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Conteúdo relacionado a "Software JADE para analisar e processar dados XRD" (四)

2023-08-24

1. Como estimar o tamanho do cristal de grão por ajuste?


Responder:(1) Esta função no ajuste de pico, selecione um ou vários picos de difração para ajustar, a premissa é fazer um padrãoinstrumentocurva, selecione a curva de fundo apropriada, função de pico, etc., para que o tamanho de grão estimado seja mais preciso.

instrument


(2) O"Kα2"A função na função do mouse pode ser usada para ajustar o tamanho do grão girando a roda do mouse. Conforme mostrado pelo pico de difração em 25,3° na figura abaixo, é necessária uma função de forma de pico padrão.

XRD


(3) Existe outro método em JADE, que pode separar o tamanho do grão da largura de meia altura causada pela deformação. Sob a função de pico de ajuste, todos os picos de difração noXRDpadrão são ajustados para verificar os resultados da análise de tamanho de grão e tensão.

diffraction peak




2. No processo de análise quantitativa de múltiplas fases, como distinguir a posição do pico da fase sobreposta?


Responder:(1) JADE distingue os picos de difração correspondentes de diferentes objetos através de cores diferentes;

instrument


(2) No JADE, os resultados do ajuste de pico de picos de difração de diferentes fases podem ser exibidos e cores diferentes também são usadas para distinguir.

XRD


(3) O ajuste de pico de difração de uma determinada fase pode ser exibido monofásico em JADE

diffraction peak




3. Se refinado, quais são os requisitos para dados XRD?


Responder:(1) A amostra tem boa cristalização e pico de difração nítido;

              (2) A amostra não tem nenhum problema significativo de orientação preferencial;

              (3) Informações precisas do ângulo;

              (4) Opico de difraçãoa contagem é alta (a contagem de pico mais forte é melhor que 10.000) e as estatísticas de dados são boas;

              (5) A faixa de ângulos coletados é a maior possível (2teta geralmente não é inferior a 120° para alvos de cobre), de modo que o máximo possível de dados de difração de alta resolução seja incluído no processo de acabamento.




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