Espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X é uma ferramenta poderosa para estudar a estrutura atômica ou eletrônica local de materiais, amplamente utilizada em campos populares como catálise, energia e nanotecnologia.
HAFS Principais vantagens:
Produto de maior fluxo luminoso:
Fluxo de fótons superior a 1.000.000 fótons/segundo/eV, com eficiência espectral várias vezes maior que outros produtos; Obtenha qualidade de dados equivalente à radiação síncrotron
Excelente estabilidade:
A estabilidade da intensidade da luz monocromática da fonte de luz é melhor que 0,1%, e o desvio de energia durante a coleta repetida é menor que 50 meV
Limite de detecção de 1%:
Alto fluxo luminoso, excelente otimização do caminho óptico e excelente estabilidade da fonte de luz garantem que dados EXAFS de alta qualidade sejam obtidos mesmo quando o conteúdo do elemento medido for 1%.
1.
Princípio do instrumento
2.dados de teste
3.Elementos mensuráveis: A parte verde pode medir o lado K e a parte amarela pode medir o lado L
4.área de aplicação
