UMDifratômetro de raios Xopera direcionando um feixe de raios X em um espécime, onde os raios X interagem com átomos na amostra para gerar difração. Padrões de difração são formados quando raios X correspondem a múltiplos inteiros do espaçamento atômico na amostra, resultando em uma série de picos de difração. Por meio da análise da posição, intensidade e formato desses picos de difração, podemos deduzir a estrutura cristalina e a composição de fase do espécime.

Características do difratômetro de raios X

1. Alta sensibilidade: Araio XO difratômetro é capaz de detectar quantidades mínimas de substâncias, tornando-o adequado para a análise de uma ampla gama de materiais cristalinos e amorfos.

2. Alta resolução: O difratômetro de raios X apresenta resolução excepcional, permitindo a diferenciação de substâncias com estruturas cristalinas distintas.

3. Análise rápida: a difratometria de raios X facilita a análise rápida da amostra, normalmente em poucos minutos a dezenas de minutos.

4. Dados precisos: Utilizando um detector de alta precisão, o raio Xdifratômetroproduz dados precisos.

Aplicações do difratômetro de raios X

1. Análise da estrutura cristalina

2. Análise da composição de fases

3. Pesquisa do processo de crescimento de cristais

4. Pesquisa de propriedades de materiais