Difração de raios X, através doDifração de raios Xde um material, a análise do seu padrão de difração, para obter a composição do material, a estrutura ou forma dos átomos ou moléculas dentro do material e outros meios de pesquisa. Devido às vantagens da própria fonte de luz de radiação síncrotron com alto fluxo de fótons e maior colimação, muitas vezes são obtidos mais e mais fortes sinais de difração, o que oferece mais possibilidades para análise de dados subsequente.
Vantagem tecnológica:
1. O XRD in-situ pode obter informações sobre mudanças estruturais em tempo real no processo de reação do material, que podem compreender profundamente a reação do material no processo de carga e descarga, e também tem grande importância orientadora sobre como melhorar o material; Não in situDRXo teste geralmente não é um bom retorno à condição real; além disso, se o estado do material testado for sensível ao ar, o material deve ser colocado no teste do dispositivo de isolamento de ar para refletir o verdadeiro estado do material.
2, o teste XRD in-situ pode obter muitas informações comparáveis em um curto espaço de tempo, porque todo o processo de teste in-situ é o mesmo local do mesmoteste de materiais, portanto, as informações obtidas (sejam os parâmetros da célula, a intensidade do pico ou outros parâmetros) são relativamente comparáveis.
No entanto, as informações obtidas por XRD não in situ são relativamente pobres em comparabilidade e requerem maior operação durante o processo de teste. Por exemplo, se a folha do eletrodo estiver dobrada após ser desmontada e lavada, o nível do material testado mudará, o cume do XRD medido mudará e os parâmetros celulares correspondentes obtidos pelo refino também mudarão. No entanto, a qualidade e a distribuição dos materiais activos em diferentes placas de eléctrodos são inevitavelmente diferentes, o que conduz inevitavelmente a uma fraca comparabilidade da força de pico sob diferentes estados de carga e descarga.