O Difratômetro de Raios X TDM-20 (XRD de Bancada) é utilizado principalmente para análise de fases de pós, sólidos e substâncias pastosas. Baseado no princípio da difração de raios X, ele permite análises qualitativas e quantitativas, bem como a análise da estrutura cristalina, de materiais policristalinos, como amostras em pó e metálicas. É amplamente utilizado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, mineralogia, segurança alimentar, petróleo e educação/pesquisa. Princípio fundamental: difração de raios X, a chave para o mundo microscópico O Difratômetro de Raios X TDM-20 opera com base no princípio da difração de raios X. Quando os raios X iluminam uma amostra, eles interagem com os átomos presentes na amostra e difratam. Diferentes estruturas cristalinas produzem padrões de difração únicos, semelhantes a impressões digitais individuais. Ao analisar esses padrões, o instrumento revela com precisão informações importantes sobre a estrutura cristalina da amostra, a composição de fases e muito mais, revelando os segredos ocultos no nível microscópico. Avanço de desempenho O Difratômetro de Raios X TDM-20 (XRD de Bancada) supera o padrão internacional anterior de 600 W, passando por uma atualização completa para 1600 W. O instrumento apresenta operação simples, desempenho estável e baixo consumo de energia. Pode ser equipado com um detector proporcional ou um novo detector de matriz de alta velocidade, resultando em um salto significativo no desempenho geral. Recursos do dispositivo Tamanho compacto e design leve Projeto de fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão para menor consumo geral de energia Suporta calibração e teste rápido de amostras Controle de circuito simplificado para fácil depuração e instalação A precisão linear do ângulo de difração de espectro total atinge ±0,01° Acessórios Ricos Compatível com vários acessórios, incluindo um detector de matriz 1D, detector proporcional, trocador automático de amostras de 6 posições e estágio de amostra rotativo. Conclusão O Difratômetro de Raios X TDM-20, com seu desempenho excepcional, operação fácil de usar e ampla gama de aplicações, tornou-se uma ferramenta indispensável em diversos setores e campos de pesquisa. Ele atua como um "detetive" do mundo microscópico, ajudando-nos a desvendar os mistérios da estrutura dos materiais e impulsionando o progresso em diversos domínios. Se você também busca se aprofundar nos segredos microscópicos da matéria, considere o TDM-20 para embarcar em uma jornada de pesquisa e produção precisa e eficiente.

O difratômetro de raios X de alta potência TDM-20 (XRD de bancada) é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O XRD de bancada é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. 1、Principais características do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): O carregamento do novo detector de matriz de alto desempenho melhorou muito o desempenho geral do dispositivo, com um tamanho pequeno e peso leve; A máquina inteira é integrada ao tamanho da área de trabalho (geralmente ≤ 1m³), economizando espaço e adequada para pequenos laboratórios ou ambientes de ensino; A potência de trabalho da fonte de alimentação de alta frequência e alta tensão pode chegar a 1600 W; Análise rápida, capaz de calibrar e testar amostras rapidamente; Ao usar detectores de alto desempenho (como detectores bidimensionais) e otimizar o caminho óptico, a varredura da amostra pode ser concluída em poucos minutos; Controle de circuito simples, fácil de depurar e instalar; A repetibilidade do ângulo pode chegar a 0,0001; Baixo consumo de energia e segurança, usando tubos de raios X de baixa potência (como ≤ 50 W), equipados com proteção contra radiação múltipla, sem necessidade de salas de blindagem especiais; Fácil de usar, equipado com software de automação, suportando operação com um clique, visualização de dados em tempo real e comparação de banco de dados padrão (como ICDD PDF). 2. Cenários típicos de aplicação do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): identificação rápida da estrutura cristalina e composição de fases (como metais, cerâmicas, polímeros). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Testes em locais industriais da pureza de cristais de matérias-primas ou produtos acabados (como produtos farmacêuticos e materiais de bateria). Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Ensino experimental de graduação, demonstrando visualmente o princípio de difração de Bragg. Ciência dos materiais do difratômetro de raios X (XRD de bancada): Análise da composição mineral de relíquias culturais ou triagem preliminar de amostras de campo. 3. Parâmetros técnicos do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Projeto: intervalo de parâmetros Fonte de raios X: alvo Cu (λ = 1,54 Å), alvo Mo opcional Tensão/corrente: 10-50 kV/0,1-2 mA Faixa do instrumento de medição de ângulo: 0-90 ° 2θ (alguns modelos podem ser estendidos) Resolução de ângulo: ≤ 0,01 ° Tipo de detector: detector de superfície linear unidimensional ou bidimensional Tamanho da amostra: Pó (miligramas), filme ou bloco 4. Vantagens e limitações do difratômetro de raios X de bancada TDM-20 (XRD de bancada): Vantagens: Baixo custo (cerca de 1/3-1/2 de XRD grande), fácil manutenção. Suporte para análises não destrutivas e preparação simples de amostras (como colocação direta de pó). limitações: A resolução e a sensibilidade são ligeiramente inferiores às de dispositivos de última geração e podem não ser adequadas para análises estruturais ultrafinas. Testes em condições extremas (como experimentos in situ de alta temperatura/alta pressão) geralmente não são viáveis.

O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 usa um novo detector de matriz de alto desempenho, e o carregamento deste detector melhorou muito o desempenho geral da máquina. O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 utiliza o princípio da difração de raios X para realizar análises qualitativas ou quantitativas, análises de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X de bancada é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica.

O difratômetro de raios X de alta potência TDM-20 (XRD de bancada) é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O princípio da difração de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. É amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica.

O difratômetro de raios X TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O difratômetro de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. Benchtop XRD é um equipamento experimental usado para analisar a estrutura cristalina de materiais. Benchtop XRD determina a estrutura cristalina, parâmetros de rede e composição de fase do material emitindo raios X e medindo o ângulo de difração e a intensidade após sua interação com a amostra.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O XRD de bancada utiliza o princípio do difratômetro de raios X para realizar análises qualitativas ou quantitativas, análises de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. O carregamento de um novo detector de matriz de alto desempenho levou a uma melhoria significativa no desempenho do XRD de bancada. O equipamento XRD de bancada tem pequeno volume e peso leve; A potência de trabalho da fonte de alimentação de alta tensão Benchtop XRD pode chegar a 1600 watts; O XRD de bancada pode calibrar e testar amostras rapidamente; O controle do circuito XRD de bancada é simples e fácil de depurar e instalar; A repetibilidade do ângulo XRD de bancada pode chegar a 0,0001.