Confiável mundialmente: o analisador de orientação de raios X da Dandong Tongda recebe certificações multinacionais
2025-10-23 10:20Confiável mundialmente:Dandong Tongda'sAnalisador de Orientação de Raios XRecebe Certificações Multinacionais
No atual cenário global em rápida evolução de semicondutores, dispositivos ópticos e ciência dos materiais, a medição precisa da orientação de cristais tornou-se crucial para aprimorar a qualidade do produto e a eficiência da produção. Como desenvolvedora e fabricante especializada na área de instrumentos de análise de raios X,Dandong Tongda Technology Co., Ltda.anuncia o lançamento de seu alto desempenhoX-Ré o Analisador de Orientação. Este instrumento integra tecnologia avançada de difração de raios X com algoritmos inteligentes, fornecendo soluções de medição de orientação rápidas e precisas para indústrias relacionadas a cristais em todo o mundo.
Princípio técnico: a integração perfeita da difração de raios X e da medição de precisão
OAnalisador de Orientação de Raios Xopera com base na lei de difração de Bragg. Quando os raios X incidem na superfície do cristal, os planos atômicos regularmente dispostos dentro do cristal geram fenômenos de difração em ângulos específicos. Ao capturar esses sinais de difração com detectores de precisão e calcular os ângulos de difração, o instrumento pode determinar com precisão a orientação do cristal, fornecendo dados confiáveis para corte e processamento subsequentes. Em comparação com os métodos tradicionais de orientação,Tecnologia de orientação de cristais de raios XOferece vantagens significativas por ser não destrutivo, de alta precisão e alta eficiência, garantindo resultados de medição confiáveis sem danificar a amostra. O instrumento atinge uma precisão de medição de±30 segundos de arco (±30″), com uma leitura mínima de 10 segundos de arco, atendendo aos requisitos de orientação da grande maioria dos materiais cristalinos.
Série de produtos: Soluções abrangentes para diversas necessidades de aplicação
Tecnologia Dandong Tongda'sAnalisadores de Orientação de Raios Xincluem principalmente dois modelos básicos: o TYX-200 e o TYX-2H8.
O modelo TYX-200, como versão base, apresenta um display digital com leitura mínima de 10″e uma precisão de medição de±30″, tornando-o adequado para as necessidades rotineiras de orientação de materiais cristalinos. O modelo TYX-2H8 é uma atualização completa do TYX-200, apresentando uma estrutura de goniômetro aprimorada, trilhos de suporte de carga aprimorados e um estágio de amostra elevado. O TYX-2H8 pode medir amostras pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 8 polegadas. Certas configurações podem ser estendidas para lidar com amostras pesando de 30 a 180 kg, com diâmetros de até 350 mm e comprimentos de até 480 mm. Para requisitos de pesquisa mais complexos, a empresa também oferece a série TDF.Analisadores de Orientação de Raios X, que utilizam tecnologia de controle PLC importada, oferecem uma faixa de tensão de tubo de 10-60 kV e permitem funcionalidades mais amplas, incluindo orientação de cristal único, detecção de defeitos e determinação de parâmetros de rede.
Aplicações funcionais: uma ferramenta essencial para o processamento de cristais em vários setores
OAnalisador de Orientação de Raios XPode determinar com precisão e rapidez os ângulos de corte de monocristais naturais e sintéticos e, em coordenação com máquinas de corte, realizar cortes orientados. É um instrumento indispensável para a usinagem de precisão e fabricação de dispositivos de cristal. Na indústria de semicondutores, o instrumento é amplamente utilizado para inspecionar lingotes, wafers e chips, controlando processos como corte, retificação e polimento para garantir o desempenho consistente de dispositivos semicondutores.
Para processamento de cristais ópticos e cristais a laser, o instrumento pode determinar com precisão a orientação dos cristais, garantindo que o desempenho óptico dos dispositivos ópticos atenda aos requisitos de projeto e melhorando o rendimento do produto. Particularmente na área de processamento de cristais de safira, o instrumento pode atender simultaneamente aos requisitos de medição para as orientações dos cristais de safira A, C, M e R, com uma faixa de medição ajustável eletricamente de 0.–45°, adaptando-se a necessidades complexas de processamento. Na indústria de joias e pedras preciosas, o instrumento auxilia na orientação precisa de pedras preciosas, aumentando a precisão do corte e o valor dos produtos acabados, ajudando os fabricantes a maximizar os efeitos ópticos e o valor comercial das pedras preciosas.
Características do produto: Design inovador que aprimora a experiência do usuário
Tecnologia Dandong Tongda'sAnalisadores de Orientação de Raios Xincorporam vários recursos inovadores que melhoram significativamente a praticidade e a confiabilidade do instrumento.
Fácil operação: o instrumento pode ser operado sem conhecimento profissional ou habilidade extensa, diminuindo a barreira de uso e reduzindo o tempo de treinamento de pessoal.
Visor digital: o visor digital de ângulo proporciona observação intuitiva, reduz erros de leitura e pode ser zerado em qualquer posição, facilitando a exibição direta do desvio do ângulo do wafer.
Design eficiente: alguns modelos são equipados com goniômetros duplos que podem operar simultaneamente, melhorando muito a eficiência da inspeção.
Precisão aprimorada: um integrador especial com amplificação de pico melhora a precisão da detecção, e uma placa de amostra de sucção a vácuo garante um posicionamento estável da amostra.
Confiabilidade e durabilidade: O design integrado do tubo de raios X e do cabo de alta tensão aumenta a confiabilidade da alta tensão. O detector de alta tensão utiliza um módulo de alta tensão CC, garantindo uma operação estável a longo prazo.
Proteção de Segurança: O instrumento utiliza vidro de chumbo de alta densidade e alta transmitância como escudo protetor contra raios X. A dose de radiação externa não excede 0,1 µSv/h, atendendo aos padrões internacionais de segurança.
Configuração de palco de amostra: adaptação flexível a diversas necessidades de medição
Para atender aos requisitos de medição de amostras de diferentes formas e tamanhos,Tecnologia Dandong Tongdaoferece várias configurações de estágio de amostra:
Plataforma de Amostragem Tipo TA: Projetada especificamente para hastes de cristal cilíndricas, equipada com trilhos de suporte de carga. Pode medir hastes de cristal pesando de 1 a 30 kg com diâmetros de 2 a 6 polegadas (expansível para 8 polegadas) e pode medir a superfície de referência de cristais em forma de haste ou a superfície de wafers de cristal em forma de folha.
Platina de amostra tipo TB: Também projetada para hastes de cristal cilíndricas, ela incorpora trilhos de suporte em forma de V e pode medir hastes de cristal de até 500 mm de comprimento, tornando-a particularmente adequada para medir as faces finais de cristais em forma de haste.
Platina de Amostragem Tipo TC: Utilizada principalmente para detectar a superfície de referência da circunferência externa de wafers de cristal único, como silício e safira. Seu design aberto supera problemas de obstrução de raios X e imprecisões de posicionamento causadas por placas de sucção.
Plataforma de Amostragem Tipo TD: Projetada especificamente para medições multiponto de wafers como silício e safira. A wafer pode ser girada manualmente na plataforma (por exemplo, 0°, 90°, 180°, 270°) para atender aos requisitos específicos de medição do cliente.
Mercado global: capacitando clientes internacionais a alcançar avanços tecnológicos
Produtos deTecnologia Co. de Dandong Tongda, Ltd.entraram com sucesso no mercado internacional, exportando para vários países e regiões, incluindo os Estados Unidos, Coreia do Sul, Irã, Azerbaijão, Iraque e Jordânia. Seguindo os princípios de "Cliente em Primeiro Lugar, Produto em Primeiro Lugar, Serviço em Primeiro Lugar, " a empresa fornece aos usuários globais produtos de alta tecnologia e alta qualidade e suporte técnico abrangente. Para clientes no exterior, a empresa oferece consultoria técnica completa e serviço pós-venda, incluindo treinamento operacional, suporte de manutenção e fornecimento de peças de reposição, garantindo que os usuários não tenham preocupações. Atendendo às necessidades de clientes em diferentes regiões, a empresa também pode fornecer soluções personalizadas, incluindo design especial de estágio de amostra e ajustes de software de medição, garantindo que o instrumento se adapte perfeitamente a cenários de aplicação específicos. Interfaces de operação multilíngues e documentação técnica detalhada em inglês reduzem ainda mais a barreira de uso para clientes no exterior e aprimoram a experiência do usuário internacional.
Tecnologia Dandong Tongda'sAnálise de Orientação de Raios Xr não é apenas uma ferramenta de medição, mas um parceiro estratégico para aumentar a competitividade corporativa. Ele pode reduzir significativamente o ciclo de P&D de materiais de cristal, otimizar os processos de produção, garantir a qualidade do produto e criar valor tangível para a indústria global de fabricação de cristais. Seja na fabricação de chips semicondutores, no processamento de componentes ópticos ou na pesquisa de novos materiais, escolher a Dandong Tongda Technology significa optar por uma solução de orientação de cristais confiável, eficiente e precisa..
