação de diferentes módulos. O Suporte de Amostra Multifuncional é adequado para várias tecnologias avançadas de crescimento e deposição de filme fino, incluindo MBE (epitaxia de feixe molecular), PLD (deposição de laser pulsado), pulverização catódica de magnetron e EB (evaporação de feixe de elétrons), e também pode ser usado para recozimento de substrato, desgaseificação em alta temperatura e modificação de material. O substrato do Suporte de Amostra multifuncional pode atingir uma temperatura máxima de aquecimento de 1100 ℃, e pode ser conectado a RF/DC, com auto rotação e uma velocidade de 0-20 revoluções por minuto. É continuamente ajustável e fornece posicionamento zero. O design modular permite que várias configurações de combinação sejam selecionadas, e o tamanho da amostra pode acomodar até 8 polegadas. Em resumo, o Suporte de Amostra multifuncional é um equipamento experimental poderoso e flexível, adequado para várias pesquisas científicas e aplicações industriais como um acessório de difratômetro de raios X (acessório XRD). O design modular e as múltiplas funções do estágio de amostra multifuncional o tornam uma ferramenta indispensável em laboratórios e produção industrial.