O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700, com todas as vantagens do difratômetro de raios X TD-3500, é equipado com um detector de matriz de alto desempenho. Comparado a detectores de cintilação ou detectores proporcionais, a intensidade do cálculo de difração pode ser aumentada em várias dezenas de vezes, e padrões de difração completos de alta sensibilidade e alta resolução e maior intensidade de contagem podem ser obtidos em um período de amostragem mais curto. O difratômetro de raios X de alta resolução TD-3700 suporta tanto métodos convencionais de varredura de dados de difração quanto métodos de varredura de dados de transmissão. A resolução do modo de transmissão é muito maior do que a do modo de difração, o que é adequado para análise estrutural e outros campos. O modo de difração tem sinais de difração fortes e é mais adequado para identificação de fase de rotina no laboratório. Além disso, no modo de transmissão, a amostra de pó pode estar em quantidades vestigiais, o que é adequado para aquisição de dados em casos em que o tamanho da amostra é relativamente pequeno e não atende aos requisitos do método de difração para preparação de amostra.
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