news

O analisador de cristais de raios X da série TDF é um instrumento analítico de raios X em larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. Ele é usado principalmente para orientação de cristais únicos, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensões residuais, estudo da estrutura de placas e hastes, estudo da estrutura de substâncias desconhecidas e discordâncias de cristais únicos. O analisador de cristais de raios X da série TDF adota uma luva de tubo vertical e quatro janelas podem ser usadas simultaneamente. O analisador de cristal de raios X da série TDF adota tecnologia de controle PLC importada, com alta precisão de controle e bom desempenho anti-interferência, o que pode atingir uma operação confiável do sistema. O PLC controla o interruptor de alta tensão, elevação e tem a função de treinar automaticamente o tubo de raios X, estendendo efetivamente a vida útil do tubo de raios X e do instrumento de raios X.

O difratômetro de raios X TDM-20 é usado principalmente para análise de fase de pós, sólidos e materiais pastosos semelhantes. O difratômetro de raios X pode ser usado para análise qualitativa ou quantitativa, análise de estrutura cristalina e outros materiais policristalinos, como amostras de pó e amostras de metal. O difratômetro de raios X é amplamente usado em indústrias como indústria, agricultura, defesa nacional, farmacêutica, minerais, segurança alimentar, petróleo, educação e pesquisa científica. Benchtop XRD é um equipamento experimental usado para analisar a estrutura cristalina de materiais. Benchtop XRD determina a estrutura cristalina, parâmetros de rede e composição de fase do material emitindo raios X e medindo o ângulo de difração e a intensidade após sua interação com a amostra.

O difratômetro de raios X é usado principalmente para análise qualitativa e quantitativa de fase, análise de estrutura de cristal, análise de estrutura de material, análise de orientação de cristal, determinação de tensão macroscópica ou microscópica, determinação de tamanho de grão, determinação de cristalinidade, etc. de amostras de pó, bloco ou filme. O difratômetro de raios X TD-3500 produzido pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. adota controle PLC Siemens importado, o que faz com que o difratômetro de raios X TD-3500 tenha as características de alta precisão, alta exatidão, boa estabilidade, longa vida útil, fácil atualização, fácil operação e inteligência, e pode se adaptar flexivelmente a análises de teste e pesquisa em vários setores! É uma ferramenta analítica poderosa amplamente usada em campos como ciência de materiais, química, física e geologia.

O difratômetro de raios X TD-3700 é um novo membro da série TD, equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. Ele integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão. O difratômetro de raios X em pó TD-3700 suporta métodos convencionais de varredura de dados de difração e varredura de dados de transmissão. O difratômetro de pó de raios X TD-3700, com todas as vantagens do difratômetro de raios X TD-3500, é equipado com detectores de alto desempenho. Comparado a detectores de cintilação ou detectores proporcionais, a intensidade do cálculo de difração pode ser aumentada em várias dezenas de vezes, e padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem podem ser obtidos em um período de amostragem mais curto.

O espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta analítica usada para estudar a estrutura e as propriedades de substâncias. O XAFS obtém informações sobre átomos e moléculas em uma amostra medindo a absorção de raios X da amostra dentro de uma faixa de energia específica. O XAFS é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais. A tecnologia XAFS é amplamente usada em ciência de materiais, química, biologia e outros campos, especialmente em áreas de pesquisa como catálise, baterias, sensores, etc. O XAFS tem um importante valor de aplicação. Por meio da tecnologia XAFS, os pesquisadores podem obter uma compreensão mais profunda da microestrutura e das propriedades das amostras, fornecendo suporte poderoso para o design e a otimização de novos materiais.

O difratômetro de raios X de cristal único é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real das moléculas na rede; O difratômetro de raios X de cristal único pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. A DRX de cristal único é amplamente usada em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. XRD de cristal único tem alta precisão: Precisão de repetibilidade do ângulo 2θ: 0,0001°; Ângulo mínimo do passo: 0,0001°; Faixa de controle de temperatura: 100K-300K Precisão de controle: ±0,3K O instrumento de medição de ângulo de cristal único seleciona quatro círculos de varredura concêntricos. O XRD de cristal único adota configuração de baixa temperatura. O pessoal técnico da empresa concluiu a instalação e a depuração do difratômetro de raios X de cristal único estrangeiro, e os resultados dos testes satisfizeram muito os usuários estrangeiros. Ao mesmo tempo, a funcionalidade, estabilidade e serviço pós-venda do instrumento receberam elogios unânimes de usuários estrangeiros. No geral, o difratômetro de cristal único de raios X desempenha um papel insubstituível como um importante instrumento científico em pesquisa e aplicação em múltiplas disciplinas. Com o avanço e a inovação contínuos da tecnologia, acreditamos que no futuro, o XRD de cristal único demonstrará seu valor e potencial únicos em mais campos.

A máquina de teste de soldagem por raio X portátil NDT é um tipo de equipamento de inspeção radiográfica que pode gerar raios X e tem múltiplos usos. A máquina de raio X portátil para inspeção de solda pode ser usada em campos industriais e médicos. Na indústria, é usada para detecção de defeitos na fabricação de peças automotivas, detecção de cubo de roda, detecção de subchassi, detecção de qualidade de dobradiça, etc., para garantir que os produtos industriais testados tenham alta resistência. Além disso, pertence ao equipamento de inspeção de solda por raio X e é comumente usada para detecção de solda, detecção de solda de caldeira, detecção de solda de componente aeroespacial, etc.

O analisador de cristal de raios X da série TDF é um instrumento de raios X de larga escala usado para estudar a microestrutura interna de substâncias. Ele utiliza o princípio de interação entre raios X e cristal para determinar o arranjo atômico dentro do cristal analisando o padrão de difração de raios X. Usado principalmente para orientação de cristal único, inspeção de defeitos, determinação de parâmetros de rede, determinação de tensão residual, estudo da estrutura de placa e haste, investigação da estrutura de substâncias desconhecidas e deslocamentos de cristal único. O analisador de cristal de raio X, como um instrumento de raio X, fornece informações valiosas para pesquisa em ciência de materiais e outros campos relacionados. Com o avanço contínuo da tecnologia e a expansão de aplicações, o analisador de cristal de raio X continuará a desempenhar um papel importante na pesquisa científica e na produção industrial.

O instrumento de orientação automática de raios X é um dispositivo que usa o princípio de difração de raios X para determinar a estrutura cristalina, orientação e parâmetros de rede. Ele tem uma ampla gama de aplicações em ciência de materiais, geologia, física e química, especialmente no estudo da microestrutura e propriedades de monocristal, materiais policristalinos e materiais de filme fino. O seguinte fornecerá uma introdução detalhada ao princípio de funcionamento, aplicação e precauções operacionais do orientador de cristal de raios X. Com o avanço da tecnologia, os dispositivos de instrumentos de orientação de raios X automáticos continuam a melhorar, com maior resolução e operação mais fácil. Ao mesmo tempo, a combinação com outras técnicas analíticas, como microscopia eletrônica e análise espectroscópica, torna a análise da estrutura cristalina mais abrangente e aprofundada. Além disso, dispositivos analisadores de orientação de raios X de monitoramento portátil e online se desenvolveram gradualmente, fornecendo possibilidades para análise no local e monitoramento em tempo real. Em resumo, o analisador de orientação de raios X é uma ferramenta analítica poderosa que é crucial para entender e controlar a microestrutura de materiais. Com o desenvolvimento contínuo da tecnologia, sua aplicação em vários campos se tornará mais extensa e aprofundada.

O monocromador de cristal curvo de grafite é um importante acessório de instrumento para análise de difração de raios X, usado principalmente para monocromatizar os raios X que passam pela fenda receptora, melhorando assim a precisão e a relação sinal-ruído da análise. Este monocromador utiliza a estrutura específica dos cristais de grafite para refletir seletivamente os raios X incidentes, permitindo que apenas raios X de comprimentos de onda específicos (geralmente raios X característicos Kα) passem enquanto filtra outros componentes indesejados de raios X, como raios X contínuos, raios X característicos Kβ e raios X fluorescentes. Esta reflexão seletiva é baseada na lei de Bragg, que afirma que quando o ângulo entre a luz incidente e o plano do cristal satisfaz certas condições, ocorre espalhamento coerente, formando picos de difração. Ao usar este monocromador, deve-se prestar atenção à preparação e posicionamento da amostra para garantir a precisão e simetria dos picos de difração. ​O monocromador de cristal curvo de grafite é amplamente usado em campos de pesquisa de materiais, como química, engenharia química, máquinas, geologia, minerais, metalurgia, materiais de construção, cerâmica, petroquímica e farmacêutica. Nesses campos, é usado para análise de difração de raios X para estudar as propriedades físicas de materiais, como estrutura cristalina, transição de fase, estado de tensão, etc. Os acessórios do difratômetro de raios X melhoram significativamente a precisão e a confiabilidade da análise, aumentando a razão pico-fundo e reduzindo o ruído de fundo.