Oacessório de difração de pequeno ânguloÉ um componente especializado usado em instrumentos de difração de raios X, principalmente para a análise da estrutura e espessura de materiais em nanoescala.

1. Funções principais deacessórios de difração de pequeno ângulo

(1) Faixa de ângulo de difração: abrangendo uma pequena faixa de ângulo de 0°~5°, adequada para análise de difração de materiais em nanoescala.

(2) Aplicação principal: Pode testar com precisão a espessura de filmes nano multicamadas e apoiar o estudo da superfície do material ou da estrutura da interface.

2. Dispositivos compatíveis paraacessórios de difração de pequeno ângulo

Este acessório é geralmente usado em conjunto com difratômetros de raios X (como TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.).

3. Cenários de aplicação deacessórios de difração de pequeno ângulo

(1) Ciência dos Materiais: Caracterização de estruturas de nanofilmes e filmes multicamadas.

(2) Química e Engenharia Química: Tratamento de Superfície de Materiais, Teste de Espessura de Revestimento.

(3) Outras áreas: Análise em nanoescala de materiais como geologia, minerais, cerâmica e produtos farmacêuticos.

Tecnologia Co. de Dandong Tongda, Ltd.A empresa atua como fabricante líder desses acessórios, com seus instrumentos analíticos da série TD reconhecidos por atenderem ou se aproximarem dos padrões internacionais, sendo exportados para países como Estados Unidos e Azerbaijão. O acessório de difração de pequenos ângulos (SAD) da empresa foi projetado especificamente para integração perfeita com seus difratômetros de raios X da série TD, desenvolvidos internamente. Como ferramenta crucial para análise de nanomateriais e medição da espessura de filmes finos, este acessório deve ser usado em conjunto com instrumentos de difração de raios X especializados, com aplicações concentradas em áreas de ponta como ciência dos materiais e engenharia química. Tecnicamente, opera com base no princípio fundamental da difração de raios X e incorpora tecnologia avançada de Controlador Lógico Programável (CLP) importada, juntamente com uma filosofia de design modular herdada dos instrumentos da série TD. Essa abordagem de engenharia aprimora significativamente o nível de automação, a estabilidade operacional e a capacidade anti-interferência do equipamento. Ao utilizar este acessório, o escopo de aplicação dos difratômetros de raios X pode ser efetivamente expandido para abranger a caracterização microestrutural de diversos materiais avançados, incluindo filmes finos, materiais poliméricos e nanomateriais, fornecendo suporte técnico vital para a pesquisa de nanomateriais nos setores científico e industrial.