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Plataforma de Amostra Rotativa Dandong Tongda Technology: Um Parceiro de Rotação de Precisão para Análise de Difração de Raios X

2025-09-04 09:21

Nas áreas de ciência de materiais e testes industriais, a análise precisa de amostras depende de instrumentos confiáveis.O estágio de amostra rotativoproduzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. é precisamente um acessório crítico dedicado a melhorar a qualidade da análise de difração de raios X (XRD).

Na análise de difração de raios X, as características da própria amostra frequentemente representam desafios. Por exemplo, quando os grãos são excessivamente grosseiros, o material apresenta textura significativa (ou orientação preferencial ", significando que os grãos não estão dispostos aleatoriamente) ou a amostra possui hábitos cristalinos específicos (padrões de crescimento cristalino), a obtenção de dados de difração estatisticamente representativos e que reflitam verdadeiramente as propriedades gerais do material torna-se difícil.

Ao medir tais amostras com platinas de amostra estáticas tradicionais, a intensidade da difração pode ser distorcida devido aos fatores mencionados acima, afetando a precisão da identificação de fase, análise de textura e outras avaliações. A filosofia central de design da platina de amostra rotativa da Tongda Technology é abordar esses desafios, permitindo a rotação suave da amostra dentro de seu próprio plano.


Função principal: Eliminar erros de orientação e aumentar a confiabilidade dos dados

O princípio de funcionamento deste estágio rotativo de amostra é intuitivo e eficaz. Ao fazer a amostra girar continuamente ou em etapas, ele garante que o feixe de raios X abranja mais grãos com diferentes orientações na amostra durante a irradiação.

As principais vantagens desta abordagem são:

  • Redução Eficaz de Erros de Medição: Por meio do efeito de rotação média, ele atenua significativamente os desvios de medição causados ​​por grãos grossos ou orientação preferencial, tornando os dados de difração mais representativos das propriedades gerais do material.

  • Garantindo a reprodutibilidade dos resultados: Independentemente de a amostra ter textura ou não, ela garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração em múltiplas medições ou entre diferentes laboratórios, aumentando a confiabilidade e a comparabilidade dos dados.

  • Requisitos simplificados para preparação de amostras: Reduz até certo ponto as rigorosas exigências de preparação perfeita da amostra, melhorando a eficiência da análise.


Especificações técnicas: Controle de precisão e adaptabilidade flexível

O estágio de amostra rotativo da Dandong Tongda Technology oferece os seguintes parâmetros técnicos principais para atender às rigorosas demandas de pesquisa científica e testes industriais:

ParâmetroDescrição
Método de rotaçãoEixo β (a amostra gira dentro de seu próprio plano)
Faixa de velocidade de rotação1 ~ 60 RPM (rotações por minuto)
Ajustável com base em requisitos experimentais
Precisão de passoLargura mínima do degrau: 0,1º
Suporta varredura de posicionamento de alta precisão
Modos de operaçãoRotação de velocidade constante (para varredura de amostra), passo a passo, contínuo e outros modos
Adapta-se a vários fluxos de trabalho de teste e necessidades de aquisição de dados
Aplicações típicasControle de qualidade e P&D em indústrias como proteção ambiental e eletrônica
CompatibilidadeUsado principalmente como acessório para espectrômetros de difração de raios X (XRD)

Cenários de aplicação: atendendo às indústrias de proteção ambiental e eletrônica

Este estágio de amostra rotativonão é meramente uma peça de exibição "" no laboratório; ele atende diretamente indústrias com altos requisitos para análise de materiais, como proteção ambiental e eletrônica.

Em áreas como controle de qualidade, desenvolvimento de novos produtos e análise de falhas nesses campos, ele auxilia engenheiros e pesquisadores a conduzir análises de fase mais precisas em amostras de várias formas, incluindo pós, materiais a granel e filmes finos, garantindo a autenticidade e a confiabilidade dos dados.


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