Na era atual de rápido avanço tecnológico,DanDong TongDa Ciência e Tecnologia Co., Ltda.A empresa alcançou avanços significativos na área de instrumentos de raios X com seu produto principal — o difratômetro de raios X TD-3500. Este equipamento de ponta incorpora anos de pesquisa e desenvolvimento especializados em tecnologia de análise de raios X, fornecendo uma ferramenta analítica indispensável para indústrias e instituições de pesquisa em todo o mundo que buscam a caracterização precisa de materiais.  

Abrindo um novo capítulo na análise avançada de materiais.

ODifratômetro de raios X TD-3500Foi projetado para atender às necessidades abrangentes de análise de diversos materiais. Este instrumento de precisão permite a análise qualitativa e quantitativa precisa das fases de amostras em pó, a granel e em filmes finos, oferecendo a pesquisadores e profissionais de controle de qualidade informações essenciais sobre as características e o desempenho dos materiais.

Suas aplicações abrangem análise de estrutura cristalina, pesquisa de materiais, análise de orientação, medição de tensões macro/microscópicas, determinação do tamanho de grãos e avaliação da cristalinidade. Atende a diversos setores, incluindo manufatura, indústria farmacêutica, pesquisa acadêmica e desenvolvimento de materiais.

Essa versatilidade o torna igualmente adequado para o controle de qualidade industrial e para a pesquisa científica avançada, oferecendo uma solução única para diversas necessidades analíticas.

Principais vantagens tecnológicas

Engenharia de Precisão Garante Resultados Confiáveis

O coração doDifratômetro de raios X TD-3500O sistema é um goniômetro de alta precisão que utiliza transmissão por rolamentos de alta precisão importados. Este componente chave é acionado por um sistema servo vetorial de alta precisão com circuito fechado completo, com acionamentos inteligentes equipados com microprocessadores RISC de 32 bits e encoders magnéticos de alta resolução.

Essa configuração avançada corrige automaticamente erros mínimos de posicionamento, garantindo resultados de medição com a mais alta precisão e confiabilidade.

O sistema atinge uma repetibilidade angular de 0,0001 graus com um ângulo de passo mínimo da mesma precisão, permitindo uma caracterização de amostras excepcionalmente detalhada.

A estrutura oca do eixo do goniômetro é outra característica inovadora, protegida por patente nacional.

Sistema de controle inovador

ODifratômetro de raios X TD-3500Adota a tecnologia de Controlador Lógico Programável (CLP), que recebeu uma patente nacional de invenção, diferenciando-se significativamente dos sistemas de difração tradicionais.

Essa arquitetura de controle avançada oferece inúmeras vantagens em relação aos sistemas convencionais baseados em microcontroladores, incluindo controle de circuito simplificado para facilitar a depuração e a instalação, design modular que permite aos usuários realizar manutenção e depuração sem a presença de técnicos do fabricante e maior capacidade de expansão, facilitando a integração perfeita de vários acessórios funcionais sem circuitos de hardware adicionais.

A interface homem-máquina é igualmente impressionante, apresentando uma tela sensível ao toque de cores reais de última geração que exibe o status do instrumento em tempo real por meio de animações estereoscópicas impactantes. Essa interface intuitiva simplifica a operação, permitindo que os usuários monitorem facilmente o status do instrumento e diagnostiquem possíveis problemas.

Reconhecendo as diversas necessidades dos clientes internacionais,DanDong TongDa Ciência e Tecnologia Co., Ltda.estabeleceu capacidades de serviço e suporte que atendem aos padrões globais, ao mesmo tempo que oferece suporte pós-venda abrangente. Para clientes globais que buscam recursos analíticos avançados, oDifratômetro de raios X TD-3500Representa o equilíbrio ideal entre desempenho, confiabilidade e valor. Com sua tecnologia de precisão, construção robusta e design inteligente, este instrumento permite que pesquisadores e indústrias do mundo todo avancem nos limites da caracterização e do desenvolvimento de materiais.