Difração de raios X convencional de polímero

Os raios X convencionais são frequentemente usados ​​para caracterizar a cristalinidade do polímero ou informações de igualdade de materiais. Ocristalinidadedo polímero é um parâmetro estrutural intimamente relacionado às suas propriedades físicas. Às vezes, é possível determinar a causa da rigidez insuficiente, rachaduras, brancura e outros defeitos avaliando a cristalinidade. O método de medição da cristalinidade porDifração de raios Xe o ajuste de espectro completo é descrito e alguns exemplos são dados.

                        Razão entre a área do pico de difração cristalina e a área total do sinal espalhado

O padrão XRD de PP-PP e os resultados do cálculo da cristalinidade separando picos cristalinos e amorfos pelo método de ajuste de espectro completo

Polímero 2D/ difração de raios X

Para materiais poliméricos, eles são adicionados em fibras, folhas ou outras formas. A diferença no método de processamento ou na tecnologia de processamento levará a uma grande diferença no seu estado de cristalização e orientação. O ensaio convencional de difração de raios X não consegue caracterizar todas as características estruturais. O modo de transmissão do detector 2D (XRD) fornece informações estruturais intuitivas e abrangentes sobre materiais poliméricos. A seguir, amostras de PP de diferentes estados foram testadas por meio bidimensionalDifratômetro de raios X, que demonstrou plenamente as vantagens da difração bidimensional na análise de polímeros.

Mapa bidimensional de raios X da amostra PP PP1#- estado amorfo PP2#- estado semicristalino não orientado

Análise de orientação

Os picos (040) das amostras PP3# existem apenas em duas direções no mapa bidimensional. Ao integrar o pico (040) da amostra com 2teta, o diagrama de azimute da intensidade do pico (040) pode ser obtido, e a orientação pode ser calculada posteriormente usando a meia altura e largura do pico do diagrama de azimute.