difratômetro de raios Xé usado principalmente para caracterização de fase, análise quantitativa,análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, análise de orientação cristalina de amostras de pó, bloco ou filme fino. Medição de tensão macroscópica, medição de tamanho de grão, medição de cristalinidade, etc.
Exibição do mapa de análise de amostras do difratômetro TD-3700:
1. SI em pó (imagem incorporada 111 ampliação unimodal
Observação: o tempo de varredura do TD-3700 é 10 vezes menor do que o difratômetro comum, melhorando a eficiência da varredura e economizando tempo.
2. Espectro completo de SiO2 (imagem incorporada: amplificação local de pico de cinco dedos)
TD-3700 (detector Mythen) VS TD-3500 (detector de cintilação)
3.Comparação de pico único de dados de difração de amostras de pó de Si
Observação: o TD-3700 pode obter intensidade de pico mais alta, resolução mais alta e largura de meia altura de pico menor do que o difratômetro comum
4.Espectro de difração Al2O3
