ODifração de raios Xpadrão serve como a base mais confiável para determinar padrões policristalinos, e o padrão de difração de raios X é frequentemente considerado como o padrão"impressão digital"de padrões cristalinos. 

Os dados de difração de raios X obtidos após o teste de póDifratômetro de raios Xsão classificados nas três categorias a seguir: (1) A determinação do tipo policristalino pelo ângulo 2θ e espaçamento do plano cristalino (valor d) representa o arranjo e a informação posicional de átomos e moléculas na API do medicamento; é a informação característica do tipo de cristal. (2) A altura do pico, a força do pico e a força relativa do pico são as estatísticas da distribuição dos diferentes planos cristalinos no padrão cristalino, que é a informação característica do padrão cristalino da amostra e a base para a análise quantitativa do padrão cristalino. (3) FWHM indica o formato do pico dodifração pico, refletindo as propriedades do tamanho e formato do grão do policristal, e não serve como informação característica do tipo de cristal.