Difratômetro de raios Xé usado principalmente para caracterização de fase, análise quantitativa, análise de estrutura cristalina, análise de estrutura de material, análise de orientação cristalina de amostras de pó, bloco ou filme fino. Medição de tensão macroscópica ou microscópica, medição de tamanho de grão, medição de cristalinidade, etc.
Vantagens do difratômetro de raios X da série TD:
1. Com direitos de propriedade intelectual independentes e as patentes de invenção nacionais do programador
controle do controlador lógico (PLC)| tecnologia;
2. Fácil operação, sistema de aquisição de um botão;
3.Design modular, acessórios de instrumento plug and play, sem necessidade de calibração;
4. A tela sensível ao toque é usada para monitoramento on-line em tempo real para exibir o status do instrumento;
5. Dispositivo de intertravamento de porta de chumbo eletrônico com proteção dupla para garantir a segurança do usuário;
6. Alta frequência e alta tensãoRaio Xgerador, desempenho estável e confiável;
7.Unidade de controle de registro avançado, forte capacidade anti-interferência
TD-3500 XRD TD-3700DRX
TDM-20 DRX TDM-10 DRX