Osuporte de amostra multifuncional em um difratômetro de raios X é um dispositivo usado para colocar e fixar amostras, com múltiplas funções e características. pode testar quantidades vestigiais de amostras de pó, bem como amostras que são em forma de folhas, grandes, irregulares, que não podem ser cortadas ou moídas em pó.

O suporte de amostra multifuncional fixação e suporte da amostra: O suporte da amostra pode fixar firmemente a amostra, garantindo que ela permaneça estável durante a difração de raios X e evitando que a precisão e a confiabilidade dos dados de difração sejam afetadas pelo movimento da amostra.

O suporte de amostra multifuncional ajuste de altura e ângulo: tem a função de ajustar altura e ângulo, e pode ajustar de forma flexível a distância e o ângulo relativo entre a amostra e o tubo de raios X e o detector de acordo com o tamanho, forma e requisitos de detecção de diferentes amostras, a fim de obter o melhor efeito de difração.

Osuporte de amostra multifuncional função de rotação: Algumas mesas de amostra podem girar, permitindo que a amostra receba irradiação de raios X em diferentes ângulos, obtendo assim mais informações de difração de diferentes ângulos, o que ajuda a analisar de forma abrangente a estrutura cristalina e a orientação da amostra.

O suporte de amostra multifuncional adaptação: pode se adaptar a diferentes tipos de amostras, como sólidas, líquidas, em pó, etc. Ao substituir diferentes acessórios ou dispositivos de amostra, ele pode atender aos requisitos de teste de várias amostras.

O suporte de amostra multifuncional controle ambiental: Alguns suportes de amostra avançados também são equipados com sistemas de controle ambiental que podem testar amostras sob temperatura, umidade, atmosfera e outras condições específicas para simular os efeitos de diferentes ambientes nas amostras, expandindo ainda mais a faixa de aplicação dos difratômetros de raios X.

O suporte de amostra multifuncional O difratômetro de raios X é um equipamento auxiliar poderoso, flexível e versátil, de grande importância para melhorar a precisão e a eficiência dos experimentos de difração de raios X.