Raio Xdifraçãoé uma técnica analítica não destrutiva comumente usada que pode ser usada para revelar a estrutura cristalina, a composição química e as propriedades físicas de substâncias. 

1.Análise de fase

A análise de fase é baseada na relação entre a posição e a intensidade das linhas de difração noDifração de raios Xpadrão e o período do arranjo atômico e o conteúdo da fase. A posição da linha de difração está relacionada à periodicidade do arranjo dos átomos. Para diferentes fases, existem padrões específicos de difração de raios X.

2. Parâmetro de rede

A constante de rede é o parâmetro estrutural mais básico do material cristalino. A base teórica de Raio XO método de difração para determinar os parâmetros da rede é calcular os parâmetros da rede de acordo com a lei de Bragg e a relação entre os parâmetros da rede e o valor do espaçamento d do plano do cristal.

3. Estresse residual

Como umteste não destrutivométodo, a técnica de difração de raios X pode ser usada para estudar a tensão residual em profundidade. A tensão residual macroscópica é manifestada pela mudança da posição do pico no espectro de difração de raios X. Quando há tensão compressiva, a distância entre as faces do cristal torna-se menor, então o pico de difração muda para um ângulo mais alto; inversamente, quando há tensão de tração, a distância entre as faces do cristal é estendida, resultando no deslocamento do pico de difração para um ângulo inferior.