Os equipamentos de medição de precisão produzidos pela Dandong Tongda Technology Co., Ltd. estão entrando de forma constante no mercado global. Seu principal produto, o orientador de cristal por raios X, com precisão de posicionamento de ±30 segundos de arco e capacidade máxima de carga de 30 quilogramas, desempenha um papel fundamental na pesquisa e processamento de materiais cristalinos em todo o mundo, fornecendo suporte técnico confiável para a pesquisa em ciência dos materiais e a produção industrial.

Princípio de funcionamento

Baseado na teoria da difração de raios X, este orientador pode determinar de forma rápida e precisa os ângulos de corte de materiais monocristalinos naturais e artificiais.

O equipamento pode ser usado em conjunto com diversos dispositivos de corte e é amplamente aplicado no corte de orientação precisa de cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais laser e cristais semicondutores. Tornou-se um equipamento-chave indispensável no processo de fabricação de precisão de dispositivos de cristal.

Para atender às diversas necessidades de diferentes clientes, a Dandong Tongda Technology desenvolveu vários modelos da série de produtos de orientadores de cristal.

O orientador de cristal de raios X TYX-200 possui um erro de posicionamento que não excede ±30 segundos de arco, apresenta uma interface de exibição digital e oferece uma precisão de leitura mínima de 10 segundos de arco.

O modelo atualizado TYX-2H8 incorpora otimizações abrangentes na estrutura do goniômetro em relação ao modelo base. Ele adiciona um trilho de suporte de carga, uma manga para o tubo de raios X e um sistema de apoio, além de aumentar a altura da plataforma de amostras. É capaz de lidar com diversas amostras com peso entre 1 e 30 kg e diâmetros de 2 a 8 polegadas.

Vantagens técnicas

Esta série de instrumentos apresenta características operacionais fáceis de usar, permitindo que os operadores comecem a utilizá-los rapidamente, mesmo sem experiência especializada em cristalografia.

A interface de exibição digital do ângulo torna o processo de observação mais intuitivo, evitando erros de leitura humana. O dispositivo de exibição permite zerar em qualquer posição, facilitando a leitura direta do valor de desvio angular do wafer.

O sistema de goniômetro duplo permite a operação simultânea, melhorando significativamente a eficiência da inspeção. Equipado com um integrador especializado com função de amplificação de pico, otimiza ainda mais a precisão da detecção.

Em termos de configuração de hardware, o tubo de raios X e o cabo de alta tensão adotam um design integrado, aumentando a estabilidade do sistema de alta tensão. A parte de alta tensão do detector utiliza tecnologia de módulo de alta tensão CC, combinada com uma plataforma de amostra de adsorção a vácuo, melhorando de forma abrangente a precisão e a eficiência da medição angular.

Âmbito de aplicação

Na pesquisa científica, os orientadores de cristais por raios X tornaram-se uma ferramenta importante para a análise de materiais.

Seu escopo de aplicação abrange diversos campos-chave, incluindo cristais piezoelétricos, cristais ópticos, cristais laser e cristais semicondutores. Esses dispositivos desempenham papéis vitais na pesquisa fundamental, no desenvolvimento de processos e nos processos de fabricação de materiais cristalinos, promovendo vigorosamente o avanço da ciência dos materiais.

O modelo TYX-2H8, projetado especificamente para materiais de safira, atende aos requisitos de medição para diversas orientações de safira, como A, C, M e R. Sua faixa de medição é de 0 a 45° com ajuste automático elétrico e suporta medições de cristais com peso de até 30 a 180 kg, ampliando consideravelmente o campo de aplicação do equipamento.

Configurações profissionais

Para atender às necessidades específicas de diferentes cenários de aplicação, a Dandong Tongda Technology desenvolveu várias configurações dedicadas para a etapa de amostragem.

A plataforma de amostras da série TA foi projetada especificamente para cristais cilíndricos, equipada com um trilho de suporte de carga dedicado, capaz de manusear materiais em forma de haste de cristal com peso entre 1 e 30 quilogramas e diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível até 8 polegadas).

A plataforma de amostras da série TB adiciona trilhos de suporte em forma de V, baseados no tipo TA, permitindo a medição de hastes de cristal com até 500 milímetros de comprimento. O goniômetro deste modelo também suporta a medição da face final de cristais em forma de haste.

A plataforma de amostras da série TC é especialmente adequada para detectar a superfície de referência da circunferência externa de wafers monocristalinos, como silício e safira. A área de recepção de raios X em sua plataforma de sucção adota um design estrutural aberto, resolvendo eficazmente os problemas técnicos das placas de sucção tradicionais, que bloqueiam os raios X e apresentam posicionamento impreciso.

A plataforma de amostras da série TD concentra-se nas necessidades de medição multiponto de wafers como silício e safira. O wafer pode ser girado e posicionado manualmente na plataforma, suportando múltiplas posições angulares padrão, como 0°, 90°, 180° e 270°, atendendo plenamente aos requisitos especiais de inspeção das características do wafer.

Com o crescimento contínuo da demanda global por equipamentos de medição de precisão, impulsionado pelos avanços tecnológicos, a Dandong Tongda Technology Co., Ltd., graças aos seus conceitos técnicos inovadores, desempenho estável dos produtos e sistema abrangente de serviços pós-venda, está gradualmente conquistando amplo reconhecimento no mercado internacional por seus instrumentos de precisão fabricados na China.