O teste de raios X é um método de teste não destrutivo que não danifica o objeto em si e tem sido amplamente utilizado em testes de materiais (QC), análise de falhas (FA), controle de qualidade (QC), garantia de qualidade e confiabilidade (QA/ CQ), pesquisa e desenvolvimento (P&D) e outros campos.

Três detectores de ponto único são compartilhados abaixo: contador proporcional, contador de cintilação e detector de estado sólido semicondutor.

O analisador de cristal de raios X é um tipo de grande instrumento analítico para estudar a microestrutura interna de substâncias, usado principalmente na orientação de cristal único, detecção de defeitos, determinação de tensão residual, deslocamento de cristal único e assim por diante.

Difração de raios X, através da difração de raios X de um material, a análise de seu padrão de difração, para obter a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material e outros meios de pesquisa.

Os instrumentos XRF utilizam raios X para "excitar" um material a fim de caracterizar sua composição identificando elementos na amostra (análise qualitativa) ou determinando a resistência de um elemento na amostra (análise quantitativa)

Este procedimento é um procedimento autodesenvolvido. Ele contém uma variedade de funções de análise quantitativa desenvolvidas por nós mesmos, que estão de acordo com a teoria da difração e são calculadas por intensidade integral.

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