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    Difratômetro
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    Analisador de Cristal de Raios X em Série
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    Um difratômetro de raios X 2D
    Vantagens: Profundidade de penetração de raios X continuamente ajustável Capacidade de observar a distribuição de planos cristalinos com diferentes orientações. Análise da distribuição de orientação em amostras como fibras, filmes finos e pós. Análise de características estruturais como distorção da rede cristalina e tamanho do cristalito.
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DRX

2024-06-03

Difração de raios Xé uma técnica fundamental para investigar a estrutura sólida, fornecendo informações espectrais únicas sobre a composição química e arranjo estrutural das amostras. De acordo com a lei de Bragg, o ângulo entre um raio X individual emitido por umTubo de raios Xe seu feixe difratado, bem como a intensidade do feixe difratado, são medidos para obter dados relevantes.


A difração é um fenômeno óptico no qual um feixe de luz se espalha ao encontrar a borda de um material ou passar por uma abertura. No nível atômico,difraçãoocorre quando os elétrons orbitando o núcleo espalham a luz de forma coerente com base em seu número. Em materiais cristalinos e policristalinos, o arranjo periódico dos átomos leva à interferência com a luz de comprimento de onda curto, resultando em padrões de difração.

X-ray tube

Emdifratômetro de raios X em pó, a geometria de Bragg-Brentano é uma das configurações mais comumente usadas, que se baseia em múltiplos componentes móveis para detectar os raios X dispersos secundários gerados pela amostra, a fim de obter um padrão de difração completo. Seguindo a lei de Bragg, quando o primárioRaio XO feixe interage com a amostra, difrata e gera um feixe secundário que pode ser detectado pelo detector. Isto resulta em um padrão de difração exibindo a estrutura cristalográfica característica da amostra.

diffraction






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