ADifratômetro de raios Xopera direcionando um feixe de raios X para uma amostra, onde os raios X interagem com os átomos da amostra para gerar difração. Os padrões de difração são formados quando os raios X correspondem a múltiplos inteiros do espaçamento atômico na amostra, resultando em uma série de picos de difração. Através da análise da posição, intensidade e forma desses picos de difração, podemos deduzir a estrutura cristalina e a composição de fases da amostra.

Características do difratômetro de raios X

1. Alta sensibilidade: ORaio XO difratômetro é capaz de detectar quantidades mínimas de substâncias, tornando-o adequado para a análise de uma ampla gama de materiais cristalinos e amorfos.

2. Alta resolução: O difratômetro de raios X apresenta resolução excepcional, permitindo a diferenciação de substâncias com estruturas cristalinas distintas.

3. Análise rápida: A difratometria de raios X facilita a análise rápida da amostra, normalmente dentro de alguns minutos a dezenas de minutos.

4. Dados precisos: Utilizando um detector de alta precisão, o raio Xdifratômetroproduz dados precisos.

Aplicações do difratômetro de raios X

1. Análise da estrutura cristalina

2. Análise da composição de fases

3. Pesquisa do processo de crescimento de cristais

4. Pesquisa de propriedades de materiais