De acordo com as mudanças de posição e intensidade dos picos de difração de XRD in situ, os intermediários gerados durante o ciclo podem ser inferidos, e o mecanismo de reação pode ser derivado ainda mais desses intermediários.

A difração de raios X percorre todas as etapas do controle de qualidade dos medicamentos, como o estudo de matérias-primas e preparações.

A tensão residual tem um grande impacto na estabilidade dimensional, resistência à corrosão sob tensão, resistência à fadiga, mudança de fase e outras propriedades de materiais e componentes. Sua medição tem sido amplamente preocupada pela academia e pela indústria.

Recentemente, um novo estudo fundiu com sucesso óxidos metálicos com zeólito A e revelou o mistério deste processo através da tecnologia XRD e FTIR.

XRD, é a abreviação de difração de raios X, como pessoa material, não importa qual material seja feito, XRD é o meio mais comumente usado, o meio mais básico de caracterização.

A Estrutura Fina de Absorção de Raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais baseados na fonte de luz de radiação síncrotron.

Quando um feixe de raios X extremamente fino passa através de um material com uma densidade eletrônica irregular de tamanho nanométrico, os raios X se espalharão em uma pequena região angular próxima à direção do feixe original, esse fenômeno é chamado de pequeno ângulo X. - espalhamento de raios.

O espalhamento de raios X de pequeno ângulo é o espalhamento difuso de elétrons em raios X na faixa de ângulo pequeno próximo ao feixe original. O espalhamento de pequeno ângulo ocorre em todos os materiais com densidade eletrônica não uniforme na escala nanométrica.

A difração de raios X de pequeno ângulo (SAXD) é usada principalmente para determinar o espaçamento de faces cristalinas muito grandes ou a estrutura de filmes finos.