Espectrômetro Dandong Tongda XAFS: uma ferramenta de análise de estrutura de materiais para o laboratório

Análise precisa da estrutura do material atômico sem dependência de fontes de radiação síncrotron.

Estrutura Fina de Absorção de Raios X (XAFS)A espectroscopia serve como uma técnica importante para investigar as estruturas atômicas e eletrônicas locais dos materiais, com amplas aplicações em catálise, pesquisa energética e ciência dos materiais.

A metodologia XAFS convencional depende principalmente de fontes de radiação síncrotron, o que apresenta desafios, incluindo disponibilidade limitada do feixe, procedimentos de aplicação complexos e a necessidade de transportar amostras para instalações científicas de grande escala para análise.Estrutura fina de absorção de raios Xdesenvolvido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. visa integrar essa sofisticada capacidade analítica em ambientes de laboratório padrão.

Principais vantagens e valor prático

O design deste instrumento aborda vários desafios críticos que os pesquisadores enfrentam:

1. Alternativa à radiação síncrotron baseada em laboratório: Elimina a dependência tradicional de fontes de radiação síncrotron, permitindo que os pesquisadores conduzam testes XAFS de rotina com eficiência em seus próprios laboratórios, aumentando significativamente a produtividade da pesquisa.

1. Capacidades de teste in situ: Suporta a integração de várias câmaras de amostra in situ (por exemplo, eletroquímicas, de temperatura variável), permitindo o monitoramento em tempo real de mudanças dinâmicas na estrutura atômica local do material sob condições operacionais simuladas (como reações catalíticas ou processos de carga/descarga de bateria), fornecendo insights valiosos sobre mecanismos de reação.

2. Operação automatizada para maior eficiência: Uma torre de amostra de 18 posições permite a troca automática de amostras, facilitando a medição automatizada contínua de múltiplas amostras e a operação não tripulada, agilizando assim a triagem de amostras em lote e experimentos in situ estendidos.

Amplo escopo de aplicação

O espectrômetro TD-XAFS encontra aplicações em vários campos que exigem investigação detalhada de estruturas locais de materiais:

• Novos Materiais de Energia: Análise de mudanças no estado de valência e estabilidade estrutural em materiais de eletrodos de baterias de íons de lítio durante processos de carga/descarga; investigação de ambientes de coordenação em sítios ativos catalíticos em células de combustível.

• Ciência da Catálise: Particularmente adequado para estudar estruturas de coordenação precisas de nanocatalisadores e catalisadores de átomo único, características do sítio ativo e suas interações com materiais de suporte, mesmo em baixas cargas de metal (<1%).

• Ciência dos Materiais: Investigação de estruturas desordenadas, materiais amorfos, efeitos de superfície/interface e processos dinâmicos de transição de fase.

• Ciência Ambiental: Análise de estados de valência e estruturas de coordenação de elementos de metais pesados ​​em amostras ambientais (por exemplo, solo, água), cruciais para avaliar toxicidade e mobilidade.

• Macromoléculas Biológicas: Estudo de estruturas eletrônicas e configurações geométricas de centros ativos metálicos em metaloproteínas e enzimas.

Resumo

O espectrômetro TD-XAFS da Dandong Tongda representa uma plataforma de teste de bancada doméstica de alto desempenho, projetada para universidades, instituições de pesquisa e centros de P&D corporativos. Ele incorpora com sucesso recursos de nível síncrotron em laboratórios convencionais, reduzindo substancialmente a barreira de acesso à tecnologia XAFS. O instrumento fornece aos pesquisadores ferramentas convenientes, eficientes e flexíveis para análise microscópica da estrutura de materiais, servindo como uma solução prática para cientistas que exploram o mundo microscópico da matéria.