Estrutura fina de absorção de raios X(XAFS), também chamada de espectroscopia de absorção de raios X (XAS), é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais baseados na fonte de luz de radiação síncrotron e é amplamente utilizada em campos quentes, como catálise, energia e nano. 

OXAFSO espectro consiste em duas partes principais: estrutura próxima de absorção de raios X (XANES) e estrutura fina de absorção estendida de raios X (EXAFS).

EXAFS: A faixa de energia é de cerca de 50eV a 1000eV atrás da borda de absorção, que vem deRaio Xexcitação

A camada interna de fotoelétrons resulta de um único efeito de espalhamento de elétrons entre o átomo circundante e o átomo absorvente.

XANES: Uma faixa de cerca de 10eV antes da borda de absorção a cerca de 50eV após a borda de absorção, principalmente de

Raios X. Espalhamento múltiplo de elétrons únicos entre átomos circundantes e absorventes por fotoelétrons excitados da camada interna.

Campo de aplicação:

Catálise industrial, materiais de armazenamento de energia, nanomateriais, toxicologia ambiental, também análise de qualidade, análise de elementos pesados, etc.