A rotação do estágio da amostra duplica o efeito experimental

O suporte rotativo para amostras é um dispositivo experimental utilizado para o controle preciso da orientação da amostra, amplamente utilizado em áreas como difração de raios X (XRD), análise espectroscópica e testes de materiais. Ao girar a amostra, a orientação preferencial pode ser eliminada, melhorando a precisão e a repetibilidade da medição. 1. A função principal do suporte de amostra rotativo (1) Eliminação da orientação preferencial: Ao girar o plano da amostra (eixo β), os erros de difração causados ​​por grãos grossos ou textura são reduzidos, garantindo a reprodutibilidade da intensidade da difração. (2) Medição de múltiplas posições: realize medições de múltiplos ângulos em amostras irregulares (como grãos), calcule a média dos dados em diferentes posições e melhore a precisão e a repetibilidade dos resultados. (3) Operação automatizada: alguns dispositivos suportam rotação automática e troca de amostra para melhorar a eficiência do teste (como o suporte de amostra rotativo totalmente automático XRD). 2. Características técnicas do porta-amostras rotativo (1) Projeto estrutural: Modo de acionamento: a rotação precisa é obtida por meio de mecanismos como motores, eixos, engrenagens e cremalheiras, e alguns equipamentos são equipados com servomotores e codificadores para corrigir a velocidade. Dispositivo de fixação: A amostra é fixada por um grampo de compressão, slot para cartão ou bloco de fixação, e o lado interno é parcialmente fixado com uma camada de borracha para se adaptar a diferentes materiais. Parâmetros de rotação: A velocidade de rotação pode atingir 1-60 RPM, com uma largura mínima de passo de 0,1 º e suporta modos contínuos ou escalonados. (2) Adaptabilidade: Pode ser instalado em instrumentos XRD, sistemas de testes ópticos/elétricos, etc., suportando múltiplos suportes de amostra (como sondas reflexivas, acessórios de bateria in-situ, etc.). Alguns dispositivos suportam rotação de 360° e são compatíveis com vários requisitos de medição, como óptica e eletrônica. 3. Cenários de aplicação do suporte rotativo de amostras (1) Difração de raios X (XRD): Usado para analisar amostras com textura ou cristalografia (como materiais metálicos, filmes finos), para eliminar a influência da orientação preferencial nos resultados de difração. O modelo totalmente automático pode melhorar a eficiência dos testes de múltiplas amostras, reduzir o número de vezes que as portas são abertas e fechadas e prolongar a vida útil do equipamento. (2) Análise espectral e testes de materiais: Utilizado para medir amostras irregulares (como grãos) com sondas reflexivas, girando e calculando a média de dados espectrais em diferentes posições. Adapta-se a ambientes in situ de altas e baixas temperaturas e suporta condições experimentais complexas. (3) Experimento multifuncional: Combinando sondas e suportes de amostras elétricos ou ópticos, é possível obter testes abrangentes de características elétricas, morfologia de superfície e outras características. O suporte rotativo para amostras resolve o problema de erro de medição causado pela orientação preferencial dos estágios fixos tradicionais de amostras, controlando com precisão a orientação da amostra. Ao mesmo tempo, sua automação e adaptabilidade a múltiplas cenas o tornam uma ferramenta essencial em áreas como XRD e análise espectral. A seleção específica precisa ser compatível com o modelo correspondente, com base em requisitos experimentais, como precisão de rotação, tipo de amostra e nível de automação.

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