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O orientador de cristal de raios X opera com base no princípio da difração de raios X. A alta voltagem gerada pelo transformador de alta voltagem atua no tubo de raios X, produzindo raios X. Quando o raio X é irradiado na amostra, a difração ocorre quando a condição de difração de Bragg (n λ=2dsin θ) é satisfeita. Entre eles, λ é o comprimento de onda dos raios X, d é o espaçamento entre os planos atômicos dentro do cristal e θ é o ângulo entre os raios X incidentes e o plano do cristal. A linha de difração é recebida pelo tubo de contagem e exibida no microamperímetro do amplificador. Ao usar um monocromador, a linha de difração é monocromatizada e então recebida pelo contador e exibida no microamperímetro do amplificador, melhorando assim a precisão da medição. O orientador de cristal de raios X pode determinar com precisão e rapidez o ângulo de corte de cristais únicos naturais e artificiais (cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais de laser, cristais semicondutores) e é equipado com uma máquina de corte para corte direcional dos cristais acima mencionados. O orientador de cristal de raios X é um instrumento indispensável para usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. O orientador de cristal de raios X é amplamente utilizado nas indústrias de pesquisa, processamento e fabricação de materiais de cristal. O orientador de cristal de raios X é fácil de operar, não requer conhecimento profissional ou técnicas qualificadas, exibe o ângulo digitalmente, é fácil de observar e reduz erros de leitura. A exibição do instrumento de orientação de cristal de raios X pode ser zerada em qualquer posição, facilitando a exibição do valor de desvio do ângulo do chip. O instrumento de medição de ângulo duplo pode funcionar simultaneamente, melhorando a eficiência. O orientador de cristal de raios X tem um integrador especial com amplificação de pico, o que melhora a precisão da detecção. A integração do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão adota módulo de alta tensão DC e placa de amostra de sucção a vácuo, o que melhora a precisão e a velocidade da medição do ângulo. No geral, o orientador de cristal de raios X é um instrumento de precisão baseado no princípio da difração de raios X, que fornece suporte técnico importante para pesquisa de materiais de cristal e aplicações relacionadas, medindo com precisão o ângulo de corte dos cristais.

Os acessórios de difratômetro de ângulo pequeno são acessórios importantes usados ​​em difratômetros de raios X. Os acessórios de difratômetro de ângulo pequeno permitem que medições de difração de raios X sejam feitas dentro de uma faixa de ângulo muito pequena, de 0° a 5°, para testes de espessura de nanofilmes multicamadas. Desempenha um papel importante em campos como ciência de materiais, física, química e biologia. Tipos e características comuns: Acessório de filme fino de luz paralela: Este acessório pode gerar feixes de raios X paralelos e é adequado para medições de difração de ângulo pequeno de amostras de filme fino. Ele pode melhorar a precisão e a resolução das medições, reduzir erros de medição causados ​​pela divergência do feixe e se adaptar melhor a amostras de filme fino de diferentes espessuras e propriedades. Estágio de amostra multifuncional: equipado com acessórios de difração de pequeno ângulo, o estágio de amostra multifuncional pode fornecer vários ambientes de teste para amostras, como aquecimento in situ, resfriamento, alongamento, etc. Isso torna mais conveniente estudar as mudanças estruturais de materiais sob diferentes condições externas e permite a observação em tempo real da resposta estrutural dos materiais durante mudanças de temperatura, estresse e outras. Os acessórios do difratômetro de pequeno ângulo desempenham um papel importante em vários campos, como ciência dos materiais, física, química e biologia, ao alcançar difração de pequeno ângulo e medição precisa da espessura do filme nano multicamadas, fornecendo aos pesquisadores uma ferramenta poderosa para exploração aprofundada de microestruturas e propriedades de materiais.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como cristalinidade da fibra e largura de meio pico. Um componente especializado usado para analisar materiais de fibra, como têxteis, fibras de polímero, fibras biológicas, etc. É comumente usado para estudar a estrutura cristalina, orientação e arranjo molecular das fibras. Principais funções dos acessórios de fibra: 1. Fixação da amostra de fibra: Acessórios de fibra são usados ​​para fixar a amostra de fibra, garantindo sua posição e estabilidade de direção no feixe de raios X. 2. Análise da orientação das fibras: Ajustando a posição e o ângulo da amostra, a orientação dos cristais e o arranjo molecular das fibras são estudados. 3. Espalhamento de raios X em ângulos baixos (SAXS): Alguns acessórios de fibra suportam SAXS para analisar a estrutura nanométrica das fibras. Tipos comuns de acessórios de fibra: 1. Dispositivo de alongamento de fibras: pode aplicar tensão às fibras durante a análise de DRX para estudar mudanças estruturais sob estresse. 2. Estágio de amostra rotativo: permite que as amostras de fibra girem, facilitando a coleta de dados de difração de diferentes ângulos. 3. Acessórios de controle de temperatura: usados ​​para analisar materiais de fibra em temperaturas específicas e estudar o efeito da temperatura na estrutura. Campos de aplicação de acessórios de fibra: 1. Ciência dos Materiais: Estude a estrutura cristalina e as propriedades mecânicas de fibras sintéticas, como náilon e poliéster. 2. Biomateriais: Analisar a estrutura de fibras naturais como colágeno e celulose. 3. Têxteis: Avaliar a orientação e a cristalinidade das fibras têxteis. Passos para usar acessórios de fibra: 1. Preparação da amostra: Fixe a amostra de fibra no acessório. 2. Ajuste os parâmetros: defina a fonte de raios X, o detector e as posições da amostra. 3. Coleta de dados: Colete padrões de difração. 4. Análise de dados: Use software para analisar dados de difração e obter informações estruturais. Assuntos que precisam de atenção: - Alinhamento da amostra: certifique-se de que a amostra esteja alinhada com precisão com o feixe de raios X. - Otimização de parâmetros: Otimize a energia dos raios X, o tempo de exposição, etc. com base nas características da amostra. - Qualidade dos dados: garanta padrões de difração claros e evite interferência de ruído. Nossa empresa oferece treinamento no local sobre uso de instrumentos e conhecimento relacionado ao setor, bem como uso e manutenção subsequentes de software de análise e serviços completos de manutenção de máquinas.

O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 usa um novo detector de matriz de alto desempenho, e o carregamento deste detector melhorou muito o desempenho geral da máquina. O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O difratômetro de raios X de bancada TDM-20 utiliza o princípio da difração de raios X para realizar análises qualitativas ou quantitativas, análises de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X de bancada é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, produtos farmacêuticos, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 é equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. O difratômetro de raios X TD-3700 integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão. O difratômetro de raios X TD-3700 pode aumentar a intensidade do cálculo de difração em dezenas de vezes ou mais, obter padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem em um período de amostragem mais curto e também oferecer suporte à varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem fortes sinais de difração e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório.

O acessório de medição de filme óptico paralelo aumenta o comprimento da placa de grade para filtrar mais linhas dispersas, o que é benéfico para reduzir a influência do sinal do substrato nos resultados e aumentar a intensidade do sinal do filme.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base em dados como textura da fibra e largura de meio pico.

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de larga escala e instrumento de raios X usado para estudar a microestrutura interna de materiais. É usado principalmente para orientação de cristal único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensão residual, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristal único.

O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; Ele pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. O difratômetro de cristal único de raios X é amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. O difratômetro de raios X de cristal único é um produto de alta tecnologia do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Equipamentos e Instrumentos Científicos do Ministério da Ciência e Tecnologia, liderado pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd., preenchendo a lacuna no desenvolvimento e produção de difratômetro de raios X de cristal único na China.

O difratômetro de raios X de pó é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. O difratômetro de raios X TD-3500 produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta precisão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar flexivelmente a análises de teste e pesquisa em vários setores!