Em áreas como ciência dos materiais, fabricação de semicondutores e biomedicina, Difratômetros de raios Xsão instrumentos essenciais para a caracterização de estruturas cristalinas, composições de fase e parâmetros de rede de materiais. A diversidade de formatos de amostras — pó, filmes finos, materiais a granel, monocristais, etc. — impõe exigências rigorosas à adaptabilidade desses equipamentos. Como um dos principais polos de produção da China paraDifratômetros de raios X,Dandong Tongdadesenvolveu e fabricou uma série deDifratômetros de raios Xque apresentam design modular e tecnologia de controle preciso do caminho óptico. Essas capacidades permitem compatibilidade com todos os cenários de amostras, desde pós até filmes finos, fornecendo suporte técnico confiável para pesquisa de materiais e inspeção de qualidade em diversos setores.

A análise eficiente de amostras em pó é um ponto forte fundamental deDifratômetros de raios X de Dandong Tongdae uma razão fundamental para seu uso generalizado em exploração geológica e P&D de materiais químicos. Para amostras em pó, esta série de instrumentos é equipada com porta-amostras dedicados que suportam métodos de preparação convencionais, como pastilhagem e espalhamento. A precisão de ajuste fino horizontal e angular do porta-amostras pode atingir 0,001°, garantindo paralelismo rigoroso entre a superfície da amostra e o caminho óptico incidente. Além disso, o detector de alta sensibilidade e o sistema óptico otimizado capturam com eficácia os sinais de pico característicos da difração de pó. Mesmo amostras de pó com traços de dopagem podem ser identificadas com precisão quanto à composição de fase. Por exemplo, no desenvolvimento de materiais catódicos para baterias de lítio, os pesquisadores podem usarDifratômetros de raios XAnalisar rapidamente a pureza cristalina do pó de fosfato de ferro e lítio e avaliar o grau de defeitos na rede cristalina, fornecendo orientações baseadas em dados para a otimização do desempenho do material.

Para atender às necessidades de caracterização precisa de amostras de filmes finos,Difratômetros de raios X de Dandong Tongda demonstram forte adaptabilidade técnica. Materiais de filme fino geralmente exibem características como espessura ultrafina (escala nanométrica a micrométrica), fraca adesão e suscetibilidade à interferência do substrato, dificultando a separação eficaz dos sinais de difração do filme e do substrato por difratômetros convencionais. Para solucionar esse problema, o Difratômetros de raios XO instrumento emprega a tecnologia de Difração de Raios X de Incidência Rasante (GIXRD). Ao controlar o raio X incidente para atingir a superfície da amostra em um ângulo muito pequeno (0,1°–2°), a interferência do sinal do substrato é significativamente reduzida, permitindo a análise focada da estrutura cristalina do filme fino. O suporte de amostras para filmes finos do instrumento também suporta fixação por adsorção a vácuo ou adesivo condutor, evitando o deslocamento das amostras durante os testes. Isso atende aos requisitos de detecção em áreas como revestimentos de chips semicondutores, filmes finos ópticos e dispositivos eletrônicos flexíveis. Por exemplo, em pesquisa e desenvolvimento de filmes finos para células solares, o instrumento pode analisar com precisão a cristalinidade e a orientação de filmes finos de perovskita, auxiliando no aumento da eficiência de conversão fotoelétrica das células.

Além de pós e filmes finos, oDifratômetros de raios XA adaptabilidade dos instrumentos a diferentes formatos de amostra pode ser ampliada por meio de acessórios modulares. Para amostras em massa e monocristalinas, podem ser instalados suportes específicos para permitir a rotação e o posicionamento tridimensional. Para materiais unidimensionais, como fibras e nanofios, os suportes para fibras garantem o alinhamento em direções específicas para a obtenção de dados de difração orientados. Além disso, os instrumentos oferecem recursos de teste in situ e podem ser combinados com módulos auxiliares, como módulos de alta/baixa temperatura ou alta pressão, para permitir o monitoramento dinâmico de estruturas de amostra sob diversas condições ambientais, ampliando assim seus cenários de aplicação.

Tendo como pano de fundo o rápido crescimento dos instrumentos científicos nacionais, Difratômetros de raios X de Dandong TongdaCom sua flexibilidade na adaptação a diferentes tipos de amostras e alta relação custo-benefício, os equipamentos eletrônicos romperam o monopólio de mercado dos equipamentos importados. Da pesquisa fundamental de materiais em laboratórios ao controle de qualidade em linhas de produção industrial, suas capacidades de análise precisa para diversas formas de amostra os tornam ferramentas vitais para impulsionar a inovação na ciência dos materiais e a modernização industrial.