Que tipo de magia científica uma pequena plataforma contém?

O suporte de amostra rotativo em um difratômetro de raios X é um componente-chave usado para ajuste preciso e fixação da posição da amostra, a amostra pode girar dentro de seu próprio plano, o que é benéfico para erros causados ​​por grãos grossos. Para amostras com textura e cristalografia, o suporte de amostra rotativo garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração e elimina a orientação preferencial. Princípio de funcionamento do suporte de amostra rotativo: Quando o difratômetro de raios X está funcionando, raios X de alta energia gerados pela fonte de raios X são irradiados na amostra fixada no estágio de amostra rotativo. Devido à estrutura cristalina específica e aos parâmetros de rede da amostra, os raios X sofrerão fenômenos de espalhamento, absorção e difração ao interagir com a amostra, onde os fenômenos de difração ocorrem de acordo com os requisitos da equação de Bragg. O suporte de amostra rotativo pode girar em ângulos menores de acordo com a configuração, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em ângulos diferentes, obtendo assim padrões de difração em ângulos diferentes. Dessa forma, o detector pode medir a intensidade de raios X após a difração da amostra e convertê-la em um sinal elétrico a ser transmitido ao computador para processamento de dados. A principal função do suporte rotativo de amostras é: Método de rotação: eixo β (plano de amostra) Velocidade de rotação: 1~60RPM Largura do passo pequeno: 0,1 º Modo de operação: rotação de velocidade constante para varredura de amostra (etapa, contínua) Vantagens do suporte rotativo de amostras: O suporte de amostra giratório pode melhorar a precisão dos dados de difração: Para amostras com pó irregular ou formas de partículas, a característica de orientação preferencial é propensa a ocorrer durante a preparação convencional de amostra de pó, resultando em desvios na distribuição da intensidade de difração e afetando a precisão da análise do resultado de difração. Girar o estágio da amostra pode mover a amostra em uma certa forma em um espaço apropriado, eliminando a influência da orientação preferencial até certo ponto, melhorando assim a precisão dos dados de difração. O suporte de amostra rotativo pode se adaptar a várias necessidades de teste: capaz de se adaptar a diferentes tipos de instrumentos de medição de ângulo de difração de raios X, como instrumentos de medição de ângulo vertical, equipamento de difração de pó compacto de baixa potência, etc., proporcionando conveniência para diferentes necessidades de teste. E o suporte de amostra rotativo pode atender aos requisitos de várias amostras e condições de teste ajustando parâmetros como velocidade e direção. O suporte de amostra rotativo pode expandir as capacidades analíticas do instrumento: Novos tipos de estágios de amostra rotativos estão sendo constantemente desenvolvidos e aplicados, como alguns estágios de amostra para análise de difração de raios X eletroquímica in situ, que podem monitorar e analisar as mudanças de materiais em diferentes ambientes ou condições em tempo real, expandindo as capacidades de análise do equipamento de difração de raios X. Em resumo, o suporte giratório de amostras no difratômetro de raios X é crucial para obter com precisão informações sobre a estrutura cristalina de substâncias. O suporte giratório de amostras pode não apenas melhorar a precisão dos dados de difração, mas também se adaptar a várias necessidades de testes e expandir as capacidades analíticas do instrumento.

LEIA MAIS