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O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.

A difração de raios X (DRX) permite a quantificação precisa da fase TiO2, crucial para a qualidade do produto. Os difratômetros da série TD da Dandong Tongda, com programas especializados, garantem análises precisas de rutilo/anatásio (<0.2% error).

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 oferece 1200 W de potência em um design compacto, superando os padrões internacionais de 600 W. Com linearidade de ±0,01° e repetibilidade de 0,0001°, permite análises de fase precisas para pesquisa de materiais e controle de qualidade industrial. Seu sistema de refrigeração integrado e compatibilidade global com acessórios o tornam uma solução ideal e econômica para laboratórios internacionais.

O analisador de cristais por raios X da série TDF oferece desempenho excepcional em análises de microestrutura, suportando orientação de monocristais, detecção de defeitos e medição de tensões. Com um design de tubo vertical, operação em múltiplas janelas e controle PLC importado, garante alta precisão e conformidade com as normas de segurança (radiação).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

A Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. é líder do setor, focada em pesquisa e desenvolvimento e inovação em tecnologias-chave, como análise de difração. Por meio de colaborações com instituições acadêmicas, desenvolve produtos de alta eficiência com propriedade intelectual própria, rompendo com monopólios internacionais. A empresa constrói sua marca com base na integridade e no profissionalismo, seguindo o princípio de que "A excelência define o padrão, a integridade constrói a marca", visando aumentar a competitividade e contribuir para o setor de instrumentos científicos da China.

O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 oferece desempenho analítico excepcional graças à tecnologia inovadora do detector e aos modos de varredura dupla. Com aquisição de dados rápida, operação intuitiva e segurança aprimorada, ele permite análises precisas de materiais em aplicações de pesquisa e industriais, estabelecendo novos padrões para instrumentos científicos chineses.

O difratômetro de raios X de mesa TDM-20 integra geração avançada de raios X, alta precisão goniométrica e detecção eficiente em um design compacto. Ele oferece análise de fase confiável para ciência de materiais, indústria farmacêutica e controle de qualidade industrial, com suporte global e certificações internacionais.

O difratômetro de raios X TD-5000 quebra o monopólio internacional em instrumentos científicos de alta tecnologia. Essa inovação chinesa oferece precisão excepcional (exatidão de 0,0001°) e recursos avançados de detecção, auxiliando pesquisadores nas áreas farmacêutica, de ciência dos materiais e química por meio de análises estruturais abrangentes.

O acessório para altas temperaturas in situ da Dandong Tongda permite a análise em tempo real de alterações estruturais de materiais até 1600 °C com precisão de ±1 °C. Ideal para pesquisas em supercondutores, cerâmicas e filmes finos, é exportado globalmente.

Confiável mundialmente: o analisador de orientação de raios X da Dandong Tongda recebe certificações multinacionais No atual cenário global em rápida evolução de semicondutores, dispositivos ópticos e ciência dos materiais, a medição precisa da orientação de cristais tornou-se crucial para aprimorar a qualidade do produto e a eficiência da produção. Como desenvolvedora e fabricante especializada na área de instrumentos de análise de raios X, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd. anuncia o lançamento de seu Analisador de Orientação de Raios X de alto desempenho. Este instrumento integra tecnologia avançada de difração de raios X com algoritmos inteligentes, fornecendo soluções de medição de orientação rápidas e precisas para indústrias relacionadas a cristais em todo o mundo. Princípio técnico: a integração perfeita da difração de raios X e da medição de precisão O Analisador de Orientação de Raios X opera com base na lei de difração de Bragg. Quando os raios X incidem na superfície do cristal, os planos atômicos regularmente dispostos dentro do cristal geram fenômenos de difração em ângulos específicos. Ao capturar esses sinais de difração com detectores de precisão e calcular os ângulos de difração, o instrumento pode determinar com precisão a orientação do cristal, fornecendo dados confiáveis ​​para corte e processamento subsequentes. Comparada aos métodos tradicionais de orientação, a tecnologia de orientação de cristais por raios X oferece vantagens significativas por ser não destrutiva, de alta precisão e altamente eficiente, garantindo resultados de medição confiáveis ​​sem danificar a amostra. O instrumento atinge uma precisão de medição de ± 30 segundos de arco (± 30″), com uma leitura mínima de 10 segundos de arco, atendendo aos requisitos de orientação da grande maioria dos materiais cristalinos. Série de produtos: Soluções abrangentes para diversas necessidades de aplicação Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incluem principalmente dois modelos básicos: o TYX-200 e o TYX-2H8. O modelo TYX-200, como versão base, apresenta um display digital com leitura mínima de 10″ e precisão de medição de ±30″, tornando-o adequado para necessidades rotineiras de orientação de materiais cristalinos. O modelo TYX-2H8 é uma atualização abrangente do TYX-200, apresentando uma estrutura de goniômetro aprimorada, trilhos de suporte de carga aprimorados e um estágio de amostra elevado. O TYX-2H8 pode medir amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Certas configurações podem até ser estendidas para lidar com amostras pesando de 30 a 180 kg, com diâmetros de até 350 mm e comprimentos de até 480 mm. Para requisitos de pesquisa mais complexos, a empresa também oferece os Analisadores de Orientação de Raios X da série TDF, que utilizam tecnologia de controle PLC importada, oferecem uma faixa de tensão de tubo de 10 a 60 kV e permitem funcionalidades mais amplas, incluindo orientação de cristal único, detecção de defeitos e determinação de parâmetros de rede. Aplicações funcionais: uma ferramenta essencial para o processamento de cristais em vários setores O Analisador de Orientação de Raios X pode determinar com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos e, em coordenação com máquinas de corte, realizar o corte orientado. É um instrumento indispensável para a usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. Na indústria de semicondutores, o instrumento é amplamente utilizado para inspecionar lingotes, wafers e chips, controlando processos como corte, retificação e polimento para garantir o desempenho consistente de dispositivos semicondutores. Para processamento de cristais ópticos e cristais a laser, o instrumento pode determinar com precisão a orientação dos cristais, garantindo que o desempenho óptico dos dispositivos ópticos atenda aos requisitos de projeto e melhorando o rendimento do produto. Particularmente na área de processamento de cristais de safira, o instrumento pode atender simultaneamente aos requisitos de medição para as orientações dos cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável eletricamente de 0 a 45°, adaptando-se a necessidades complexas de processamento. Na indústria de joias e pedras preciosas, o instrumento auxilia na orientação precisa de pedras preciosas, aumentando a precisão do corte e o valor dos produtos acabados, ajudando os fabricantes a maximizar os efeitos ópticos e o valor comercial das pedras preciosas. Características do produto: Design inovador que aprimora a experiência do usuário Os analisadores de orientação de raios X da Dandong Tongda Technology incorporam vários recursos inovadores que melhoram significativamente a praticidade e a confiabilidade do instrumento. Fácil operação: o instrumento pode ser operado sem conhecimento profissional ou habilidade extensa, diminuindo a barreira de uso e reduzindo o tempo de treinamento de pessoal. Visor digital: o visor digital de ângulo proporciona observação intuitiva, reduz erros de leitura e pode ser zerado em qualquer posição, facilitando a exibição direta do desvio do ângulo do wafer. Design eficiente: alguns modelos são equipados com goniômetros duplos que podem operar simultaneamente, melhorando muito a eficiência da inspeção. Precisão aprimorada: um integrador especial com amplificação de pico melhora a precisão da detecção, e uma placa de amostra de sucção a vácuo garante um posicionamento estável da amostra. Confiabilidade e durabilidade: O design integrado do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão utiliza um módulo de alta tensão CC, garantindo uma operação estável a longo prazo. Proteção de Segurança: O instrumento utiliza vidro de chumbo de alta densidade e alta transmitância como escudo protetor contra raios X. A dose de radiação externa não excede 0,1 µSv/h, atendendo aos padrões internacionais de segurança. Configuração de palco de amostra: adaptação flexível a diversas necessidades de medição Para atender aos requisitos de medição de amostras de diferentes formatos e tamanhos, a Dandong Tongda Technology oferece várias configurações de estágio de amostra: Plataforma de Amostragem Tipo TA: Projetada especificamente para hastes de cristal cilíndricas, equipada com trilhos de suporte de carga. Pode medir hastes de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e pode medir a superfície de referência de cristais em forma de haste ou a superfície de wafers de cristal em forma de folha. Platina de amostra tipo TB: Também projetada para hastes de cristal cilíndricas, ela incorpora trilhos de suporte em forma de V e pode medir hastes de cristal de até 500 mm de comprimento, tornando-a particularmente adequada para medir as faces finais de cristais em forma de haste. Platina de Amostragem Tipo TC: Utilizada principalmente para detectar a superfície de referência da circunferência externa de wafers de cristal único, como silício e safira. Seu design aberto supera problemas de obstrução de raios X e imprecisões de posicionamento causadas por placas de sucção. Plataforma de Amostragem Tipo TD: Projetada especificamente para medições multipontos de wafers como silício e safira. A lâmina pode ser girada manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender aos requisitos específicos de medição do cliente. Mercado global: capacitando clientes internacionais a alcançar avanços tecnológicos Os produtos da Dandong Tongda Technology Co., Ltd. entraram com sucesso no mercado internacional, exportando para diversos países e regiões, incluindo Estados Unidos, Coreia do Sul, Irã, Azerbaijão, Iraque e Jordânia. Seguindo os princípios de "Cliente em Primeiro Lugar, Produto em Primeiro Lugar, Serviço em Primeiro Lugar", a empresa oferece aos usuários globais produtos de alta tecnologia e alta qualidade, além de suporte técnico abrangente. Para clientes no exterior, a empresa oferece consultoria técnica completa e serviço pós-venda, incluindo treinamento operacional, suporte de manutenção e fornecimento de peças de reposição, garantindo que os usuários não tenham preocupações. Atendendo às necessidades de clientes em diferentes regiões, a empresa também pode fornecer soluções personalizadas, incluindo projeto especial de estágio de amostra e ajustes de software de medição, garantindo que o instrumento se adapte perfeitamente a cenários de aplicação específicos. Interfaces de operação multilíngues e documentação técnica detalhada em inglês reduzem ainda mais a barreira de uso para clientes no exterior e aprimoram a experiência do usuário internacional. O Analisador de Orientação de Raios X da Dandong Tongda Technology não é apenas uma ferramenta de medição, mas um parceiro estratégico para aumentar a competitividade corporativa. Ele pode reduzir significativamente o ciclo de P&D de materiais cristalinos, otimizar os processos de produção, garantir a qualidade do produto e criar valor tangível para a indústria global de fabricação de cristais. Seja na fabricação de chips semicondutores, no processamento de componentes ópticos ou na pesquisa de novos materiais, escolher a Dandong Tongda Technology significa optar por uma solução de orientação de cristais confiável, eficiente e precisa.