Estrutura fina de absorção de raios XSpeito(XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.

O princípio deEspectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS):

Espectro de estrutura fina de absorção de raios X refere-se a espectros de alta resolução perto das bordas características dos elétrons do núcleo atômico que absorvem raios X. Quando a energia dos raios X é a mesma que a energia de excitação dos elétrons da camada interna do elemento medido, eles serão fortemente absorvidos, resultando em um limite de absorção (ou borda de absorção). Perto da borda de absorção, devido a múltiplos espalhamentos e outros motivos, o coeficiente de absorção dos raios X exibirá fenômenos oscilatórios, ou seja, estrutura fina.

2. Principais vantagens deEspectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS):

(1) O produto de fluxo luminoso mais alto, com um fluxo de fótons superior a 1.000.000 de fótons/segundo/eV e uma eficiência espectral várias vezes superior à de outros produtos; Obter qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron

(2) Excelente estabilidade, a estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1% e o desvio de energia repetido é menor que 50 meV

(3) Limite de detecção de 1%, alto fluxo de luz, excelente otimização do caminho óptico e excelente estabilidade da fonte de luz garantem que dados EXAFS de alta qualidade ainda possam ser obtidos quando o conteúdo do elemento medido for 1%.

3. Áreas de aplicação de  XAFS:

Catálise industrial, materiais de armazenamento de energia, nanomateriais, toxicologia ambiental, análise qualitativa, análise de elementos pesados, etc.

4. Principais características de XAFS:

(1) Ordenação de curto alcance: EXAFS depende de interações de curto alcance e não depende de ordenação de longo alcance.XAFS pode ser usado para estudar a estrutura de sistemas desordenados, como centros amorfos, líquidos, fundidos e catalisadores ativos.

(2) Especificidade do elemento: O método de fluorescência pode ser usado para medir amostras de elementos com concentrações tão baixas quanto um milionésimo. Ajustando a energia de raios X incidente, as estruturas vizinhas de átomos de diferentes elementos no mesmo composto podem ser estudadas.

(3) Características de polarização: Raios X polarizados podem ser usados ​​para medir ângulos de ligação atômica e estruturas de superfície em amostras orientadas.

OEspectro de estrutura fina de absorção de raios X, com seus princípios únicos, características significativas e amplos campos de aplicação, tornou-se uma ferramenta indispensável e importante em vários campos, como ciência de materiais, química catalítica e pesquisa energética, fornecendo forte suporte para exploração aprofundada de microestruturas de materiais e estados eletrônicos.