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O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 é um novo membro da série TD, equipado com uma variedade de detectores de alto desempenho, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidade, detectores bidimensionais, detectores SDD, etc. Ele integra análise rápida, operação conveniente e segurança do usuário. A arquitetura de hardware modular e o sistema de software personalizado alcançam uma combinação perfeita, tornando sua taxa de falha extremamente baixa, bom desempenho anti-interferência e garantindo operação estável de longo prazo de fonte de alimentação de alta tensão. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta não apenas o método convencional de varredura de dados de difração, mas também o método de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem fortes sinais de difração e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra. O detector de matriz utiliza totalmente a tecnologia de contagem de fótons mistos, sem ruído, aquisição rápida de dados e mais de dez vezes a velocidade dos detectores de cintilação. Ele tem excelente resolução de energia e pode remover efetivamente os efeitos de fluorescência. Os detectores multicanal têm tempos de leitura mais rápidos e alcançam melhores relações sinal-ruído. Um sistema de controle de detector com gating eletrônico e disparo externo conclui efetivamente a sincronização do sistema. O princípio de funcionamento do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Ao utilizar a flutuação dos raios X, quando eles são irradiados em um cristal, átomos ou íons no cristal agem como centros de espalhamento, espalhando raios X em todas as direções. Devido à regularidade do arranjo atômico em cristais, essas ondas espalhadas interferem umas nas outras e reforçam umas às outras em certas direções, formando difração. Ao medir o ângulo de difração e a intensidade da difração, as informações estruturais do cristal podem ser obtidas. As principais características do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 são: (1) Fácil de operar, sistema de coleta de um clique; (2) Design modular, acessórios de instrumento plug and play, sem necessidade de calibração; (3) Monitoramento on-line em tempo real usando tela sensível ao toque para exibir o status do instrumento; (4) Dispositivo de intertravamento eletrônico de porta de chumbo, proteção dupla, garantindo a segurança do usuário; (5) Gerador de raios X de alta frequência e alta tensão, com desempenho estável e confiável; (6) Unidade de controle de gravação avançada com forte capacidade anti-interferência. A alta precisão do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 permite uma análise de alta precisão da estrutura cristalina dos materiais, como a determinação precisa de constantes de rede, parâmetros de célula, etc. A precisão da medição do ângulo pode atingir ±0,0001°. A alta resolução do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 pode distinguir claramente picos de difração adjacentes, analisar com precisão informações de difração de diferentes planos de cristal para estruturas cristalinas complexas e revelar as características da microestrutura dos materiais. A natureza não destrutiva do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: ele não causará danos à amostra durante o processo de teste, e a amostra pode ser mantida em seu estado original para vários testes, o que é particularmente importante para amostras preciosas ou difíceis de obter. Análise rápida do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Os difratômetros de raios X modernos de alta resolução têm recursos de detecção rápida e podem concluir o teste de amostra em um curto período de tempo, melhorando a eficiência do trabalho. 3. Áreas de aplicação do difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700: Materiais semicondutores: usados ​​para detectar a qualidade do cristal de materiais semicondutores de cristal único e filmes finos epitaxiais, analisar incompatibilidade de rede, defeitos e outras informações, o que ajuda a otimizar o desempenho de dispositivos semicondutores. Materiais supercondutores: Estude a estrutura cristalina e o processo de transição de fase de materiais supercondutores para fornecer uma base para otimizar as propriedades supercondutoras. Nanomateriais: Analisar o tamanho do grão, a estrutura cristalina, a deformação microscópica, etc. dos nanomateriais ajuda os pesquisadores a entender melhor suas propriedades e aplicações. Outros campos: Também é amplamente utilizado em pesquisa e controle de qualidade de materiais metálicos, materiais cerâmicos, materiais poliméricos, biomateriais e outros campos. O difratômetro de raios X de alta resolução é um instrumento analítico rápido, não destrutivo, de alta precisão e alta resolução, com importante valor de aplicação em muitos campos.

1. Função do difratômetro de cristal único: O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; O difratômetro de cristal único de raios X pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. O difratômetro de cristal único de raios X é amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. O difratômetro de cristal único de raios X é um produto de alta tecnologia financiado pelo Projeto Nacional de Desenvolvimento de Equipamentos e Instrumentos Científicos Principais do Ministério da Ciência e Tecnologia da China, liderado pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd., preenchendo a lacuna no desenvolvimento e produção de difratômetros de cristal único na China. 2. Características do difratômetro de cristal único: Toda a máquina adota tecnologia de controle de controlador lógico programável (PLC); Fácil de operar, sistema de coleta de um clique; Design modular, acessórios plug and play, sem necessidade de calibração; Monitoramento online em tempo real por meio de tela sensível ao toque, exibindo o status do instrumento; Gerador de raios X de alta potência com desempenho estável e confiável; Dispositivo eletrônico de intertravamento de porta de chumbo, proteção dupla. 3. Precisão do difratômetro de cristal único: 2 θ precisão de repetibilidade do ângulo: 0,0001 °; Ângulo mínimo do passo: 0,0001 ° Faixa de controle de temperatura: 100K-300K; Precisão de controle: ± 0,3K 4. Instrumento de medição de ângulo usado em difratômetro de cristal único: O uso da técnica de quatro círculos concêntricos garante que o centro do instrumento de medição de ângulo permaneça inalterado independentemente de qualquer rotação, atingindo o objetivo de obter os dados mais precisos e obter maior completude. Quatro círculos concêntricos são uma condição necessária para a varredura convencional do difratômetro de cristal único. 5. Detector bidimensional de alta velocidade usado em difratômetro de cristal único de raios X: O detector combina as principais tecnologias de contagem de fótons únicos e tecnologia de pixel misto para atingir a melhor qualidade de dados, garantindo baixo consumo de energia e baixo resfriamento. Ele é aplicado em vários campos, como radiação síncrotron e fontes de luz de laboratório convencionais, eliminando efetivamente a interferência de ruído de leitura e corrente escura. A tecnologia de pixel misto pode detectar raios X diretamente, tornar o sinal mais fácil de distinguir e fornecer dados de alta qualidade com eficiência. 6. Equipamento de baixa temperatura usado em difratômetro de cristal único de raios X: Os dados coletados por meio de equipamentos de baixa temperatura produzem resultados mais ideais. Com a ajuda de equipamentos de baixa temperatura, condições mais vantajosas podem ser fornecidas para permitir que cristais indesejáveis ​​obtenham resultados ideais, bem como cristais ideais para obter resultados mais ideais. Faixa de controle de temperatura: 100K~300K; Precisão de controle: ± 0,3K; Consumo de nitrogênio líquido: 1,1~2 litros/hora; 7. Acessório opcional, lente de foco de filme multicamadas: Potência do tubo de raios X: 30 W ou 50 W, etc; Divergência: 0,5 ~ 1 mrad; Material do alvo do tubo de raios X: alvo Mo/Cu; Ponto focal: 0,5~2 mm.

O espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia. O princípio do espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS): Estrutura fina de absorção de raios X O espectro se refere a espectros de alta resolução perto das bordas características dos elétrons do núcleo atômico que absorvem raios X. Quando a energia dos raios X é a mesma que a energia de excitação dos elétrons da camada interna do elemento medido, eles serão fortemente absorvidos, resultando em um limite de absorção (ou borda de absorção). Perto da borda de absorção, devido a múltiplas razões de espalhamento e outras, o coeficiente de absorção dos raios X exibirá fenômenos oscilatórios, ou seja, estrutura fina. 2. Principais vantagens do espectro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS): (1) O produto de fluxo luminoso mais alto, com um fluxo de fótons superior a 1.000.000 de fótons/segundo/eV e uma eficiência espectral várias vezes superior à de outros produtos; Obter qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron (2) Excelente estabilidade, a estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1% e o desvio de energia repetido é menor que 50 meV (3) Limite de detecção de 1%, alto fluxo de luz, excelente otimização do caminho óptico e excelente estabilidade da fonte de luz garantem que dados EXAFS de alta qualidade ainda possam ser obtidos quando o conteúdo do elemento medido for> 1%. 3. Áreas de aplicação do XAFS: Catálise industrial, materiais de armazenamento de energia, nanomateriais, toxicologia ambiental, análise qualitativa, análise de elementos pesados, etc. 4. Principais características do XAFS: (1) Ordenação de curto alcance: EXAFS depende de interações de curto alcance e não depende de ordenação de longo alcance. XAFS pode ser usado para estudar a estrutura de sistemas desordenados, como centros amorfos, líquidos, fundidos e ativos de catalisadores. (2) Especificidade do elemento: O método de fluorescência pode ser usado para medir amostras de elementos com concentrações tão baixas quanto um milionésimo. Ajustando a energia de raios X incidente, as estruturas vizinhas de átomos de diferentes elementos no mesmo composto podem ser estudadas. (3) Características de polarização: Raios X polarizados podem ser usados ​​para medir ângulos de ligação atômica e estruturas de superfície em amostras orientadas. O espectro de estrutura fina de absorção de raios X, com seus princípios únicos, características significativas e amplos campos de aplicação, tornou-se uma ferramenta indispensável e importante em vários campos, como ciência de materiais, química catalítica e pesquisa energética, fornecendo forte suporte para exploração aprofundada de microestruturas de materiais e estados eletrônicos.

O trocador automático de amostras usado em difratômetros de raios X é um dispositivo usado para substituição automatizada de amostras, com o objetivo de melhorar a eficiência e a precisão dos experimentos de difração de raios X. Acionado por um motor de passo importado e controlado por um controlador lógico programável (PLC) importado da Siemens, não há necessidade de substituição manual de amostras. O sistema mede amostras automaticamente e continuamente e salva dados automaticamente. Várias amostras podem ser carregadas de uma vez para medição contínua. Os principais componentes de um trocador automático de amostras são: Mecanismo de transferência de amostra: geralmente inclui uma correia transportadora, placa de pressão elástica e motor de acionamento, responsável pela transferência sequencial das placas de amostra de teste para a posição de recuperação. Mecanismo de substituição de amostra: geralmente composto de componentes de fixação, componentes de acionamento de ação e plataforma giratória, ele pode substituir automaticamente a placa de amostra entre a posição de coleta da correia transportadora e o estágio de amostra do instrumento de difração. Módulo sensor: como módulo sensor fotoelétrico e módulo sensor fotorresistor, usado para detectar a posição da amostra e o status de trabalho do difratômetro, a fim de controlar o módulo de circuito para realizar ações de controle correspondentes. Módulo de circuito de controle: conecte e controle o trabalho colaborativo dos mecanismos e módulos mencionados acima para garantir a operação precisa e estável do processo automático de troca de amostra. Módulo de energia: fornece suporte de energia para todo o dispositivo de troca automática de amostras. 2. Princípio de funcionamento do trocador automático de amostras: Após o difratômetro concluir o teste da amostra atual, o módulo sensor detecta a mudança de estado da luz do obturador do difratômetro e transmite o sinal para o módulo do circuito de controle. Após receber o sinal, o módulo do circuito de controle ativa o mecanismo de substituição da amostra para movê-la para a posição de coleta da correia transportadora e para o estágio de amostra do instrumento de difração, e fixa as placas de amostra nas duas posições, respectivamente, por meio das peças de fixação. Em seguida, o mecanismo de substituição da amostra troca as posições das duas placas de amostra para concluir a operação de substituição da amostra. Em seguida, a correia transportadora inicia e transporta a próxima placa de amostra para a posição de coleta, aguardando a próxima troca de amostra. 3. Vantagens e características dos trocadores automáticos de amostras: • Melhorar a eficiência dos testes: Ele pode substituir amostras automaticamente durante o processo de teste do instrumento de difração sem intervenção manual, encurtando muito o ciclo de teste e melhorando a eficiência do trabalho. • Reduzir erros humanos: evitar erros operacionais e enganos que podem ocorrer ao substituir amostras manualmente e melhorar a precisão e a confiabilidade dos resultados dos testes. • Proteção do instrumento: reduz a possibilidade de falha do instrumento causada pela abertura e fechamento manual frequente da porta do difratômetro e prolonga a vida útil do difratômetro. • Adequado para testar um grande número de amostras: Ele pode carregar várias amostras para atender às necessidades de testes contínuos de um grande número de amostras e é adequado para detecção de alto rendimento em campos como pesquisa científica e produção. Em resumo, o trocador automático de amostras usado em instrumentos de difração de raios X é um equipamento automatizado eficiente e preciso que traz muitas conveniências e vantagens aos experimentos de difração de raios X, ajudando a melhorar a eficiência e a qualidade experimental.

O monocromador de cristal curvo de grafite usado em difratômetros de raios X é um componente essencial para selecionar comprimentos de onda específicos de raios X e remover radiação indesejada, como linhas K β e raios X fluorescentes. O monocromador de cristal curvo de grafite é um componente instalado na frente do detector de raios X, que monocromatiza os raios X que passam pela fenda receptora e detecta apenas os raios X característicos Kα no espectro de raios X. Ao usar este dispositivo, raios X contínuos, raios X característicos K β e raios X fluorescentes podem ser completamente eliminados, permitindo uma análise de difração de raios X de alta relação sinal-ruído. Quando tubos de raios X de cobre alvo são usados ​​em conjunto com monocromadores correspondentes, raios X fluorescentes gerados a partir de amostras baseadas em Mn, Fe, Co, Ni podem ser eliminados, tornando-os adequados para análise de várias amostras. princípio de funcionamento: Difração de Bragg: Com base na lei de Bragg, quando raios X incidem em um cristal em um determinado ângulo, se 2dsin θ=n λ (onde d é o espaçamento interplanar do cristal, θ é o ângulo de incidência, λ é o comprimento de onda do raio X e n é um inteiro), a difração ocorrerá. Ele utiliza esse princípio para ajustar a orientação do cristal de modo que apenas raios X que atendam a condições específicas possam passar, alcançando assim a seleção de comprimentos de onda de raios X. Resolução de energia: Devido ao espaçamento interplanar e às características estruturais dos cristais de grafite, ele pode distinguir efetivamente raios X de diferentes energias. O monocromador de cristal curvo de grafite de alta resolução de energia pode reduzir ainda mais a radiação indesejada e melhorar a qualidade dos dados de difração. Características estruturais: Formato curvo: o monocromador de cristal curvo de grafite normalmente tem um formato curvo, o que ajuda a focar raios X e melhorar a eficiência da difração. Ao mesmo tempo, o formato curvo também ajuda a reduzir o estresse no cristal, melhorar sua estabilidade e vida útil. Grafite de alta pureza: O monocromador de cristal curvo de grafite geralmente é feito de materiais de grafite de alta pureza para garantir seu bom desempenho de difração e estabilidade. Alta eficiência de difração: Possui alta eficiência de difração, podendo selecionar efetivamente raios X do comprimento de onda desejado, melhorando assim a qualidade dos dados de difração. Ampla faixa de comprimento de onda: pode operar em uma ampla faixa de comprimento de onda e é adequado para vários tipos de experimentos de difração de raios X. Boa estabilidade: Devido ao uso de material de grafite de alta pureza, ele tem boa estabilidade e longa vida útil. Áreas de aplicação: Ciência dos Materiais: No campo da ciência dos materiais, difratômetros de raios X são amplamente usados ​​para estudar a estrutura cristalina, composição de fase e outras propriedades dos materiais. O monocromador de cristal curvo de grafite, como um componente importante do difratômetro de raios X, fornece suporte técnico importante para a pesquisa em ciência dos materiais. Física: No campo da física, difratômetros de raios X também são usados ​​para estudar a microestrutura e as propriedades físicas da matéria. Em resumo, o monocromador de cristal curvo de grafite usado em difratômetros de raios X é um dispositivo de seleção e filtragem de raios X eficiente e preciso, fornecendo suporte técnico importante para experimentos de difração de raios X.

O suporte de amostra rotativo em um difratômetro de raios X é um componente-chave usado para ajuste preciso e fixação da posição da amostra, a amostra pode girar dentro de seu próprio plano, o que é benéfico para erros causados ​​por grãos grossos. Para amostras com textura e cristalografia, o suporte de amostra rotativo garante boa reprodutibilidade da intensidade de difração e elimina a orientação preferencial. Princípio de funcionamento do suporte de amostra rotativo: Quando o difratômetro de raios X está funcionando, raios X de alta energia gerados pela fonte de raios X são irradiados na amostra fixada no estágio de amostra rotativo. Devido à estrutura cristalina específica e aos parâmetros de rede da amostra, os raios X sofrerão fenômenos de espalhamento, absorção e difração ao interagir com a amostra, onde os fenômenos de difração ocorrem de acordo com os requisitos da equação de Bragg. O suporte de amostra rotativo pode girar em ângulos menores de acordo com a configuração, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em ângulos diferentes, obtendo assim padrões de difração em ângulos diferentes. Dessa forma, o detector pode medir a intensidade de raios X após a difração da amostra e convertê-la em um sinal elétrico a ser transmitido ao computador para processamento de dados. A principal função do suporte rotativo de amostras é: Método de rotação: eixo β (plano de amostra) Velocidade de rotação: 1~60RPM Largura do passo pequeno: 0,1 º Modo de operação: rotação de velocidade constante para varredura de amostra (etapa, contínua) Vantagens do suporte rotativo de amostras: O suporte de amostra giratório pode melhorar a precisão dos dados de difração: Para amostras com pó irregular ou formas de partículas, a característica de orientação preferencial é propensa a ocorrer durante a preparação convencional de amostra de pó, resultando em desvios na distribuição da intensidade de difração e afetando a precisão da análise do resultado de difração. Girar o estágio da amostra pode mover a amostra em uma certa forma em um espaço apropriado, eliminando a influência da orientação preferencial até certo ponto, melhorando assim a precisão dos dados de difração. O suporte de amostra rotativo pode se adaptar a várias necessidades de teste: capaz de se adaptar a diferentes tipos de instrumentos de medição de ângulo de difração de raios X, como instrumentos de medição de ângulo vertical, equipamento de difração de pó compacto de baixa potência, etc., proporcionando conveniência para diferentes necessidades de teste. E o suporte de amostra rotativo pode atender aos requisitos de várias amostras e condições de teste ajustando parâmetros como velocidade e direção. O suporte de amostra rotativo pode expandir as capacidades analíticas do instrumento: Novos tipos de estágios de amostra rotativos estão sendo constantemente desenvolvidos e aplicados, como alguns estágios de amostra para análise de difração de raios X eletroquímica in situ, que podem monitorar e analisar as mudanças de materiais em diferentes ambientes ou condições em tempo real, expandindo as capacidades de análise do equipamento de difração de raios X. Em resumo, o suporte giratório de amostras no difratômetro de raios X é crucial para obter com precisão informações sobre a estrutura cristalina de substâncias. O suporte giratório de amostras pode não apenas melhorar a precisão dos dados de difração, mas também se adaptar a várias necessidades de testes e expandir as capacidades analíticas do instrumento.

No difratômetro de raios X, os acessórios de medição integrados multifuncionais são componentes cruciais que aumentam muito a funcionalidade e a flexibilidade do instrumento. Usado para análise de filmes em placas, blocos e substratos, e pode executar testes como detecção de fase de cristal, orientação, textura, estresse e estrutura no plano de filmes finos. Visão geral básica de acessórios de medição integrados multifuncionais: Definição: É um termo geral para uma série de dispositivos ou módulos adicionais usados ​​no difratômetro de raios X para expandir as funções do instrumento, melhorar a precisão e a eficiência da medição. Objetivo: Esses acessórios visam permitir que o difratômetro de raios X atenda a uma gama mais ampla de necessidades experimentais e forneça informações mais abrangentes e precisas sobre a estrutura do material. As características funcionais dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Realizar testes de diagrama polar usando métodos de transmissão ou reflexão; O teste de estresse pode ser conduzido usando o método de inclinação paralela ou o mesmo método de inclinação; Teste de película fina (rotação da amostra no plano). Características técnicas dos acessórios de medição integrados multifuncionais: Alta precisão: eles normalmente usam tecnologia de detecção avançada e sistemas de controle para garantir alta precisão e repetibilidade das medições. Automação: Muitos acessórios oferecem suporte a operações automatizadas e podem ser perfeitamente integrados ao host do difratômetro de raios X para obter medições com um clique. Design modular: facilita aos usuários a seleção e a combinação de diferentes módulos de acessórios de acordo com suas necessidades reais. Áreas de aplicação de acessórios de medição integrados multifuncionais: Amplamente utilizado em áreas como ciência dos materiais, física, química, biologia e geologia; Avaliação de estruturas metálicas de montagem, como chapas laminadas; Avaliação da orientação cerâmica; Avaliação da orientação de prioridade de cristais em amostras de filmes finos; Ensaios de tensão residual de vários materiais metálicos e cerâmicos (avaliação da resistência ao desgaste, resistência ao corte, etc.); Testes de estresse residual de filmes multicamadas (avaliação de descascamento de filme, etc.); Análise de oxidação de superfície e filmes de nitreto em materiais supercondutores de alta temperatura, como filmes finos e placas metálicas; Vidro Si、Análise de filmes multicamadas em substratos metálicos (filmes finos magnéticos, filmes de endurecimento de superfícies metálicas, etc.); Análise de materiais de galvanoplastia, como materiais macromoleculares, papel e lentes. Os acessórios de medição integrados multifuncionais no difratômetro de raios X são a chave para melhorar o desempenho do instrumento. Eles não apenas melhoram a funcionalidade do instrumento, mas também melhoram a precisão e a eficiência da medição, fornecendo aos pesquisadores métodos de análise de materiais mais abrangentes e aprofundados. Com o avanço contínuo da tecnologia, esses acessórios continuarão a desempenhar um papel importante na promoção da pesquisa científica em campos relacionados para alcançar mais avanços.

O acessório de alta temperatura em um difratômetro é um dispositivo adicional que pode executar análise de difração de raios X em amostras sob condições de alta temperatura. Para entender as mudanças na estrutura cristalina de amostras durante o aquecimento em alta temperatura e as mudanças na dissolução mútua de várias substâncias durante o aquecimento em alta temperatura. Princípio de funcionamento do acessório de alta temperatura: Ao usar métodos como aquecimento por resistência, aquecimento por indução ou aquecimento por radiação, a amostra é aquecida dentro de uma faixa de temperatura definida. Ao mesmo tempo, é equipado com sensores de temperatura de alta precisão e sistemas de controle para monitorar e ajustar a temperatura da amostra em tempo real, garantindo a estabilidade e a precisão da temperatura. A precisão do controle de temperatura pode atingir ±0,5℃ ou até mais. Para manter a estabilidade da amostra em altas temperaturas e evitar que ela reaja com o oxigênio do ar, os acessórios de alta temperatura geralmente requerem um sistema de proteção da atmosfera. As atmosferas comuns incluem gases inertes, como argônio, nitrogênio, etc. O sistema de controle da atmosfera pode controlar com precisão a taxa de fluxo e a pressão da atmosfera, fornecendo um ambiente experimental estável para a amostra. As principais funções do acessório de alta temperatura são: O monitoramento em tempo real da transição de fase da amostra, reações químicas, mudanças na estrutura cristalina e outros processos pode ser realizado em ambientes de alta temperatura para obter informações sobre a estrutura e as propriedades das substâncias em diferentes temperaturas. Ao analisar a posição, intensidade e formato dos picos de difração, os parâmetros da célula cristalina, estrutura cristalina, composição de fase e outras informações da amostra podem ser obtidos, e o conteúdo de cada componente pode ser medido com precisão. Estude a taxa, o mecanismo e o comportamento de difusão das reações químicas. Por exemplo, observando as mudanças estruturais dos catalisadores durante reações de alta temperatura, entendendo a formação e o desaparecimento de seus centros ativos e otimizando o desempenho dos catalisadores. Área de aplicação do acessório de alta temperatura: Usado para estudar a transição de fase, evolução da estrutura cristalina e mudanças de desempenho de materiais supercondutores de alta temperatura, ligas metálicas, materiais cerâmicos, etc. em diferentes temperaturas, fornecendo uma base para o design e preparação do material. Monitorar as mudanças em substâncias durante reações químicas, como estudar as mudanças estruturais de catalisadores e a evolução de centros ativos em reações catalíticas de alta temperatura, pode ajudar a desenvolver catalisadores eficientes. Estude as propriedades físicas de substâncias em altas temperaturas, como magnetismo, estrutura eletrônica e sua relação com a temperatura, e explore novos fenômenos e leis físicas. Parâmetro técnico do acessório de alta temperatura: Ajuste de temperatura: ambiente de gás inerte da temperatura ambiente até 1200 ℃ Ambiente de vácuo: alta temperatura de 1600 ℃ Precisão do controle de temperatura: ± 0,5 ℃ Material da janela: filme de poliéster Método de resfriamento: resfriamento por circulação de água deionizada Em resumo, o acessório de alta temperatura no difratômetro é uma importante ferramenta de teste que pode realizar análises de difração de raios X em amostras sob condições de alta temperatura, fornecendo forte suporte para pesquisas em áreas como ciência de materiais, engenharia química e física.

O suporte de amostra multifuncional em um difratômetro de raios X é um dispositivo usado para colocar e fixar amostras, com múltiplas funções e recursos. Ele pode testar quantidades vestigiais de amostras de pó, bem como amostras que são em forma de folha, de tamanho grande, irregulares, não podem ser cortadas ou moídas em pó. Suporte e fixação de amostra multifuncional: O suporte de amostra pode fixar firmemente a amostra, garantindo que ela permaneça estável durante a difração de raios X e evitando que a precisão e a confiabilidade dos dados de difração sejam afetadas pelo movimento da amostra. Ajuste de altura e ângulo do suporte de amostra multifuncional: Ele tem a função de ajustar altura e ângulo, e pode ajustar de forma flexível a distância e o ângulo relativo entre a amostra e o tubo de raios X e o detector de acordo com o tamanho, formato e requisitos de detecção de diferentes amostras, a fim de obter o melhor efeito de difração. Função de rotação do suporte de amostra multifuncional: Algumas mesas de amostra podem girar, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em diferentes ângulos, obtendo assim mais informações de difração de diferentes ângulos, o que ajuda a analisar de forma abrangente a estrutura cristalina e a orientação da amostra. Adaptação do suporte de amostra multifuncional: ele pode se adaptar a diferentes tipos de amostras, como sólidas, líquidas, em pó, etc. Ao substituir diferentes acessórios ou dispositivos de amostra, ele pode atender aos requisitos de teste de várias amostras. Controle ambiental do suporte de amostra multifuncional: Alguns suportes de amostra avançados também são equipados com sistemas de controle ambiental que podem testar amostras sob temperatura, umidade, atmosfera e outras condições específicas para simular os efeitos de diferentes ambientes nas amostras, expandindo ainda mais a faixa de aplicação dos difratômetros de raios X. O suporte de amostra multifuncional no difratômetro de raios X é um equipamento auxiliar poderoso, flexível e versátil, de grande importância para melhorar a precisão e a eficiência dos experimentos de difração de raios X.

O acessório de medição de filme óptico paralelo é um componente óptico usado para aumentar a intensidade do sinal de filmes finos e reduzir a influência dos sinais do substrato nos resultados da medição. Geralmente usado em experimentos ou instrumentos ópticos, principalmente para gerar feixes paralelos ou conduzir medições ópticas em amostras de filme fino. Ao aumentar o comprimento da grade, um controle mais preciso e filtragem da luz podem ser alcançados. Quando a luz passa, a placa de grade pode filtrar mais linhas dispersas, tornando a luz transmitida mais pura e mais concentrada, reduzindo assim a interferência da luz dispersa no sinal do filme fino e aumentando a intensidade do sinal do próprio filme fino, melhorando a precisão e a confiabilidade da medição. 1. Função principal do acessório de medição de filme óptico paralelo Melhorando a precisão da medição: Na detecção e análise relacionadas a filmes finos, como medição de espessura de filmes finos, determinação de constante óptica, etc., acessórios de filmes finos de luz paralela podem reduzir efetivamente a influência dos sinais do substrato, tornando os resultados da medição mais próximos das características reais do filme fino, melhorando assim a precisão e a exatidão da medição. Aumentar a intensidade do sinal: Ajuda a aumentar a intensidade do sinal de luz refletido ou transmitido pelo filme fino, o que é particularmente importante para algumas amostras de filme fino com sinais mais fracos. O sinal aprimorado pode ser recebido e reconhecido mais claramente pelo detector, reduzindo o limite de detecção e melhorando a sensibilidade do instrumento para detectar amostras de filme fino. Melhorando a qualidade da imagem: Em algumas aplicações que exigem observação de imagens de filmes finos, como a observação da morfologia da superfície de filmes finos em um microscópio, acessórios de filme fino de luz paralela podem reduzir o ruído de fundo e o desfoque causados ​​pela luz dispersa, tornando a imagem do filme fino mais nítida, com maior contraste e mais fácil de observar e analisar a estrutura detalhada do filme fino. 2. Principais componentes do acessório de medição de filme óptico paralelo Fonte de luz: Normalmente, são usados ​​lasers, LEDs ou outras fontes de luz monocromáticas. Lente colimadora: converte feixes de luz divergentes em luz paralela. Suporte de amostra: usado para colocar amostras de filme, geralmente ajustável em posição e ângulo. Detector: usado para receber sinais de luz transmitidos ou refletidos para medição e análise. 3. Campos de aplicação do acessório de medição de filme óptico paralelo Pesquisa óptica: usada para estudar as propriedades ópticas de filmes finos, como interferência, difração, etc. Ciência dos materiais: usada para medir a espessura e o índice de refração de filmes finos e avaliar as propriedades dos materiais. Testes industriais: usados ​​para controle de qualidade e testes na produção de filmes. 4. Instruções para acessório de medição de filme óptico paralelo Ajuste a fonte de luz: certifique-se de que a fonte de luz esteja estável e o feixe esteja uniforme. Feixe colimado: ajuste o feixe de luz através de uma lente colimadora para torná-lo paralelo. Posicione a amostra: Coloque a amostra do filme no suporte de amostra, ajuste a posição e o ângulo. Medição e análise: use detectores para receber sinais de luz, registrar dados e realizar análises. 5. Precauções Estabilidade da fonte de luz: garanta a estabilidade da fonte de luz para evitar erros de medição. Limpeza dos componentes ópticos: Mantenha os componentes ópticos limpos para evitar que poeira e manchas afetem os resultados da medição. Preparação da amostra: certifique-se de que a amostra do filme seja uniforme e livre de defeitos para obter resultados de medição precisos. Em resumo, o acessório de medição de filme óptico paralelo é um componente óptico importante que desempenha um papel crucial em vários campos e é de grande importância na promoção da pesquisa científica e do progresso tecnológico em áreas relacionadas.