EmDifratômetro de raios X, omedição integrada multifuncionalno acessadoré são componente crucial que aumenta muito a funcionalidade e a flexibilidade do instrumento. Usado para análise de filmes em placas, blocos e substratos, e pode executar testes como detecção de fase cristalina, orientação, textura, estresse e estrutura no plano de filmes finos.

Visão geral básica demedição integrada multifuncionalno acessadoré:

Definição: Eles são termo geral para uma série de dispositivos ou módulos adicionais usados ​​emDifratômetro de raios Xpara expandir as funções do instrumento, melhorar a precisão e a eficiência da medição.

Finalidade: Estes anexos visam permitirDifratômetro de raios Xpara atender a uma gama mais ampla de necessidades experimentais e fornecer informações mais abrangentes e precisas sobre a estrutura do material.

As características funcionais demedição integrada multifuncionalno acessadoré:

Realizar testes de diagrama polar usando métodos de transmissão ou reflexão;

O teste de estresse pode ser conduzido usando o método de inclinação paralela ou o mesmo método de inclinação;

Teste de película fina (rotação da amostra no plano).

Características técnicas demedição integrada multifuncionalno acessadoré:

Alta precisão:Eles normalmente usam tecnologia de detecção avançada e sistemas de controle para garantir alta precisão e repetibilidade das medições.

Automação: Muitos anexos oferecem suporte a operações automatizadas e podem ser perfeitamente integrados aoDifratômetro de raios Xhost para atingir a medição com um clique.

Design modular: facilita aos usuários a seleção e a combinação de diferentes módulos de acessórios de acordo com suas necessidades reais.

Áreas de aplicação demedição integrada multifuncionalno acessadoré:

Amplamente utilizado em áreas como ciência dos materiais, física, química, biologia e geologia;

Avaliação de estruturas metálicas de montagem, como chapas laminadas;

Avaliação da orientação cerâmica;

Avaliação da orientação de prioridade de cristais em amostras de filmes finos;

Ensaios de tensão residual de vários materiais metálicos e cerâmicos (avaliação da resistência ao desgaste, resistência ao corte, etc.);

Testes de estresse residual de filmes multicamadas (avaliação de descascamento de filme, etc.);

Análise de oxidação de superfície e filmes de nitreto em materiais supercondutores de alta temperatura, como filmes finos e placas metálicas;

Vidro Si、Análise de filmes multicamadas em substratos metálicos (filmes finos magnéticos, filmes de endurecimento de superfícies metálicas, etc.);

Análise de materiais de galvanoplastia, como materiais macromoleculares, papel e lentes.

Omedição integrada multifuncionalno acessadoré  emDifratômetro de raios X são a chave para melhorar o desempenho do instrumento. Eles não apenas melhoram a funcionalidade do instrumento, mas também melhoram a precisão e a eficiência da medição, fornecendo aos pesquisadores métodos de análise de materiais mais abrangentes e aprofundados. Com o avanço contínuo da tecnologia, esses anexos continuarão a desempenhar um papel importante na promoção da pesquisa científica em campos relacionados para alcançar mais avanços.