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XRD para equipamentos de caracterização de materiais

2023-10-10 10:00

A difração de raios X (XRD) é um meio de pesquisa para obter informações como a composição de um material, a estrutura ou forma de um átomo ou molécula interna, analisando seu padrão de difração por meio deDifração de raios X.

X-ray diffractionDifratômetro de raios X TDM-20


1. Estrutura do instrumento:

O difratômetro de raios X é composto principalmente de quatro partes: gerador de raios X, instrumento de medição de ângulo, sistema de medição de intensidade de raios X e controle do difratômetro e sistema de aquisição e processamento de dados de difração.


(1)Gerador de raios X:O gerador de raios X fornece os raios X necessários para a medição da fonte de raios X altamente estável. Alterando o alvo do ânodo doTubo de raios Xpode alterar o comprimento de onda do raio X e ajustar a tensão do ânodo pode controlar a intensidade da fonte de raios X.

(2)Goniômetro:O instrumento de medição de ângulo é o componente principal do difratômetro de raios X, que é composto principalmente de diafragma, fenda de divergência, fenda de recepção, fenda anti-espalhamento, base de amostra e detector de cintilação.

(3)Sistema de medição de intensidade de raios X:O detector comumente usado nodifratômetroé o contador de cintilação, que utiliza a fluorescência de comprimentos de onda na faixa da luz visível produzida pelos raios X em algumas substâncias sólidas (fosforescentes), e essa fluorescência é convertida em uma corrente elétrica que pode ser medida. Como a corrente de saída é proporcional à energia do fóton de raios X absorvida pelo contador, ela pode ser usada para medir a intensidade da linha de difração.

(4)Controle do difratômetro e sistema de aquisição e processamento de dados de difração:Após a conclusão da operação de digitalização, os dados de difração originais são automaticamente armazenados no disco rígido do computador para análise e processamento de dados. A análise e o processamento de dados incluem seleção de ponto de suavização, dedução de fundo, pesquisa automática de pico, cálculo de valor d, cálculo de intensidade de pico de difração e assim por diante.

TDM-20 X-ray Diffractometer

2. Recursos do instrumento:

(1) A combinação perfeita de sistema de hardware e sistema de software para atender às necessidades de diferentes campos de aplicação.

(2) Sistema de medição de ângulo de difração de alta precisão para obter resultados de medição mais precisos.

(3) Alta estabilidadeSistema de controle de gerador de raios Xeu, para obter uma precisão de medição repetida mais estável.

(4) Programa de exploração geoquímica, projeto de estrutura integrada, fácil operação, aparência mais bonita do instrumento.


3. Apreciação típica da morfologia

X-ray tubeX-ray diffraction


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