As propriedades macroscópicas de uma substância são fundamentalmente determinadas por sua estrutura cristalina microscópica. A tecnologia de difração de raios X (DRX) serve como o "olho científico" essencial para desvendar esse mistério fundamental. Seu princípio básico é a Lei de Bragg: quando um feixe monocromático de raios X incide sobre um material cristalino, a difração ocorre em ângulos específicos, gerando um padrão de difração único que funciona como a "impressão digital" do material. Esse padrão é a chave para decifrar a composição de fases, a estrutura cristalina, o estado de tensão e até mesmo o tamanho dos grãos de um material.

Princípio fundamental: Difração de raios X por cristais

Os raios X são ondas eletromagnéticas com comprimentos de onda muito curtos (aproximadamente 0,01-10 nm), comparáveis ​​à distância entre os átomos em uma rede cristalina (na escala de Ångström). Quando um feixe monocromático de raios X incide sobre um cristal com um arranjo atômico regular, os elétrons de cada átomo oscilam e se tornam fontes secundárias de raios X dispersos. Embora essas ondas dispersas se cancelem em grande parte, elas interferem construtivamente — ou difratam — apenas em direções específicas onde a diferença de percurso entre as ondas é igual a um múltiplo inteiro do comprimento de onda. Esse fenômeno, demonstrado pela primeira vez por Laue em 1912, fornece evidências diretas da estrutura cristalina periódica.

A equação fundamental: a lei de Bragg

Sir WH Bragg e WL Bragg forneceram um modelo simplificado e poderoso, tratando a difração como "reflexão" de planos atômicos paralelos dentro do cristal. A difração ocorre somente quando a seguinte condição é satisfeita:

2d sinθ = nλ

d é o espaçamento interplanar, um parâmetro fixo do cristal.

θ é o ângulo entre o feixe de raios X incidente e o plano cristalino (ângulo de Bragg).

λ é o comprimento de onda do raio X incidente.

n é um número inteiro positivo (a ordem de difração).

Esta elegante equação relaciona diretamente o ângulo de difração mensurável (θ) ao espaçamento interplanar em escala atômica (d), formando a base quantitativa para todas as análises de DRX.

Ferramenta versátil e robusta: ADifratômetro de raios X TD-3500

OTD-3500É um difratômetro de pó de alto desempenho e uso geral, reconhecido por sua excepcional estabilidade e precisão, o que o torna uma escolha ideal para universidades, institutos de pesquisa e controle de qualidade industrial.

Precisão inigualável:

 Seu sistema goniométrico, construído com rolamentos importados de alta precisão e um servoacionamento de circuito fechado completo, atinge um ângulo de passo mínimo de 0,0001° e uma repetibilidade 2θ de ≤0,0005°, garantindo os dados precisos necessários para uma análise confiável.

Robusto e confiável:

O sistema utiliza um PLC (Controlador Lógico Programável) Siemens importado para controle de movimento, oferecendo estabilidade superior e menores taxas de falha em comparação com os projetos tradicionais, garantindo uma operação confiável e sem problemas a longo prazo.

Ampla gama de aplicações:

O design do goniômetro vertical-horizontal (θ-θ) facilita a análise de diversos tipos de amostras — incluindo líquidos, pastas, pós e sólidos a granel — com risco mínimo de contaminação dos componentes principais do instrumento.

Solução de pesquisa de ponta: ADifratômetro de raios X de alta resolução TD-3700

Projetado para pesquisa avançada e caracterização de alta qualidade, o TD-3700 Oferece desempenho superior para as aplicações mais exigentes.

Aquisição de dados em alta velocidade:

Ele apresenta um detector de matriz unidimensional padrão de alto desempenho, que pode acelerar a coleta de dados em dezenas a centenas de vezes em comparação com detectores pontuais convencionais, aumentando drasticamente a produtividade da pesquisa.

Modos de medição dupla:

 Além da geometria de reflexão padrão, o TD-3700Suporta exclusivamente análises em modo de transmissão. Este modo oferece maior resolução para estudos de estrutura cristalina e requer apenas quantidades mínimas de amostra.

Capacidades avançadas:

A plataforma foi projetada para integração perfeita com diversos acessórios, como detectores SDD, estágios in situ (por exemplo, para pesquisa de baterias ou estudos de alta temperatura) e trocadores automáticos de amostras, possibilitando desde triagem de alto rendimento até experimentos dinâmicos in situ.

Especialista em Compactos: ODifratômetro de raios X de bancada TDM-20

OTDM-20Atende à necessidade de conveniência e eficiência em ambientes industriais, laboratórios de ensino ou instalações com espaço limitado, sem comprometer a capacidade analítica.

Integrado e eficiente: Este instrumento de bancada compacto integra o tubo de raios X, o gerador, o goniômetro e o detector. Com uma potência máxima de 1200 W e uma ampla faixa de 2θ de -3° a 150°, realiza análises profissionais qualitativas, quantitativas e de tamanho de grão.

Inteligente e estável: Também utiliza tecnologia avançada de controle PLC para operação inteligente e desempenho confiável, proporcionando uma solução analítica completa e compacta.

Do versátilTD-3500e o avançado TD-3700to compacto TDM-20,Tecnologia Co. de Dandong Tongda, Ltd.Oferecemos um portfólio completo de produtos que atende a diversas necessidades — desde educação e análises de rotina até pesquisas de ponta e aplicações industriais. Cada instrumento incorpora nosso domínio da tecnologia essencial e nossa dedicação à excelência em engenharia. Fornecemos não apenas instrumentos de precisão, mas soluções completas, oferecendo dados precisos e insights mais profundos para apoiar a inovação e o avanço na ciência dos materiais em todo o mundo.