Produtos

Produtos em destaque

  • Difratômetro
    Difratômetro
    1. A precisão do difratômetro é alta. 2. O difratômetro possui uma ampla gama de aplicações. 3. O difratômetro é fácil de operar, prático e eficiente.
    Mais
  • Difração de raios X de cristal único
    Difração de raios X de cristal único
    1. A máquina de cristal único adota tecnologia de controle PLC. 2. Design modular, acessórios plug and play. 3. Equipamento eletrônico de intertravamento de portas com dupla proteção. 4. Tubo de raios X monocristalino: uma variedade de alvos pode ser selecionada, como Cu, Mo, etc. 5. O cristal único adota a tecnologia concêntrica de quatro círculos para garantir que o centro de nenhum goniômetro permaneça inalterado.
    Mais
  • Analisador de Cristal de Raios X em Série
    Analisador de Cristal de Raios X em Série
    1. O aparelho de raios X é fácil de operar e rápido para detectar alterações. 2. O aparelho de raios X é preciso e confiável, com excelente desempenho. 3. O aparelho de raios X possui diversos acessórios funcionais para atender às necessidades de diferentes finalidades de teste.
    Mais
  • Difratômetro de pó
    Difratômetro de pó
    1. Tipo de detector: detector de matriz ou detector SDD; 2. Cálculo de controle automático do PLC, conversão do modo de integração, o PLC executa automaticamente PHA, correção de tempo morto 3. Tipo de medição de amostra: amostra de pó, amostras líquidas, amostras de estado fundido, amostras viscosas, pós soltos, amostras sólidas a granel 4. Disponível com uma variedade de acessórios para difratômetro 5.Potência máxima de saída de pó: 3 kW
    Mais

Contate-nos

ACESSÓRIO DE MEDIÇÃO DE PELÍCULA ÓPTICA PARALELA

2025-10-09

Na análise de difração de raios X, amostras de filmes finos apresentam desafios significativos devido à sua espessura extremamente fina, sinais fracos e fixação típica ao substrato. Os métodos de teste tradicionais são propensos à interferência dos sinais do substrato, fazendo com que os sinais do próprio filme fino sejam mascarados ou distorcidos.

O design central do acessório de película fina de feixe paralelo consiste em aumentar o comprimento das fatias da grade para filtrar mais raios dispersos. Essa abordagem oferece duas vantagens significativas:

  • Reduz a interferência do sinal do substrato: Suprime efetivamente sinais não-alvo originários do substrato da amostra.

  • Melhora a intensidade do sinal de filme fino: Torna os sinais analíticos do filme fino alvo mais proeminentes, produzindo resultados de análise mais claros e precisos.

Campos de aplicação:

Acessório de filme fino de feixe paraleloé aplicado principalmente em áreas de ponta, como proteção ambiental e eletrônica. Nessas indústrias, o desempenho de materiais de filme fino frequentemente determina diretamente a qualidade do produto final.


Por exemplo, na indústria eletrônica, diversos filmes finos funcionais são amplamente utilizados em produtos como dispositivos semicondutores, telas de exibição e células solares. A estrutura cristalina, a orientação e o estado de tensão dos filmes finos impactam significativamente suas propriedades elétricas, ópticas e mecânicas. Ao utilizar a fixação de filmes finos de feixe paralelo, os pesquisadores podem avaliar esses parâmetros-chave com mais precisão, fornecendo suporte robusto para o desenvolvimento de produtos e o controle de qualidade.


A Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. é uma empresa nacional de alta tecnologia especializada na produção de instrumentos de análise de raios X e equipamentos para ensaios não destrutivos. Foi também a unidade de desenvolvimento do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Instrumentos e Equipamentos Científicos (National Major Scientific Instrument and Equipment Development Project) iniciado pelo Ministério da Ciência e Tecnologia em 2013. A Tongda Science and Technology concluiu a serialização de suas duas principais linhas de produtos: instrumentos analíticos e instrumentos para ensaios não destrutivos.


O acessório de filme fino de feixe paralelo da Dandong Tongda oferece uma solução eficaz para análise de difração de raios X de materiais de filme fino por meio de seu design exclusivo de caminho óptico paralelo e recursos aprimorados de processamento de sinal. À medida que a pesquisa de materiais se torna cada vez mais refinada, este acessório especializado serve como uma ferramenta poderosa para pesquisadores e engenheiros, ajudando-os a fazer novas descobertas no mundo microscópico da ciência dos materiais.

parallel beam thin film accessory


Obter o preço mais recente? Responderemos o mais breve possível (dentro de 12 horas)

top