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Por que o espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X é uma ferramenta indispensável na ciência moderna dos materiais?

2024-10-22 09:17

Espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.

HAFS Principais vantagens:

Produto de maior fluxo luminoso:

Fluxo de fótons superior a 1.000.000 fótons/segundo/eV, com eficiência espectral várias vezes maior que outros produtos; Obtenha qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron

Excelente estabilidade:

A estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1%, e o desvio de energia durante a coleta repetida é menor que 50 meV

Limite de detecção de 1%:

Alto fluxo luminoso, excelente otimização do caminho óptico e excelente estabilidade da fonte de luz garantem que dados EXAFS de alta qualidade sejam obtidos mesmo quando o conteúdo do elemento medido for 1%.
1.

Princípio do instrumento

X-ray Absorption Fine Structure

XAFS

X-ray Absorption Fine Structure

2.dados de teste

XAFS

3.Elementos mensuráveis: A parte verde pode medir o lado K e a parte amarela pode medir o lado L

X-ray Absorption Fine Structure

4.área de aplicação

XAFS


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