Estrutura fina de absorção de raios X (XAFS)

O espectrômetro XAFS atinge qualidade de dados de nível síncrotron com fluxo superior a 4 milhões de fótons/s/eV.<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1 a 2 meses
  • 100 unidades por ano

ParâmetroDescrição
Desempenho abrangenteFaixa de energia4,5-25 keV
Modo de Aquisição de EspectroModo de transmissão
Fluxo de fótons na amostra>4×10⁶ fótons/(s·eV)
Resolução de EnergiaXANES: 0,5-1,5 eV  EXAFS: 1,5-10 eV
 Caminho de raios XSistema de purga de hélio para minimizar a absorção de ar.
RepetibilidadeDesvio de energia reproduzível < 50 meV
EstruturaA configuração de círculo Rowland duplo elimina a necessidade
para comutação da fonte de luz durante medições XAFS.
Utilizando uma única fonte de raios X XAFS dedicada para gerar um feixe duplo de raios X,
O sistema fornece dois raios X monocromáticos em termos energéticos.
através de círculos de Rowland duplos e monocromadores duplos.
Isso possibilita a caracterização simultânea de dois elementos metálicos.
dentro da mesma amostra, permitindo análises paralelas.
 das estruturas atômicas locais de ambos os elementos metálicos.
Fonte de raios XPoder2,0 kW; Alta tensão: 10-40 kV; Corrente: 1-50 mA
AlvoPadrão com alvos de W/Mo; outros materiais de alvo disponíveis como opcionais.
MonocromadorTipoCristal analisador esférico com raio de curvatura de 500 mm e dimensões de 102 mm.
DetectorTipoSDD de grande área com uma área ativa de 150 mm²
 Configurações adicionais Trocador de amostrasTrocador de amostras de 18 posições para testes automatizados contínuos de múltiplas amostras.
 Célula de Amostragem In SituCélulas in situ para diversas condições: eletrocatálise,
campos multifísicos com variação de temperatura e testes mecânicos
Cristal analisadorMonocromador de cristal especializado para análise de elementos específicos.


Principais vantagens:

Fluxo de fótons mais elevado: Nosso produto oferece um fluxo de fótons superior a 4.000.000 fótons/s/eV, proporcionando uma eficiência de aquisição de espectro várias vezes maior do que sistemas comparáveis. Isso permite uma qualidade de dados equivalente à de fontes de radiação síncrotron.

Estabilidade excepcional: O instrumento apresenta excelente estabilidade de intensidade de luz monocromática, com variações inferiores a 0,1%. A deriva de energia reprodutível durante aquisições repetidas é mantida abaixo de 50 meV.

Limite de detecção de 1%: A combinação de alto fluxo, otimização superior do caminho óptico e estabilidade excepcional da fonte garante a aquisição de dados EXAFS de alta qualidade, mesmo para concentrações elementares tão baixas quanto 1%.

Princípio do instrumento:

O espectrômetro de estrutura fina de absorção de raios X (XAFS) é uma ferramenta poderosa para investigar a estrutura atômica e eletrônica local de materiais. Ele é amplamente aplicado em diversos campos importantes, incluindo catálise, pesquisa energética e nanociência.

X-ray absorption fine structure

Geometria de teste do monocromador de laboratório XES

XAFS


Geometria de teste XAFS do monocromador de laboratório

x-ray diffractometer


Dados de manganês (Mn) e dados XAFS da borda K do Mn: consistentes com a qualidade da fonte de radiação síncrotron.

X-ray absorption fine structure


Dados do espectro de emissão Kβ da amostra de ferro (Fe): XES núcleo-a-núcleo e XES valência-a-núcleo

Dados de teste

Dados EXAFS da folha

XAFS


Aplicações

Este espectrômetro XAFS encontra ampla aplicação, permitindo que os clientes façam descobertas inovadoras em diversos campos:

Nova Energia: Utilizada no estudo de células a combustível, materiais para armazenamento de hidrogênio, baterias de íon-lítio, etc. Permite analisar as mudanças dinâmicas no estado de valência e no ambiente de coordenação dos átomos centrais durante processos catalíticos.

Catálise Industrial: Aplicável a áreas de pesquisa como catálise de nanopartículas e catálise de átomo único. Permite caracterizar a morfologia de catalisadores em suportes e suas interações com o material de suporte.

Ciência dos Materiais: Empregada na caracterização de diversos materiais, no estudo de sistemas complexos e estruturas desordenadas, bem como na investigação das propriedades de materiais de superfície e interface.

Ciências Ambientais: Pode ser utilizada para analisar a contaminação por metais pesados ​​em amostras como solo e água, determinando o estado de valência e a concentração dos elementos.

Biomacromoléculas: Podem ser usadas para estudar a estrutura atômica local em torno de centros metálicos em metalobiomoléculas..

x-ray diffractometer

Sobre nós

Desde 2013, a Tongda Technology estabeleceu uma parceria estratégica com o grupo de pesquisa liderado pelo Acadêmico Chen Xiaoming, da Academia Chinesa de Ciências. A estação de trabalho especializada, criada em conjunto, proporcionou uma base sólida para que a empresa aprofundasse continuamente sua presença na área de análise de raios X. Como principal contratada do Projeto de Desenvolvimento de Instrumentos e Equipamentos Científicos de Grande Porte, iniciativa do Ministério da Ciência e Tecnologia, a empresa colaborou com sete instituições de pesquisa, incluindo a Universidade Sun Yat-sen e o Instituto de Tecnologia da Computação de Shenyang, ambos vinculados à Academia Chinesa de Ciências, ao longo de oito anos de esforços coordenados. Em 2021, lançou com sucesso o primeiro difratômetro de raios X de cristal único produzido no país, com direitos de propriedade intelectual totalmente independentes, rompendo com a longa dependência de instrumentos importados nessa área.

Em termos de estrutura de talentos, a proporção de pessoal de P&D na empresa chega a 30%, superando significativamente a média do setor. No que diz respeito à propriedade intelectual, a empresa acumulou até o momento 23 patentes e 7 direitos autorais de software. Do ponto de vista do portfólio de produtos, estabeleceu uma matriz abrangente de instrumentos analíticos de raios X, que inclui difratômetros da série TD, difratômetros de bancada, espectrômetros de fluorescência de raios X, difratômetros de monocristal, orientadores de cristal e analisadores de cristal.

Em termos de integração tecnológica, o difratômetro totalmente automático Tongda AI integra profundamente a inteligência artificial com a tecnologia robótica. O equipamento é equipado com um braço robótico de alta precisão que pode lidar automaticamente com a coleta e análise de diversos tipos de amostras, incluindo pós, filmes finos e materiais a granel. Através de um aplicativo móvel, é possível operar remotamente, e o sistema automático de abertura e fechamento da porta aumenta significativamente a segurança e a conveniência durante a operação. A arquitetura modular também oferece ampla flexibilidade para futuras expansões funcionais e atualizações de manutenção.

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