Suporte de amostra giratório

Suporte de amostra giratório

Na análise de difração de raios X (DRX) para áreas como ciência dos materiais, análise geológica e P&D farmacêutica, a orientação cristalina e a uniformidade dos grãos de uma amostra impactam diretamente a precisão e a reprodutibilidade dos dados. A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. projetou um Estágio de amostra de rotação de alta precisão Especificamente para difratômetros de raios X. Utilizando uma tecnologia exclusiva de rotação no plano, ela corrige eficazmente os erros de medição causados ​​por grãos grosseiros, textura ou hábito cristalino nas amostras, ajudando os usuários a obter resultados de difração mais autênticos e confiáveis.

Princípio técnico fundamental: Rotação no plano, Estatísticas de precisão

A função principal desta plataforma de amostra é impulsionar a amostra para que gire de forma contínua e estável dentro do seu próprio plano.

Eliminação de erros de grão grosso: Quando uma amostra contém um pequeno número de grãos grosseiros, o teste estático pode resultar em padrões de difração "spotty" não estatisticamente representativos. Ao girar continuamente a amostra sob o feixe de raios X, o estágio de rotação garante que o feixe irradie um número maior de grãos com diferentes orientações. Isso homogeneiza o sinal de difração, transformando pontos discretos em anéis de difração suaves e contínuos e reduzindo significativamente os erros de intensidade causados ​​por grãos grosseiros.

Perturbação da orientação preferencial (textura): Para amostras que foram desenvolvidas textura (ou seja, orientação preferencial dos grãos) durante o processamento ou crescimento, ou amostras com especificidade hábitos de cristalO teste rotacional garante que todos os planos cristalinos possíveis tenham igual oportunidade de difratar. Isso quebra a dominância da orientação fixa na intensidade de difração, produzindo dados de intensidade que realmente refletem a composição da fase e garantem a precisão da difração. excelente reprodutibilidade dos resultados das medições.

Principais parâmetros e funções de desempenho

Modo de rotação: Rotação em torno do eixo β (plano da amostra).

Velocidade de rotação: Ajustável a partir de 1 ~ 60 RPM (rotações por minuto), atendendo às necessidades de diferentes cenários de teste.

Modos de operação: Suportes rotação contínua de velocidade constante para exames de rotina, e modo de passo Para medições mais precisas.

Controle de alta precisão: Apresenta um largura mínima do degrau de 0,1°, garantindo um posicionamento rotacional preciso.

Ampla gama de cenários de aplicação

Este estágio de amostra rotativo é a escolha ideal para as seguintes aplicações:

Preparação e pré-tratamento de amostras para análise de textura de materiais metálicos.

Análise de amostras a granel ou em pó que apresentem sinais de questões de grãos grosseiros.

Análise de amostras com forte orientação preferencial, como placas laminadas, revestimentos e cristais em forma de placas.

Análise quantitativa de fases que requer altíssima precisão reprodutibilidade da intensidade de difração.

                                                              Suporte de amostra giratório (Estágio de amostra de DRX)

Especificações do suporte de amostra rotativo:

                                                        Suporte de amostra giratório (Estágio de amostra de DRX)

A Dandong Tongda Technology Co., Ltd. dedica-se a fornecer instrumentos e acessórios de análise de raios X de alto desempenho para pesquisa científica e testes industriais. Esta plataforma giratória para amostras exemplifica a sólida capacidade da empresa em projeto mecânico de precisão e seu profundo conhecimento das necessidades experimentais.

Para obter informações mais detalhadas sobre o produto, preços e suporte pós-venda, entre em contato conosco diretamente.

https://www.tongdaxrd.com/