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O difratômetro de raios X TD-5000 quebra o monopólio internacional em instrumentos científicos de alta tecnologia. Essa inovação chinesa oferece precisão excepcional (exatidão de 0,0001°) e recursos avançados de detecção, auxiliando pesquisadores nas áreas farmacêutica, de ciência dos materiais e química por meio de análises estruturais abrangentes.

O Difratômetro de Raios X de Cristal TD-5000 é um instrumento de alto desempenho desenvolvido pela Dandong Tongda Technology. Aprovado no âmbito do Projeto Nacional de Desenvolvimento de Instrumentos e Equipamentos Científicos Chave da China, ele preenche uma lacuna crítica no mercado doméstico neste campo. Sua função principal é determinar a estrutura espacial tridimensional e a distribuição da densidade eletrônica de substâncias cristalinas — incluindo compostos inorgânicos, compostos orgânicos e complexos metálicos —, além de analisar estruturas de materiais especiais, como cristais geminados, estruturas moduladas incomensuravelmente e quasicristais. Ele mede com precisão a estrutura espacial tridimensional precisa de novos compostos cristalinos (incluindo comprimentos de ligação, ângulos de ligação, configuração, conformação e densidade eletrônica de ligação) e o arranjo real das moléculas dentro da rede cristalina. O sistema fornece informações estruturais abrangentes, como parâmetros de célula unitária, grupo espacial, estrutura molecular, ligações de hidrogênio intermoleculares e interações fracas, e configuração/conformação molecular. É amplamente utilizado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais. Tecnologia de núcleo: uma dupla revolução em precisão e inteligência (1) O “Olho Mecânico” com Posicionamento em Nível Atômico Difratômetro concêntrico de quatro círculos: supera as limitações tradicionais de deslocamento mecânico, mantendo um centro rotacional constante para garantir que os erros de coordenadas do ponto de difração permaneçam abaixo do nível nanométrico. Detector PILATUS: Combina tecnologia de contagem de fótons individuais com pixels ultrafinos de 172 μm. Alcança taxas de quadros de até 20 Hz, com capacidade de supressão de ruído 3 vezes maior do que os detectores CCD convencionais. (2) Fluxo de trabalho de circuito fechado totalmente inteligente Controle PLC One-Touch: automatiza todo o processo, desde o posicionamento do cristal até a aquisição de dados, reduzindo o tempo de operação manual em 90%. Sistema de aprimoramento criogênico: possui controle de temperatura de precisão de ±0,3 K (100K–300K), aumentando a intensidade do sinal para cristais de difração fraca em 50% com consumo de nitrogênio líquido de apenas 1,1–2 L/h. (3) Dupla garantia: segurança e expansibilidade Intertravamento de porta de chumbo + proteção contra vazamentos (≤0,12 µSv/h), excedendo os padrões nacionais de segurança. Óptica de foco multicamadas opcional (alvo duplo Mo/Cu), permitindo análise em larga escala, desde produtos farmacêuticos de pequenas moléculas até minerais com grandes células unitárias. O advento do Difratômetro de Raios X de Cristal TD-5000 representa mais do que um avanço instrumental — ele marca a era em que os equipamentos de pesquisa científica de ponta da China alcançam oficialmente a definição de precisão autônoma. Até 2025, este sistema já havia atendido mais de 30 instituições líderes em áreas como química, ciência dos materiais e aeroespacial. À medida que os cristais revelam os segredos da vida sob o olhar investigativo de instrumentos desenvolvidos internamente, o "olho científico que discerne a essência da matéria" da China agora brilha com uma clareza impressionante.

Destaque do produto: Soluções de análise de cristais por raios X da Dandong Tongda A Dandong Tongda Science and Technology apresenta seu avançado equipamento de análise de cristais por raios X, oferecendo precisão e confiabilidade para aplicações industriais. O analisador de cristais por raios X da série TDF combina recursos analíticos avançados com confiabilidade de nível industrial. Com quatro janelas operacionais e tecnologia de controle PLC, ele atende a setores de manufatura de ponta, incluindo inspeção de wafers semicondutores, avaliação de tensão em componentes aeroespaciais e processamento de cristais a laser. Nossos Orientadores de Cristal por Raios X (TYX-200/TYX-2H8) permitem a medição rápida e precisa dos ângulos de corte de cristais com exatidão de até ±30 segundos de arco. Capazes de manusear amostras de até 30 kg, esses instrumentos suportam o corte direcional de cristais piezoelétricos, ópticos, a laser e semicondutores. Ambas as linhas de produtos utilizam tecnologia de difração de raios X não destrutiva, substituindo os métodos radioativos tradicionais e, ao mesmo tempo, melhorando a eficiência e a precisão do processamento para pesquisa e fabricação de materiais cristalinos.

O difratômetro de raios X de cristal único TD-5000, da Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd., oferece precisão excepcional (0,0001°), eficiência e segurança. Equipado com um goniômetro kappa de quatro círculos e detector PILATUS, ele permite análises precisas da estrutura cristalina 3D para ciência dos materiais, indústria farmacêutica e geologia, demonstrando a inovação de ponta da China em instrumentos de medição.

O analisador de cristais por raios X da série TDF da Dandong Tongda representa um avanço significativo da China em instrumentos analíticos de alta tecnologia, desenvolvidos internamente. Ele oferece análises de estrutura cristalina precisas, seguras e confiáveis ​​para pesquisa e desenvolvimento em ciência de materiais e produtos farmacêuticos em todo o mundo.

Os orientadores de cristal por raios X da Dandong Tongda (precisão de ±30 segundos de arco, capacidade de carga de 30 kg) proporcionam orientação precisa para cristais piezoelétricos, ópticos, laser e semicondutores. Com modelos e plataformas de amostra especializados, esses sistemas dão suporte à pesquisa e fabricação de cristais em todo o mundo, consolidando o reconhecimento internacional dos instrumentos de precisão chineses.

Os orientadores de cristal por raios X da Dandong Tongda (precisão de ±30 segundos de arco, capacidade de carga de 30 kg) proporcionam orientação precisa para cristais piezoelétricos, ópticos, laser e semicondutores. Com modelos e plataformas de amostra especializados, esses sistemas dão suporte à pesquisa e fabricação de cristais em todo o mundo, consolidando o reconhecimento internacional dos instrumentos de precisão chineses.

A Dandong Tongda, fabricante chinesa líder, produz orientadores de cristal de raios X avançados. Utilizando difração de raios X, esses instrumentos permitem a medição precisa do ângulo de corte e o corte direcional de diversos cristais. Modelos importantes como o TYX-200 e o TYX-2H8 oferecem alta precisão (±30″), grande capacidade de amostra, operação intuitiva e detecção eficiente. Amplamente utilizados nas áreas de semicondutores, óptica e pesquisa, esses instrumentos de classe mundial são certificados, patenteados e exportados globalmente.

O difratômetro de cristal único de raios X TD-5000 é usado principalmente para determinar a estrutura espacial tridimensional e a densidade de nuvem de elétrons de substâncias cristalinas, como complexos inorgânicos, orgânicos e metálicos, e para analisar a estrutura de materiais especiais, como cristais gêmeos, não proporcionais, quasicristais, etc. Determine o espaço tridimensional preciso (incluindo comprimento de ligação, ângulo de ligação, configuração, conformação e até mesmo densidade de elétrons de ligação) de novas moléculas compostas (cristalinas) e o arranjo real de moléculas na rede; Ele pode fornecer informações sobre os parâmetros da célula cristalina, grupo espacial, estrutura molecular do cristal, ligação de hidrogênio intermolecular e interações fracas, bem como informações estruturais, como configuração e conformação molecular. É amplamente usado em pesquisas analíticas em cristalografia química, biologia molecular, farmacologia, mineralogia e ciência dos materiais.

Os acessórios de fibra são testados quanto à sua estrutura cristalina única usando o método de difração de raios X (transmissão). Teste a orientação da amostra com base na cristalinidade da fibra e na largura de meio pico das fibras. Este tipo de acessório é geralmente instalado em um difratômetro de grande angular e é usado principalmente para estudar a textura de filmes finos no substrato, executar detecção de fase cristalina, orientação, teste de estresse e outros testes.